测试线损的方法及装置制造方法及图纸

本公开是关于一种测试线损的方法及装置，包括控制射频测试设备发送第一功率信号；通过所述射频测试设备获取第二功率信号的功率值，所述第二功率信号为所述第一功率信号经过参考线和N‑SMA转接头后输出的信号；通过所述射频测试设备获取第三功率信号的功率值，所述第三功率信号为所述第一功率信号经过所述参考线、连接器和测试线后输出的信号；根据所述第二功率信号的功率值和所述第三功率信号的功率值，确定所述测试线在第一频点的线损值，所述第一频点为所述第一功率信号的频点。通过测量得到的功率值得到线损值，根据本公开实施例的测试线损的方法及装置能够提高线损值的精度。

Method and Device for Testing Line Loss

The present disclosure relates to a method and apparatus for testing line loss, including controlling the radio frequency test equipment to send the first power signal; obtaining the power value of the second power signal through the radio frequency test equipment; the second power signal is the signal output after the first power signal passes through the reference line and the N_SMA adapter; and obtaining the work of the third power signal through the radio frequency test equipment. Rate value, the third power signal is the signal output after the first power signal passes through the reference line, connector and test line; according to the power value of the second power signal and the power value of the third power signal, the line loss value of the test line at the first frequency point is determined, and the first frequency point is the frequency point of the first power signal. The measured power is worth the line loss value, and the method and device for testing the line loss according to the embodiment of the present disclosure can improve the accuracy of the line loss value.

