The invention discloses a parallelism detection method, a device and a readable storage medium of a structured light camera for testing. The parallelism detection method comprises steps 1: placing the structured light projector in front of the transmittance plane, placing the camera used for testing behind the transmittance plane, which is fitted with a transmittance calibration map; step 2: projecting the structured light spot to the transmittance calibration map on the transmittance plane by the structured light projector, and testing the camera with the structured light to the transmittance plane. Step 3: According to the acquired calibration image, calculate the angle between the photosensitive surface and the translucent calibration map of the structured light camera for testing, as the angle between the photosensitive surface and the translucent plane of the structured light camera for testing. The parallelism detection method can detect the parallelism between the structured light camera and the transparent plane for testing, so that technicians can correct the tilt of the structured light camera before the optical detection of the structured light projector to be tested.
【技术实现步骤摘要】
测试用结构光摄像头的平行度检测方法、装置及可读存储介质
本专利技术涉及结构光领域,尤其涉及测试用结构光摄像头的平行度检测方法、装置及可读存储介质。
技术介绍
随着苹果公司在智能终端上使用FaceID技术,采用结构光模组来做人脸识别、3D感测和VR设备等将会成为未来的主流。结构光模组主要包括结构光投影器和结构光摄像头,结构光投影器负责向被摄物体投射结构光斑斑,结构光摄像头负责对被投射到被摄物体上的结构光斑进行拍摄获取结构光图像,然后,后端处理器通过处理算法来解析拍摄到的结构光图像,以获取被摄物体的三维数据。在结构光投影器生产完成后,厂家需要对结构光投影器的光学性能进行检测,以筛选不良品,在搭建检测平台时,需要将待测结构光投影器放置在一透光平面的前方,将测试用结构光摄像头放置在透光平面的后方,待测结构光投影器向透光平面的正面投射结构光斑斑,测试用结构光摄像头向透光平面的背面拍摄获取结构光图像,再通过计算机算法来对获取的结构光图像进行解析,以得到待测结构光投影器的FOV、0级倾斜、解析力、畸变等数据。在检测过程中,测试用结构光摄像头和透光平面之间的平行度对计算出的检测数 ...
【技术保护点】
1.一种测试用结构光摄像头的平行度检测方法,其特征在于,包括:步骤1:将结构光投影器放置在透光平面的前方,将测试用结构光摄像头放置在透光平面的后方,所述透光平面上贴合有一透光标定图;步骤2:结构光投影器向所述透光平面上的透光标定图投射结构光斑,测试用结构光摄像头向所述透光平面上的透光标定图拍摄,获取标定图像;步骤3:依据获取的标定图像,计算出测试用结构光摄像头的感光面和透光标定图之间的夹角,作为测试用结构光摄像头的感光面和透光平面之间的夹角。
【技术特征摘要】
1.一种测试用结构光摄像头的平行度检测方法,其特征在于,包括:步骤1:将结构光投影器放置在透光平面的前方,将测试用结构光摄像头放置在透光平面的后方,所述透光平面上贴合有一透光标定图;步骤2:结构光投影器向所述透光平面上的透光标定图投射结构光斑,测试用结构光摄像头向所述透光平面上的透光标定图拍摄,获取标定图像;步骤3:依据获取的标定图像,计算出测试用结构光摄像头的感光面和透光标定图之间的夹角,作为测试用结构光摄像头的感光面和透光平面之间的夹角。2.根据权利要求1所述的测试用结构光摄像头的平行度检测方法,其特征在于,步骤3包括:步骤3.1:以测试用结构光摄像头的感光面为XY平面,建立三维直角坐标系XYZ;步骤3.2:依据在透光标定图上选取的构成多边形的至少三个标定点的坐标,计算透光标定图的平面方程;步骤3.3:依据计算出的平面方程,计算测试用结构光摄像头的感光面和透光标定图之间的夹角。3.根据权利要求2所述的测试用结构光摄像头的平行度测试方法,其特征在于,在步骤3.1中,以测试用结构光摄像头的中心光轴作为三维直角坐标系XYZ的Z轴。4.根据权利要求2或3所述的测试用结构光摄像头的平行度测试方法,其特征在于,步骤3.2包括:步骤3.2.1:在透光标定图上选取构成多边形的至少三个标定点,第i标定点对应于测试用结构光摄像头的感光面上的第i′像素点的坐标值为(X′i,Y′i,0);步骤3.2.2:测量透光标定图中第A标定点到测试用结构光摄像头的镜头光心的距离Ha,计算出第A标定点的坐标值(Xa,Ya,Za)为:,其中,(Xo,Yo,0)为测试用结构光摄像头的感光面中心坐标,(X′a,Y′a,0)为第A′像素点的坐标,ha为第A′像素点到镜头光心的距离,且满足,f为测试用结构光摄像头的焦距;步骤3.2.3:计算第i标定点的X坐标值和Y...
【专利技术属性】
技术研发人员:吴慧剑,林挺,
申请(专利权)人:信利光电股份有限公司,
类型:发明
国别省市:广东,44
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