一种单侧夹具的S参数提取方法技术

本发明专利技术公开了一种单侧夹具的S参数提取方法，属于S参数提取领域，包括如下步骤：步骤1：测量单侧夹具端接开路或者短路的S参数；步骤2：将S参数进行时域变换，得到时域参数；步骤3：通过时域门截取，得到夹具的反射参数

A Method for Extracting S-parameters of Unilateral Fixture

The invention discloses a method for extracting S parameters of unilateral fixture, which belongs to the field of S parameters extraction, and comprises the following steps: step 1: measuring S parameters of unilateral fixture open circuit or short circuit; step 2: time domain transformation of S parameters to obtain time domain parameters; step 3: intercepting through time domain gates to obtain the reflective parameters of fixture.

【技术实现步骤摘要】
一种单侧夹具的S参数提取方法
本专利技术属于S参数提取领域，具体涉及一种单侧夹具的S参数提取方法。
技术介绍
随着芯片、天线等微波器件的发展，对此类器件的S参数测试要求越来越高。针对此类器件的S参数测试，通常使用探针或天线与矢量网络分析仪相连，进行测试，但是由于探针和天线的引入，带来了测量误差。现有消除探针误差的方法，主要为校准，校准是通过标准件，通常有开路标准、短路标准、直通标准、传输线标准等，结合矢量网络分析仪的校准软件，实现对校准平面的误差修正。现有消除天线误差的方法，主要为响应修正。响应修正属于退化的校准，通过直通连接，来消除测量中的传输误差。校准精度高，但是存在缺点：1、需要专门的校准件；2、校准过程复杂，特别是探针情况下，每次扎针都会花费大量时间；3、对操作技术水平要求高。响应修正方法简单，但是也存在缺点：仅修正了传输误差的影响，匹配、方向性、反射跟踪等误差没有修正。
技术实现思路
针对现有技术中存在的上述技术问题，本专利技术提出了一种单侧夹具的S参数提取方法，设计合理，克服了现有技术的不足，具有良好的效果。为了实现上述目的，本专利技术采用如下技术方案：一种单侧夹具的S参数提本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种单侧夹具的S参数提取方法，其特征在于：包括如下步骤：步骤1：测量单侧夹具端接开路或者短路的S参数；将单侧夹具视为一个双端口网络，并在被测件一侧连接反射系数为Γ的开路或短路后，利用梅森公式，得到：

【技术特征摘要】
1.一种单侧夹具的S参数提取方法，其特征在于：包括如下步骤：步骤1：测量单侧夹具端接开路或者短路的S参数；将单侧夹具视为一个双端口网络，并在被测件一侧连接反射系数为Γ的开路或短路后，利用梅森公式，得到：其中，S11为单侧夹具端接开路或短路的整体S参数；为单侧夹具的S参数；Γ为开路或短路的反射参数；其中，S11为整体S参数，通过矢量网络分析仪测量得到；若连接开路，则Γ＝1；若连接短路，则Γ＝-1；对于无源的器件，有互易特性，即：步骤2：将S参数进行时域变换，得到时域参数；时域变换设置变换后的起始时间为-1ns，终止时间为5ns，KaiserBessel窗参数设置为5，并选取低通模式，并将...

【专利技术属性】
技术研发人员：庄志远，袁国平，梁胜利，李树彪，郭永瑞，
申请(专利权)人：中电科仪器仪表有限公司，
类型：发明
国别省市：山东,37