一种基于全息技术的双光路光学雨量计制造技术

技术编号:20066054 阅读:36 留言:0更新日期:2019-01-14 02:22
本实用新型专利技术公开一种基于全息技术的双光路光学雨量计,包括半导体激光器Ⅰ、扩束准直系统Ⅰ、平行片光全息干板Ⅰ、上层采样区、线阵光电探测器Ⅰ、半导体激光器Ⅱ、扩束准直系统Ⅱ、平行片光全息干板Ⅱ、下层采样区、线阵光电探测器Ⅱ、计算机,本实用新型专利技术为减小单光路雨量计的测量误差,并增大雨量计的采样区间,在该光路系统的下方搭建第二套平行片光采样光路,该光路与其上方的采样光路对等,采样片光相互平行,传播方向相反,用全息再现法获得平行片状光束,不仅改善了采样光束质量,而且有利于整个检测仪器的小型化。

【技术实现步骤摘要】
一种基于全息技术的双光路光学雨量计
本技术涉及一种基于全息技术的双光路光学雨量计,属于光学全息

技术介绍
目前普遍使用的遮挡式光学雨量计在结构上多为单光路的一维和二维检测,而传统的一维遮挡式单光路光学雨量计仍使用光学透镜产生平行片光,由于光学透镜本身及光路结构的限制,需要很大的空间距离才能生成平行片光,无法实现整个检测仪器的小型化,同时雨滴在靠近探测器的一侧测量误差较小,在靠近光源一侧测量误差较大,使得雨滴在采样区中从探测器到光源的测量误差逐渐增大,这就降低了雨滴测量精度,在靠近光源一侧的采样区,因测量误差较大,已无法满足检测需要,所以这部分采样区在检测中不可用,而靠近探测器一侧的采样区测量误差较小,可满足检测需要,因此在实际检测中可用的只有靠近探测器一侧的采样区,这就使得传统光学雨量计存在采样区较小、可靠性较差的缺陷。如何有效的提高一维光学雨量计的测量精度、增加雨滴的采样区间以及尽可能的实现设备的小型化,是工程技术人员急需解决的问题。
技术实现思路
针对现有技术的不足及缺点,并尽可能实现光学雨量计的小型化,本技术提供了一种基于全息技术的双光路光学雨量计,该装置不仅可以有效提高本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种基于全息技术的双光路光学雨量计,其特征在于:包括半导体激光器Ⅰ(1)、扩束准直系统Ⅰ(2)、平行片光全息干板Ⅰ(3)、上层采样区(4)、线阵光电探测器Ⅰ(5)、半导体激光器Ⅱ(6)、扩束准直系统Ⅱ(7)、平行片光全息干板Ⅱ(8)、下层采样区(9)、线阵光电探测器Ⅱ(10)、计算机(11),半导体激光器Ⅰ(1)发出的光束经扩束准直系统Ⅰ(2)后形成与平行片光全息干板Ⅰ(3)夹角为10°的平行光,该平行光照射平行片光全息干板Ⅰ(3)衍射再现发出沿x轴正方向传播的、在y方向上厚度小于1mm的平行片光并照射在线阵光电探测器Ⅰ(5)上,该平行片光构成上层采样区(4),线阵光电探测器Ⅰ(5)与计算...

【技术特征摘要】
1.一种基于全息技术的双光路光学雨量计,其特征在于:包括半导体激光器Ⅰ(1)、扩束准直系统Ⅰ(2)、平行片光全息干板Ⅰ(3)、上层采样区(4)、线阵光电探测器Ⅰ(5)、半导体激光器Ⅱ(6)、扩束准直系统Ⅱ(7)、平行片光全息干板Ⅱ(8)、下层采样区(9)、线阵光电探测器Ⅱ(10)、计算机(11),半导体激光器Ⅰ(1)发出的光束经扩束准直系统Ⅰ(2)后形成与平行片光全息干板Ⅰ(3)夹角为10°的平行光,该平行光照射平行片光全息干板Ⅰ(3)衍射再现发出沿x轴正方向传播的、在y方向上厚度小于1mm的平行片光并照射在线阵光电探测器Ⅰ(5)上,该平行片光构成上层采样区(4),线阵光电探测器Ⅰ(5)与计算机(11)连接;半导体激光器Ⅱ(6)发出的光束经扩束准直系统Ⅱ(7)后形成与平行片光全息干板Ⅱ(8)夹角为10°的平行光,该平行光照射平行片光全息干板Ⅱ(8)衍射再现发出沿x轴负方向传播的、在y方向上厚度小于1mm的平行片光并照射在线阵光电探测器Ⅱ(10)上,该平行片光构成下层采样区(9),线...

【专利技术属性】
技术研发人员:刘庆伟楼宇丽李重光杨力
申请(专利权)人:昆明理工大学
类型:新型
国别省市:云南,53

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