一种检测银离子迁移的工装装置制造方法及图纸

一种检测银离子迁移的工装装置，包括旋转台和支撑架底座；所述旋转台包括四层结构，第一层为圆环形，第二层为半圆筒形，第三层为圆环形，第四层为半球形，所述旋转台的第一层、第二层、第三层和第四层顺序连接；所述支撑架底座为阶梯状圆柱形，支撑架底座的中心设有通孔；所述旋转台的第四层可拆卸的安装在支撑架底座的通孔内；所述旋转台的第四层半球的直径大于支撑架底座的通孔的直径；所述旋转台能够在支撑架底座上水平旋转或倾斜旋转或二者结合旋转。

A Tooling Device for Detecting Silver Ion Migration

A tooling device for detecting silver ion migration includes a rotating platform and a support frame base; the rotating platform comprises four layers of structure, the first layer is circular, the second layer is semi-cylindrical, the third layer is circular, and the fourth layer is hemispherical. The first layer, the second layer, the third layer and the fourth layer of the rotating platform are connected sequentially; the support frame base is a ladder-shaped cylinder, and the support frame is a step-shaped cylinder. The center of the base is provided with through holes; the fourth detachable layer of the rotary table is installed in the through holes of the base of the support frame; the diameter of the fourth hemisphere of the rotary table is larger than the diameter of the through holes of the base of the support frame; the rotary table can rotate horizontally or obliquely on the base of the support frame or rotate in combination with both.

