介质电气参数的获取方法、系统、装置及可读存储介质制造方法及图纸

本申请公开了一种介质电气参数的获取方法，应用于PCB板外层，包括：在PCB板上设置两组对照测试阻抗线；其中，两组所述对照测试阻抗线包括绿油开窗的第一阻抗线和绿油全覆盖的第二阻抗线；分别获取两组所述对照测试阻抗线的测试数据；根据两组所述对照测试阻抗线的测试数据，确定所述PCB板外层的介质电气参数。由于本发明专利技术中存在两组介质不同的对照测试阻抗线，通过对比计算每一组的介质电气参数，可以将PCB板外层的多种介质解耦，进而确定每种介质的介质电气参数。与现有技术相比，减少了介质电气参数的计算工作量，进一步提升了整体参数确定的效率。相应的，本申请还公开了一种介质电气参数的获取系统、装置及可读存储介质。

Acquisition method, system, device and readable storage medium of dielectric electrical parameters

This application discloses a method for obtaining dielectric electrical parameters, which is applied to the outer layer of PCB board, including: setting two sets of comparative test impedance lines on PCB board; in which the two sets of comparative test impedance lines include the first impedance line of green oil window opening and the second impedance line of green oil full coverage; obtaining test data of the two sets of comparative test impedance lines respectively; and according to the two sets of comparative test impedance lines mentioned above. The dielectric and electrical parameters of the outer layer of the PCB board are determined by the test data of the test impedance line. Because there are two groups of medium different test impedance lines in the present invention, by comparing and calculating the dielectric electrical parameters of each group, a variety of dielectrics in the outer layer of PCB board can be decoupled, and then the dielectrics electrical parameters of each medium can be determined. Compared with the existing technology, the calculation workload of dielectric electrical parameters is reduced, and the efficiency of determining the overall parameters is further improved. Accordingly, the application also discloses a medium electrical parameter acquisition system, device and readable storage medium.