【技术实现步骤摘要】
测试线损的方法及装置
本公开涉及通信
，尤其涉及一种测试线损的方法及装置。
技术介绍
射频相关产品的研发、测试以及生产都需要用到射频测试设备(例如综合测试仪)对移动终端的射频功能进行测试和调试，在进行测试和调试前需要对射频测试设备和测试线(例如，射频线缆)的线损进行测试和校准补偿才能保证对终端设备的测试和调试的准确。相关技术中，测试线的线损可以由短线的线损、射频测试设备的下行内损，以及参考发射功率和测试发射功率确定，误差较大。
技术实现思路
为克服相关技术中存在的问题，本公开提供一种测试线损的方法及装置。根据本公开实施例的第一方面，提供一种测试线损的方法，包括控制射频测试设备发送第一功率信号；通过所述射频测试设备获取第二功率信号的功率值，所述第二功率信号为所述第一功率信号经过参考线和N-SMA转接头后输出的信号；通过所述射频测试设备获取第三功率信号的功率值，所述第三功率信号为所述第一功率信号经过所述参考线、连接器和测试线后输出的信号，所述连接器为用于连接所述参考线和所述测试线的标准元器件；根据所述第二功率信号的功率值和所述第三功率信号的功率值，确定所述测试线在第一频点的线损值，所述第一频点为所述第一功率信号的频点。在一种可能的实现方式中，所述根据所述第二功率信号的功率值和所述第三功率信号的功率值，确定所述测试线在所述第一频点的线损值包括：根据N-SMA转接头的插损值与频点的对应关系，确定与所述第一频点对应的第一插损值；根据连接器的插损值与频点的对应关系，确定与所述第一频点对应的第二插损值；根据所述第一插损值、所述第二插损值、所述第二功率信号的功率值和所述第三功率信号的功率值，确定所述测试线在所述第一频点的线损值。在一种可能的实现方式中，所述方法还包括：通过功率探测设备获取第四功率信号的功率值，所述第四功率信号为所述第一功率信号经过所述参考线和N-N转接头后输出的信号；通过所述射频测试设备获取第五功率信号的功率值，所述第五功率信号为所述第一功率信号经过所述参考线后输出的信号；根据所述第四功率信号的功率值和所述第五功率信号的功率值，确定所述射频测试设备在所述第一频点的下行内损值。在一种可能的实现方式中，所述方法还包括：通过所述功率探测设备获取第六功率信号的功率值，所述第六功率信号为所述功率探测设备探测到的第一功率信号；根据所述第一功率信号的功率值和所述第六功率信号的功率值，确定所述射频测试设备在所述第一频点的上行内损值。在一种可能的实现方式中，在通过所述射频测试设备获取第二功率信号的功率值之前，所述方法还包括：根据所述射频测试设备的下行内损值和所述射频测试设备的上行内损值，对所述射频测试设备进行校准。根据本公开实施例的第二方面，提供一种测试线损的装置，包括控制模块，用于控制射频测试设备发送第一功率信号；第一获取模块，用于通过所述射频测试设备获取第二功率信号的功率值，所述第二功率信号为所述第一功率信号经过参考线和N-SMA转接头后输出的信号；第二获取模块，用于通过所述射频测试设备获取第三功率信号的功率值，所述第三功率信号为所述第一功率信号经过所述参考线、连接器和测试线后输出的信号，所述连接器为用于连接所述参考线和所述测试线的标准元器件；第一确定模块，用于根据所述第二功率信号的功率值和所述第三功率信号的功率值，确定所述测试线在第一频点的线损值，所述第一频点为所述第一功率信号的频点。在一种可能的实现方式中，所述第一确定模块包括：第一确定子模块，用于根据N-SMA转接头的插损值与频点的对应关系，确定与所述第一频点对应的第一插损值；第二确定子模块，用于根据连接器的插损值与频点的对应关系，确定与所述第一频点对应的第二插损值；第三确定子模块，用于根据所述第一插损值、所述第二插损值、所述第二功率信号的功率值和所述第三功率信号的功率值，确定所述测试线在所述第一频点的线损值。在一种可能的实现方式中，所述装置还包括：第三获取模块，用于通过功率探测设备获取第四功率信号的功率值，所述第四功率信号为所述第一功率信号经过所述参考线和N-N转接头后输出的信号；第四获取模块，用于通过所述射频测试设备获取第五功率信号的功率值，所述第五功率信号为所述第一功率信号经过所述参考线后输出的信号；第二确定模块，用于根据所述第四功率信号的功率值和所述第五功率信号的功率值，确定所述射频测试设备在所述第一频点的下行内损值。在一种可能的实现方式中，所述装置还包括：第五获取模块，用于通过所述功率探测设备获取第六功率信号的功率值，所述第六功率信号为所述功率探测设备探测到的第一功率信号；第三确定模块，用于根据所述第一功率信号的功率值和所述第六功率信号的功率值，确定所述射频测试设备在所述第一频点的上行内损值。在一种可能的实现方式中，所述装置还包括：校准模块，用于根据所述射频测试设备的下行内损值和所述射频测试设备的上行内损值，对所述射频测试设备进行校准。根据本公开实施例的第三方面，提供一种测试线损的装置，包括处理器；用于存储处理器可执行指令的存储器；其中，所述处理器被配置为执行上述第一方面的方法。根据本公开实施例的第四方面，提供一种非临时性计算机可读存储介质，当所述存储介质中的指令由处理器执行时，使得处理器能够执行上述第一方面的方法。本公开的实施例提供的技术方案可以包括以下有益效果：在本公开中，根据射频测试设备获取第二功率信号的功率值和射频测试设备获取的第三功率信号的功率值，确定测试线在第一频率的线损值，通过测量得到的功率值得到线损值，提高了线损值的精度。应当理解的是，以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性和解释性的，并不能限制本公开。附图说明此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分，示出了符合本公开的实施例，并与说明书一起用于解释本公开的原理。图1是根据一示例性实施例示出的一种测试线损的方法的流程图。图2a示出本公开实施例的一个示例性的测试系统的结构示意图。图2b示出本公开实施例的一个示例性的测试系统的结构示意图。图2c示出本公开实施例的一个示例性的测试系统的结构示意图。图2d示出本公开实施例的一个示例性的测试系统的结构示意图。图2e示出本公开实施例的一个示例性的测试系统的结构示意图。图3是根据一示例性实施例示出的一种测试线损的方法的流程图。图4是根据一示例性实施例示出的一种测试线损的方法的流程图。图5是根据一示例性实施例示出的一种测试线损的方法的流程图。图6是根据一示例性实施例示出的一种测试线损的装置的框图。图7是根据一示例性实施例示出的一种测试线损的装置的框图。图8是根据一示例性实施例示出的一种用于测试线损的装置的框图。具体实施方式这里将详细地对示例性实施例进行说明，其示例表示在附图中。下面的描述涉及附图时，除非另有表示，不同附图中的相同数字表示相同或相似的要素。以下示例性实施例中所描述的实施方式并不代表与本公开相一致的所有实施方式。相反，它们仅是与如所附权利要求书中所详述的、本公开的一些方面相一致的装置和方法的例子。相关技术中，在实验室中和工厂中，可利用射频测试设备分别对待测对象(例如手机主板)的射频发射功率进行测试，在实验室中确定的参考发射功率可以表示为公式(1)，工厂中测试得到的测试发射功率可以表示为公式(2)，参考发射功率和测试发本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种测试线损的方法，其特征在于，所述方法包括：控制射频测试设备发送第一功率信号；通过所述射频测试设备获取第二功率信号的功率值，所述第二功率信号为所述第一功率信号经过参考线和N‑SMA转接头后输出的信号；通过所述射频测试设备获取第三功率信号的功率值，所述第三功率信号为所述第一功率信号经过所述参考线、连接器和测试线后输出的信号，所述连接器为用于连接所述参考线和所述测试线的标准元器件；根据所述第二功率信号的功率值和所述第三功率信号的功率值，确定所述测试线在第一频点的线损值，所述第一频点为所述第一功率信号的频点。