【技术实现步骤摘要】
一种检测银离子迁移的工装装置
本专利技术涉及一种检测银离子迁移的工装装置，属于光学敏感器领域。
技术介绍
红外地球敏感器是航天高轨道各系列卫星的重要部件，其工作原理是产生光电流，用于感应接收扫描结构产生的光栅信号，因此红外地球敏感器是保障高轨道各系列卫星的关键部件。OP604器件(光电三极管)是红外地球敏感器的重要器件，用于航天产品领域的一种光电器件，该器件存在封装密度高、体积小、结构复杂、检测难度大的特点，其外形为圆柱形，直径为1.47mm，光电三极管两电极表面均覆有镀金层，在两电极之间有一层极薄的绝缘层，绝缘层厚度在0.46mm～0.51mm之间。这种器件为890nm以PILL为封装形式的镓铝砷红外三极管，与其他三极管的区别在于圆柱形的本体，其发光两侧各有一个小管脚，尺寸仅为0.33mm。此器件精度要求较高，对检验的要求也相应提高。OP604在使用过程中发生C-E极暗电流变大失效问题，这是由于器件内部采用Ag浆粘接芯片，在水汽、电场及离子粘污的作用下发生的银离子迁移现象(枝晶)，从而导致器件失效。经分析认为，由于该器件的封装结构特殊，无法开展内部水汽含量测试工作，不能在电装前有效剔除该类失效器件。现有技术是在检验环节，增加了筛选试验后的器件镜检要求，使用光学显微镜对筛选试验后的OP604器件进行检查，将存在失效问题的OP604剔除，但由于器件体积小、不易直接夹持固定。针对银离子迁移现象的检测，需要使用光学显微镜检测OP604内部芯片。在检测过程中，电路板属于不规则结构无法平稳的放置到载物台上，因此检验人员只能手持电路板边框检测，手持检测存在问题如下：a.手持边框检测时，显微镜的光源透射到器件内部芯片上，由于内部芯片景深程度不一样，需要随时调整角度，加大了检测难度。b.在高倍显微镜下观看，只要有轻微抖动就会导致镜头难以聚焦；针对间距较小的器件，抖动会造成重复检测或漏检测的现象,对产品存在质量隐患。c.检测出银离子迁移现象后，需要两人配合完成拍照环节操作，在较高放大倍数显微镜下对迁移现象进行拍照，由于检测人员手持电路板边框会有轻微抖动，导致很难捕捉到清晰照片。
技术实现思路
本专利技术要解决的技术问题是：克服现有技术的不足，提供了一种检测银离子迁移的工装装置，用于检测红外地球敏感器OP604器件，本专利技术工装主要用于固定尺寸较小且不便于抓握的电路板，从而使得对OP604器件的检测效果得到提升，该工装可靠性高、操作性强。本专利技术目的通过以下技术方案予以实现：一种检测银离子迁移的工装装置，包括旋转台和支撑架底座；所述旋转台包括四层结构，第一层为圆环形，第二层为半圆筒形，第三层为圆环形，第四层为半球形，所述旋转台的第一层、第二层、第三层和第四层顺序连接；所述支撑架底座为阶梯状圆柱形，支撑架底座的中心设有通孔；所述旋转台的第四层可拆卸的安装在支撑架底座的通孔内；所述旋转台的第四层半球的直径大于支撑架底座的通孔的直径；所述旋转台能够在支撑架底座上水平旋转或倾斜旋转或二者结合旋转。上述检测银离子迁移的工装装置，所述旋转台第一层的圆环轴线、第二层的半圆筒轴线、第三层的圆环轴线和第四层垂直于半球平面且过球心的法线均重合。上述检测银离子迁移的工装装置，所述旋转台和支撑架底座的所有棱边均倒钝(0.2mm～0.40mm)×(40°～50°)。上述检测银离子迁移的工装装置，旋转台的第二层的高度为16mm～20mm。上述检测银离子迁移的工装装置，所述旋转台的第一层设有螺纹孔，用于与外部电路板连接。上述检测银离子迁移的工装装置，所述旋转台安装在支撑架底座上以后，所述检测银离子迁移的工装装置的总高度不小于45mm。上述检测银离子迁移的工装装置，所述旋转台的第四层半球的直径与支撑架底座的通孔的直径之比为1.08～1.2。上述检测银离子迁移的工装装置，所述旋转台的第一层圆环的内直径不小于10mm。上述检测银离子迁移的工装装置，旋转台的第一层、第二层、第三层和第四层为一体成型。上述检测银离子迁移的工装装置，所述旋转台和支撑架底座均采用钛合金制成。本专利技术相比于现有技术具有如下有益效果：(1)本专利技术的工装能够提高OP604器件的检测可操作性，该检测技能改进后提高了检测银离子迁移现象的效率；(2)本专利技术的工装能有效固定电路板边框，避免线束损伤、焊点受力，实现了360°旋转检测，且能够实现0°～30°倾斜效果检测要求，解决了检测人员手持电路板边框轻微抖动造成无法清晰成像的问题；(3)本专利技术的工装能够避免相邻的OP604器件在检测过程中重复检测和漏检测现象，解决了检测人员在高倍光学显微镜底下观看难度，保证每个器件100％都能检测到；(4)本专利技术的工装能有效地避免在检测过程中电路板与光学显微镜镜头的碰撞受损，提高了产品及检测设备的安全系数；(5)本专利技术的工装能实现单人操作，节省检测人员成本，保证了产品质量。附图说明图1为旋转台的俯视图；图2为旋转台的剖视图；图3为支撑架底座的主视图；图4为支撑架底座的剖视图；图5为支撑架底座的俯视图。具体实施方式为使本专利技术的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本专利技术的实施方式作进一步详细描述。一种检测银离子迁移的工装装置，包括旋转台和支撑架底座。旋转台包括四层结构，第一层结构1为圆环形，第二层结构2为半圆筒形，第三层结构3为圆环形，第四层结构4为半球形，旋转台的第一层结构1、第二层结构2、第三层结构3和第四层结构4顺序连接；旋转台第一层结构1的圆环轴线、第二层结构2的半圆筒轴线、第三层结构3的圆环轴线和第四层结构4垂直于半球平面且过球心的法线均重合。旋转台的第一层结构1设有螺纹孔，用于与外部电路板连接。旋转台的第一层结构1圆环的内直径不小于10mm。旋转台第二层结构2的半圆筒高度为16mm～20mm。支撑架底座为阶梯状圆柱形，支撑架底座的中心设有通孔；旋转台的第四层结构4可拆卸的安装在支撑架底座的通孔内，旋转台的第四层结构4半球的直径大于支撑架底座的通孔的直径，具体的旋转台的第四层结构4半球的直径与支撑架底座的通孔的直径之比为1.08～1.2；旋转台能够在支撑架底座上水平旋转或倾斜旋转或二者结合旋转。当旋转台的第四层结构4半球的直径与支撑架底座的通孔的直径之比小于1.08时，旋转台在支撑架底座上能够倾斜旋转的角度很小，倾斜效果不明显，同时倾斜角度过小，在旋转台自身重力的影响下，旋转台可能发生自动旋转回水平原位的现象，即从某个倾斜角度复原为倾斜0°，容易造成整个工装晃动，甚至对被测电路板造成损伤；当旋转台的第四层结构4半球的直径与支撑架底座的通孔的直径之比大于1.2时，一方面第三层结构3圆环容易与支撑架底座外半径较小的部分发生干涉，无法达到最大倾斜效果，另一方面旋转台的倾斜角度过大时，造成整个旋转台及被测电路板的重心偏移过大，容易导致整个工装发生晃动甚至倾倒，危及被测电路板的安全。本专利技术旋转台的第四层结构4半球的直径与支撑架底座的通孔的直径之比，是在考虑了旋转台倾斜效果、倾斜稳定性、工装稳定性、装配工艺性、被测电路板安全性以及工装的结构尺寸与材料的基础上确定的。旋转台安装在支撑架底座上以后，检测银离子迁移的工装装置的总高度不小于45mm。旋转台和支撑架底座的所有棱边均倒钝(0.2mm～0.4mm)×(40°～本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种检测银离子迁移的工装装置，其特征在于：包括旋转台和支撑架底座；所述旋转台包括四层结构，第一层为圆环形，第二层为半圆筒形，第三层为圆环形，第四层为半球形，所述旋转台的第一层、第二层、第三层和第四层顺序连接；所述支撑架底座为阶梯状圆柱形，支撑架底座的中心设有通孔；所述旋转台的第四层可拆卸的安装在支撑架底座的通孔内；所述旋转台的第四层半球的直径大于支撑架底座的通孔的直径；所述旋转台能够在支撑架底座上水平旋转或倾斜旋转或二者结合旋转。

