【技术实现步骤摘要】
用于监测和/或确定测量探头的状况的改进的方法及装置
本专利技术涉及一种用于监测和/或确定测量探头的状况的改进的方法和装置,所述测量探头适于测量处理材料的至少一个特性,比如离子敏感测量探头,尤其是pH测量探头、氧测量探头、或CO2测量探头。更特别地,本专利技术涉及一种激励装置,所述激励装置尤其被用来测量测量探头的测量电路的阻抗。
技术介绍
工业过程、例如在化学和制药业、纺织业、食品和饮料工业、纸张和纤维素加工中、或水处理和废水处理领域中的监测和控制是基于过程变量的借助于合适的测量探头所确定的测量结果的。根据文献《ProcessMeasurementSolutionsCatalog2005/06》(Mettler-ToledoGmbH,CH-8902Urdorf,Switzerland,第8和9页),一种完整的测量系统由壳体、测量探头、线缆和测量结果转换器(也被称作发送器)组成。借助于壳体,测量探头与待测量或待监测的过程接触,例如通过将探头浸入处理材料中并被保持在那里而使两者接触。测量探头用来测量过程的特定的特性。测量信号通过线缆被传输给发送器,所述发送器与过程控制系 ...
【技术保护点】
1.一种测量系统(8),所述测量系统包括测量探头(1),所述测量探头用于与处理材料(6)接触地使用,所述测量系统包括:‑电极(EL),所述电极设置有感测元件,所述感测元件布置成向测量信号电路(19)传输测量信号,所述电极的电压在与所述电极与处理材料接触时与处理材料的至少一个特性相关;‑信号处理单元(OP),所述信号处理单元适于在测量探头的运行过程中根据所述测量信号确定与所述处理材料的所述至少一个特性相关的测量量;‑信号源(SQ2),所述信号源构造成在验证阶段期间向测试信号电路(20)传输测试信号(SIG);‑耦合元件(Q2),所述耦合元件布置成确保测量信号电路(19)与测试 ...
【技术特征摘要】
2017.07.17 EP 17181636.61.一种测量系统(8),所述测量系统包括测量探头(1),所述测量探头用于与处理材料(6)接触地使用,所述测量系统包括:-电极(EL),所述电极设置有感测元件,所述感测元件布置成向测量信号电路(19)传输测量信号,所述电极的电压在与所述电极与处理材料接触时与处理材料的至少一个特性相关;-信号处理单元(OP),所述信号处理单元适于在测量探头的运行过程中根据所述测量信号确定与所述处理材料的所述至少一个特性相关的测量量;-信号源(SQ2),所述信号源构造成在验证阶段期间向测试信号电路(20)传输测试信号(SIG);-耦合元件(Q2),所述耦合元件布置成确保测量信号电路(19)与测试信号电路(20)之间的电隔离。2.根据权利要求1所述的测量系统,其特征在于,所述耦合元件(Q2)布置成使所述测试信号(SIG)供送给电感元件,所述电感元件对应地生成改变测量信号电路中的测量信号的电磁场。3.根据权利要求2所述的测量系统,其特征在于,所述耦合元件(Q2)包括变压器,所述变压器设置有:-初级绕组,所述初级绕组连接在测试信号电路(20)与第二接地连接部(GC2)之间;和-次级绕组,所述次级绕组连接在测量信号电路(19)与信号处理单元(OP)之间,其中,所述...
【专利技术属性】
技术研发人员:D·荣戈,
申请(专利权)人:梅特勒托莱多有限公司,
类型:发明
国别省市:瑞士,CH
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