一种测交法制造技术

本发明专利技术公开了一种测交法，涉及测绘技术领域。本发明专利技术包括步骤一：获取两控制点A和B的坐标；步骤二：在A、B点之外的任意地方C架设测量仪器；步骤三：通过测量仪器测量C点至B点的距离m及夹角∠ACB；步骤四：计算C点坐标。本发明专利技术通过在两不能相互通视的测控点A和B以外架设测量仪器在未知点C，并通过测量仪器测量点C至点B的距离m以及夹角∠ACB，并通过距离m以及夹角∠ACB计算C点坐标，中间不需要对测量仪器实施对中，在测量过程中解决控制点不通视的精确测量问题；减少在测量过程中的架设仪器所产生的误差，提高测量效率和测量精度。

【技术实现步骤摘要】
一种测交法
本专利技术属于测绘
，特别是涉及一种测交法。
技术介绍
现在工业、医疗和科技等建设过程中，很多大型设备安装需要准确定位，这就需要测绘工作者进行测量放线，使用高精度测绘仪器实施精准定位，比如1秒级或0.5秒级的全站仪，1秒级的测距精度是1+1.5ppm,0.5秒级的测距精度是0.6+1ppm。在实践中还存在因素对误差的影响，尤其是换站所产生的误差。在实际测绘过程中，常遇到给定的两测控点不通视(即从一点架设仪器看不到另一点)，这种情况给精确测绘带来麻烦。本专利技术致力于专利技术一种测交法，用于解决现有的测绘过程中两给定测控点不通视不能保证精确测量及放样的问题。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种测交法，通过在两不能相互通视的测控点A和B以外架设测量仪器在未知点C上，并通过测量仪器测量C至点B的距离m以及夹角∠ACB，并通过距离m以及夹角∠ACB计算C点坐标，中间不需要对测量仪器对中，避免了对中过程的误差，解决现有的测绘过程中两给定测控点不通视而不能保证精确测量及放样的问题。为解决上述技术问题，本专利技术是通过以下技术方案实现的：本专利技术为一种测交法，包括如下步骤：步骤一：获取两控制点A和B的坐标；步骤二：在A、B点之外的任意一点C架设测量仪器；步骤三：通过测量仪器测量C点至B点的距离m及夹角∠ACB；步骤四：计算C点坐标。优选地，所述点C至点B的距离与点C至点A点的距离至少一个小于点A至点B的距离。优选地，所述夹角∠ACB为按照定向A点后顺时针方向从控制点A到控制点B的夹角。本专利技术具有以下有益效果：本专利技术通过在两不能相互通视的测控点A和B以外架设测量仪器在未知点C，并通过测量仪器计算点A至点C的距离m以及夹角∠ACB，并通过距离m以及夹角∠ACB计算C点坐标，中间不需要对测量仪器的对中，在测量过程中解决控制点不通视的精确测量问题；减少在测量过程中的架设仪器所产生的误差，提高测量效率和测量精度。当然，实施本专利技术的任一产品并不一定需要同时达到以上所述的所有优点。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例的技术方案，下面将对实施例描述所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1为本专利技术的一种测交法的流程图；图2为本专利技术具体实施方式中A、B、C在坐标系中的示意图；图3为本专利技术具体实施方式中A、B、C在坐标系中求解过程的示意图。具体实施方式下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本专利技术保护的范围。请参阅图1-3所示，本专利技术为一种测交法，包括如下步骤：步骤一：获取两控制点A和B的坐标；步骤二：在A、B点之外的任意一点C架设测量仪器；步骤三：通过测量仪器测量C点至B点的距离m及夹角∠ACB；步骤四：计算C点坐标。其中，点C至点B的距离与点C至点A点的距离至少一个小于点A至点B的距离。其中，夹角∠ACB为按照定向A点后的顺时针方向从控制点A到控制点B的夹角。请参阅图2-3所示；本专利技术中具体的实现过程如下：如图2所示，在平面坐标系中，已知控制点A坐标(x1,y1)和控制点B坐标(x2,y2)，C为测量仪器架设点；其中，BC长度为m和有向左角∠ACB＝a；有向左角就是以CA为起始边顺时针方向的角度，则C点的坐标计算过程如下：如图3所示，过B点沿X轴正方向做BX平行于X轴；以A、B、C三点做外接圆弧，圆心为O；连接0B,过O点分别向线段BC、AB做垂线；则过O点向线段AB做的垂线与线段OB的左向夹角与∠ACB＝a相同；线段AB为s，OB＝s/2/sin(a)，∠OBA＝90-a∠CBX＝∠ABX+∠OBA+∠CBOx0＝x2-m×cos(180-∠CBX)，y0＝y2+m×sin(180-∠CBX)计算测站点C的坐标(x0，y0)，再实施放样的过程，架站所产生的误差对放样成果毫不影响。误差分析过程及结果如下：①和②式对m求导ds≤(1+m)×dm测交法中的测角误差对成果的影响与支站法一致①和②式对a求导(ds)2＝(dx0)2+(dy0)2＝(m×da)2ds＝mxda测交法中的测角误差对成果的影响与支站法一致在实际测绘工作中测交法有以下用途：在城市房屋道路放样定线中可作为支站使用，比较简便、灵活。在布设导线时，起闭点前后运用测交法可节约两站的外业架站时间。在导线超边数时，可在导线中间测站使用测交法，这样可以确保导线精度。在高等级导线网测量中，如需要进行测站点归心改正时，那么在起闭点前后参考运用测交法，可以省略测站点的归心改正，能大量节约人力、物力和时间。在控制点不足地球布设图根控制点时，运用测交法能够更方便，更快捷地布设控制点。值得注意的是，上述系统实施例中，所包括的各个单元只是按照功能逻辑进行划分的，但并不局限于上述的划分，只要能够实现相应的功能即可；另外，各功能单元的具体名称也只是为了便于相互区分，并不用于限制本专利技术的保护范围。另外，本领域普通技术人员可以理解实现上述各实施例方法中的全部或部分步骤是可以通过程序来指令相关的硬件来完成。以上公开的本专利技术优选实施例只是用于帮助阐述本专利技术。优选实施例并没有详尽叙述所有的细节，也不限制该专利技术仅为所述的具体实施方式。显然，根据本说明书的内容，可作很多的修改和变化。本说明书选取并具体描述这些实施例，是为了更好地解释本专利技术的原理和实际应用，从而使所属
技术人员能很好地理解和利用本专利技术。本专利技术仅受权利要求书及其全部范围和等效物的限制。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种测交法，其特征在于，包括如下步骤：步骤一：获取两控制点A和B的坐标；步骤二：在A、B点之外的任意一点C架设测量仪器；步骤三：通过测量仪器测量C点至B点的距离m及夹角∠ACB；步骤四：计算C点坐标。

【技术特征摘要】
1.一种测交法，其特征在于，包括如下步骤：步骤一：获取两控制点A和B的坐标；步骤二：在A、B点之外的任意一点C架设测量仪器；步骤三：通过测量仪器测量C点至B点的距离m及夹角∠ACB；步骤四：计算C点坐标。2.根据权利要...

【专利技术属性】
技术研发人员：管大禹，
申请(专利权)人：安徽三地测绘有限公司，
类型：发明
国别省市：安徽,34