【技术特征摘要】
1.一种检测银离子迁移的工装装置，其特征在于：包括旋转台和支撑架底座；所述旋转台包括四层结构，第一层为圆环形，第二层为半圆筒形，第三层为圆环形，第四层为半球形，所述旋转台的第一层、第二层、第三层和第四层顺序连接；所述支撑架底座为阶梯状圆柱形，支撑架底座的中心设有通孔；所述旋转台的第四层可拆卸的安装在支撑架底座的通孔内；所述旋转台的第四层半球的直径大于支撑架底座的通孔的直径；所述旋转台能够在支撑架底座上水平旋转或倾斜旋转或二者结合旋转。2.根据权利要求1所述的一种检测银离子迁移的工装装置，其特征在于：所述旋转台第一层的圆环轴线、第二层的半圆筒轴线、第三层的圆环轴线和第四层垂直于半球平面且过球心的法线均重合。3.根据权利要求1或2所述的一种检测银离子迁移的工装装置，其特征在于：所述旋转台和支撑架底座的所有棱边均倒钝(0.2mm～0.4mm)×(40°～50°)。4.根据权利要求1或2所述的一种检测银离子迁移的工装装置，...

【专利技术属性】
技术研发人员：王克香，易伶，刘旭力，吴广东，刘豫东，张崇英，李铮，王京伟，林光，张子玉，
申请(专利权)人：北京控制工程研究所，
类型：发明
国别省市：北京,11