【技术实现步骤摘要】
一种用于衰减全内反射色谱仪的上样装置
本技术属于光谱仪器领域,具体涉及一种用于衰减全内反射光谱仪的的上样装置。
技术介绍
红外光谱分析可用于研究分子的结构和化学键,也可以作为表征和鉴别化学物种的方法,还可以依照其特征吸收峰的强度来检测混合物中各组分的含量,具有高灵敏度、试样用量少、能分析各种状态试样等的特点。尤其是衰减全内反射色谱仪,因其具有无需制样,水干扰小的特点,极大地提高了红外色谱仪的性能,目前已成为红外光谱仪的主导产品,使许多采用透射红外光谱技术无法制样或样品制作过程十分复杂、难度大的检测分析成为可能。但衰减全内反射色谱仪在进行液体定量或定性分析过程中,仍存在以下缺点;1、ATR附件清洗或拉制样品薄膜难度较大,容易磨损晶体反射表面,破坏光路,造成信噪比差,影响仪器检测效果。2、待测样品与ATR附件晶体反射表面容易接触不紧密,无法对易挥发、低沸点以及不能在晶体的反射面上形成液层的高沸点液体进行有效的定性或定量分析。为了克服常规衰减全内反射色谱仪上述缺点,提高其灵敏度和重复性,现有技术中CN205262955U专利公开了一种衰减全发射的红外测试装置,利用测试上 ...
【技术保护点】
1.一种用于衰减全内反射色谱仪的上样装置,其特征在于所述上样装置为柱状的中空构件(1)固定安放在衰减全内反射色谱仪的ATR晶体支架板上,与ATR晶体支架板形成容纳腔(2),其底端内切圆半径应大于ATR晶体反射表面的外切圆半径,且小于或等于顶端内切圆半径。
【技术特征摘要】
1.一种用于衰减全内反射色谱仪的上样装置,其特征在于所述上样装置为柱状的中空构件(1)固定安放在衰减全内反射色谱仪的ATR晶体支架板上,与ATR晶体支架板形成容纳腔(2),其底端内切圆半径应大于ATR晶体反射表面的外切圆半径,且小于或等于顶端内切圆半径。2.根据权利要求1所述的上样装置,其特征在于,所述中空构件(1)底端设有环状防漏部件(11),其内环直径大于ATR晶体与ATR晶体支架板横切面直径,其底部与ATR晶体支架板紧密连接,阻止待测样品往容纳腔(2)外渗透。3.根据权利要求2所述的上样装置,其特征在于,所述环状防漏部件(11)底部设有纹路,并与ATR晶体支架板表面纹路相咬合。4.根据权利要求2所述的上样装置,其特征在于,所述中空构件(1)顶端设有带有加样孔(13)的顶盖(12),其加样...
【专利技术属性】
技术研发人员:唐懿挺,罗祖秀,
申请(专利权)人:成都康弘生物科技有限公司,
类型:新型
国别省市:四川,51
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