【技术特征摘要】
1.一种测试线损的方法，其特征在于，所述方法包括：控制射频测试设备发送第一功率信号；通过所述射频测试设备获取第二功率信号的功率值，所述第二功率信号为所述第一功率信号经过参考线和N-SMA转接头后输出的信号；通过所述射频测试设备获取第三功率信号的功率值，所述第三功率信号为所述第一功率信号经过所述参考线、连接器和测试线后输出的信号，所述连接器为用于连接所述参考线和所述测试线的标准元器件；根据所述第二功率信号的功率值和所述第三功率信号的功率值，确定所述测试线在第一频点的线损值，所述第一频点为所述第一功率信号的频点。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述第二功率信号的功率值和所述第三功率信号的功率值，确定所述测试线在所述第一频点的线损值包括：根据N-SMA转接头的插损值与频点的对应关系，确定与所述第一频点对应的第一插损值；根据连接器的插损值与频点的对应关系，确定与所述第一频点对应的第二插损值；根据所述第一插损值、所述第二插损值、所述第二功率信号的功率值和所述第三功率信号的功率值，确定所述测试线在所述第一频点的线损值。3.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：通过功率探测设备获取第四功率信号的功率值，所述第四功率信号为所述第一功率信号经过所述参考线和N-N转接头后输出的信号；通过所述射频测试设备获取第五功率信号的功率值，所述第五功率信号为所述第一功率信号经过所述参考线后输出的信号；根据所述第四功率信号的功率值和所述第五功率信号的功率值，确定所述射频测试设备在所述第一频点的下行内损值。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：通过所述功率探测设备获取第六功率信号的功率值，所述第六功率信号为所述功率探测设备探测到的第一功率信号；根据所述第一功率信号的功率值和所述第六功率信号的功率值，确定所述射频测试设备在所述第一频点的上行内损值。5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，在通过所述射频测试设备获取第二功率信号的功率值之前，所述方法还包括：根据所述射频测试设备的下行内损值和所述射频测试设备的上行内损值，对所述射频测试设备进行校准。6.一种测试线损的装置，其特征在于，所述装置包括：控制模块，用于控制射频测试设备发送第一功率信号；第一获取模块，用于通过所述射频测试设备获取第二功率信号的功率值，所述第二功率信号为所述第一功率信...

【专利技术属性】
技术研发人员：吕小磊，李英俊，杜佳男，
申请(专利权)人：北京小米移动软件有限公司，
类型：发明
国别省市：北京,11