一种存储元数据损坏模拟方法、装置、终端及存储介质制造方法及图纸

技术编号:20160185 阅读:40 留言:0更新日期:2019-01-19 00:12
本申请实施例提供一种存储元数据损坏模拟方法、装置、终端及存储介质,包括:获取所述元数据在磁盘阵列上的地址;根据所述地址设置测试文件的写入大小和写入长度;将所述测试文件写入元数据在磁盘阵列上的地址;查看存储事件日志是否有元数据损坏的错误信息:是,则判定元数据损坏模拟成功;否,则判定元数据损坏模拟失败。本发明专利技术能够自动精确模拟元数据损坏,进而使测试服务器元数据恢复功能成为可能。

【技术实现步骤摘要】
一种存储元数据损坏模拟方法、装置、终端及存储介质
本专利技术涉及服务器测试
,具体涉及一种存储元数据损坏模拟方法、装置、终端及存储介质。
技术介绍
在存储MCS系统上,每个卷上都分为数据和元数据,数据是指外部IO写入数据块中的实际数据,而元数据指用来描述每个数据块特征的系统数据,诸如数据块大小、数据块的分布信息、数据结构信息等等,元数据为访问数据块提供了索引在存储MCS系统上,提供了卷元数据损坏时可根据数据块恢复元数据的功能,最大限度的保证了数据可靠性,但对该功能没有有效的测试方法,因为无法模拟出元数据损坏的场景。对卷的任何操作只能作用在卷的数据部分,无法操作元数据内容。
技术实现思路
针对现有技术的不足,本专利技术提供一种存储元数据损坏模拟方法、装置、终端及存储介质,以解决上述技术问题。第一方面,本申请实施例提供一种存储元数据损坏模拟方法,所述方法包括:获取所述元数据在磁盘阵列上的地址;根据所述地址设置测试文件的写入大小和写入长度;将所述测试文件写入元数据在磁盘阵列上的地址;查看存储事件日志是否有元数据损坏的错误信息:是,则判定元数据损坏模拟成功;否,则判定元数据损坏模拟失败。结本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种存储元数据损坏模拟方法,其特征在于,所述方法包括:获取所述元数据在磁盘阵列上的地址;根据所述地址设置测试文件的写入大小和写入长度;将所述测试文件写入元数据在磁盘阵列上的地址;查看存储事件日志是否有元数据损坏的错误信息:是,则判定元数据损坏模拟成功;否,则判定元数据损坏模拟失败。

【技术特征摘要】
1.一种存储元数据损坏模拟方法,其特征在于,所述方法包括:获取所述元数据在磁盘阵列上的地址;根据所述地址设置测试文件的写入大小和写入长度;将所述测试文件写入元数据在磁盘阵列上的地址;查看存储事件日志是否有元数据损坏的错误信息:是,则判定元数据损坏模拟成功;否,则判定元数据损坏模拟失败。2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述获取元数据在磁盘阵列上的地址包括:利用lsmdisklba命令查询所述元数据所在卷在相应磁盘阵列上的开始逻辑块地址;获取元数据所在卷的类型;根据所述开始逻辑块地址和所述类型获取元数据的逻辑块地址。3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据地址设置测试文件的写入大小和写入长度包括:判断测试文件是否能够覆盖元数据地址:是,则判定所述测试文件可用;否,则调节所述测试文件的写入大小和写入长度。4.一种存储元数据损坏模拟方法,其特征在于,所述装置包括:地址获取单元,配置用于获取所述元数据在磁盘阵列上的地址;文件设置单元,配置用于根据所述地址设置测试文件的写入大小和写入长度;文件写入单元,配置用于将所述测试文件...

【专利技术属性】
技术研发人员:高月峰
申请(专利权)人:郑州云海信息技术有限公司
类型:发明
国别省市:河南,41

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