【技术实现步骤摘要】
介质电气参数的获取方法、系统、装置及可读存储介质
本专利技术涉及存储硬件设计领域，特别涉及一种介质电气参数的获取方法、系统、装置及可读存储介质。
技术介绍
在存储系统中，硬件系统作为整个系统的物理支撑，对系统运行的稳定性和可靠性起到了至关重要的作用。而整个硬件系统中，PCB(Printedcircuitboard，印制电路板)作为绝大部分电子器件的物理承载和连接通道，是硬件系统设计的关键。PCB的材料组成包括绿油、PP和core等介质，他们的电气特性和热稳定性直接决定了PCB对应的性能。在PCB的制造过程中，由于压合时PP层的树脂胶会流入上下两侧的铜线和间隙内，成型后的PP介质的介电常数随着整体含胶量的减少而发生变化。在PCB介质的电气性能研究和分析过程中，需要结合已获取的板内介质厚度和铜箔厚度的数值以及测试结果确定PP和core的电气特性参数。目前，业界主流的对测试板的确定电气参数设计基于正常的PCB层叠结构，由于铜线上下两层的PP和绿油两种介质的电特性都会影响到最终的测试结果，在确定电气参数的过程中需要耦合计算这两种介质的介电常数DK值和介质损耗DF值。为了准确解析确定计算公式，需要设计多种线宽的阻抗测试类型，且确定过程比较复杂，效率较低。因此，如何提供一种解决上述技术问题的方案是目前本领域技术人员需要解决的问题。
技术实现思路
有鉴于此，本专利技术的目的在于提供一种介质电气参数的获取方法、系统、装置及可读存储介质，以便能够高效准确地获取介质电气参数。其具体方案如下：一种介质电气参数的获取方法，应用于PCB板外层，包括：在PCB板上设置两组对照测试阻抗线；其中，两组所述对照测试阻抗线包括绿油开窗的第一阻抗线和绿油全覆盖的第二阻抗线；分别获取两组所述对照测试阻抗线的测试数据；根据两组所述对照测试阻抗线的测试数据，确定所述PCB板外层的介质电气参数。优选的，所述分别获取两组所述对照测试阻抗线的测试数据的过程，具体包括：分别获取两组所述对照测试阻抗线的阻抗和损耗。优选的，所述根据两组所述对照测试阻抗线的测试数据，确定所述PCB板外层的介质电气参数的过程，具体包括：根据两组所述对照测试阻抗线的阻抗和损耗，结合对应的线宽和介质厚度，计算所述PCB板外层的介质电气参数。优选的，所述介质电气参数包括DK值和DF值。优选的，所述根据两组所述对照测试阻抗线的测试数据，确定所述PCB板外层的介质电气参数的过程，具体包括：根据所述第一阻抗线的测试数据，确定所述PCB板外层的PP介质的介质电气参数；根据所述第二阻抗线的测试数据，结合所述PP介质的介质电气参数，确定所述PCB板外层的绿油介质的介质电气参数。本专利技术公开了一种介质电气参数的获取系统，应用于PCB板外层，包括：对象设置模块，用于在PCB板上设置两组对照测试阻抗线；两组所述对照测试阻抗线包括绿油开窗的第一阻抗线和绿油全覆盖的第二阻抗线；数据获取模块，用于分别获取两组所述对照测试阻抗线的测试数据；参数计算模块，用于根据两组所述对照测试阻抗线的测试数据，确定所述PCB板外层的介质电气参数。优选的，所述参数计算模块具体包括：第一计算单元，用于根据所述第一阻抗线的测试数据，确定所述PCB板外层的PP介质的介质电气参数；第二计算单元，用于根据所述第二阻抗线的测试数据，结合所述PP介质的介质电气参数，确定所述PCB板外层的绿油介质的介质电气参数。相应的，本专利技术公开了一种介质电气参数的获取装置，应用于PCB板外层，包括：存储器，用于存储计算机程序；处理器，用于执行所述计算机程序时实现如上文所述介质电气参数的获取方法的步骤。相应的，本专利技术还公开了一种可读存储介质，应用于PCB板外层，所述可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如上文所述介质电气参数的获取方法的步骤。本专利技术公开了一种介质电气参数的获取方法，应用于PCB板外层，包括：在PCB板上设置两组对照测试阻抗线；其中，两组所述对照测试阻抗线包括绿油开窗的第一阻抗线和绿油全覆盖的第二阻抗线；分别获取两组所述对照测试阻抗线的测试数据；根据两组所述对照测试阻抗线的测试数据，确定所述PCB板外层的介质电气参数。由于本专利技术中存在两组介质不同的对照测试阻抗线，通过对比计算每一组的介质电气参数，可以将PCB板外层的多种介质解耦，进而确定每种介质的介质电气参数。与现有技术相比，减少了介质电气参数的计算工作量，进一步提升了整体参数确定的效率。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据提供的附图获得其他的附图。图1为本专利技术实施例中一种介质电气参数的获取方法的步骤流程图；图2为本专利技术实施例中一种介质电气参数的获取系统的结构分布图；图3为本专利技术实施例中一种介质电气参数的获取装置的结构分布图。具体实施方式下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。在存储系统中，硬件系统作为整个系统的物理支撑，对系统运行的稳定性和可靠性起到了至关重要的作用。而整个硬件系统中，PCB作为绝大部分电子器件的物理承载和连接通道，是硬件系统设计的关键。PCB的材料组成包括绿油、PP和core等介质，他们的电气特性和热稳定性直接决定了PCB对应的性能。在PCB的制造过程中，由于压合时PP层的树脂胶会流入上下两侧的铜线和间隙内，成型后的PP介质的介电常数随着整体含胶量的减少而发生变化。在PCB介质的电气性能研究和分析过程中，需要结合已获取的板内介质厚度和铜箔厚度的数值以及测试结果确定PP和core的电气特性参数。目前，业界主流的对测试板的确定电气参数设计基于正常的PCB层叠结构，由于铜线上下两层的PP和绿油两种介质的电特性都会影响到最终的测试结果，在确定电气参数的过程中需要耦合计算这两种介质的DK值和DF值。为了准确解析确定计算公式，需要设计多种线宽的阻抗测试类型，且确定过程比较复杂，效率较低。由于本专利技术中存在两组介质不同的对照测试阻抗线，通过对比计算每一组的介质电气参数，可以将PCB板外层的多种介质解耦，进而确定每种介质的介质电气参数。与现有技术相比，减少了介质电气参数的计算工作量，进一步提升了整体参数确定的效率。本专利技术实施例公开了一种介质电气参数的获取方法，应用于PCB板外层，参见图1所示，包括：S1：在PCB板上设置两组对照测试阻抗线；其中，两组所述对照测试阻抗线包括绿油开窗的第一阻抗线和绿油全覆盖的第二阻抗线；S2：分别获取两组所述对照测试阻抗线的测试数据；S3：根据两组所述对照测试阻抗线的测试数据，确定所述PCB板外层的介质电气参数。可以理解的是，由于两组对照测试阻抗线包括没有绿油介质、仅有PP介质的第一阻抗线和有绿油介质、PP介质两种介质的第二阻抗线，根据第一阻抗线的测试数据可以确定第一阻抗线的介质电气参数，也即没有绿油介质的PCB板外层的介本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种介质电气参数的获取方法，应用于PCB板外层，其特征在于，包括：在PCB板上设置两组对照测试阻抗线；其中，两组所述对照测试阻抗线包括绿油开窗的第一阻抗线和绿油全覆盖的第二阻抗线；分别获取两组所述对照测试阻抗线的测试数据；根据两组所述对照测试阻抗线的测试数据，确定所述PCB板外层的介质电气参数。

【技术特征摘要】
1.一种介质电气参数的获取方法，应用于PCB板外层，其特征在于，包括：在PCB板上设置两组对照测试阻抗线；其中，两组所述对照测试阻抗线包括绿油开窗的第一阻抗线和绿油全覆盖的第二阻抗线；分别获取两组所述对照测试阻抗线的测试数据；根据两组所述对照测试阻抗线的测试数据，确定所述PCB板外层的介质电气参数。2.根据权利要求1所述获取方法，其特征在于，所述分别获取两组所述对照测试阻抗线的测试数据的过程，具体包括：分别获取两组所述对照测试阻抗线的阻抗和损耗。3.根据权利要求2所述获取方法，其特征在于，所述根据两组所述对照测试阻抗线的测试数据，确定所述PCB板外层的介质电气参数的过程，具体包括：根据两组所述对照测试阻抗线的阻抗和损耗，结合对应的线宽和介质厚度，计算所述PCB板外层的介质电气参数。4.根据权利要求3所述获取方法，其特征在于，所述介质电气参数包括DK值和DF值。5.根据权利要求1至4任一项所述获取方法，其特征在于，所述根据两组所述对照测试阻抗线的测试数据，确定所述PCB板外层的介质电气参数的过程，具体包括：根据所述第一阻抗线的测试数据，确定所述PCB板外层的PP介质的介质电气参数；根据所述第二阻抗线的测试数据，结合所述PP介质的介质电气参数...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈兵，
申请(专利权)人：郑州云海信息技术有限公司，
类型：发明
国别省市：河南,41