硅晶电池碎片检测装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种硅晶电池碎片检测装置，包括底座，所述底座上安装设有立柱，所述立柱的下部安装设有光源安装座，所述光源安装座上设有用于照射被测硅晶电池碎片的光源；所述立柱的上方设有用于对所述被检测硅晶电池碎片拍照的相机。本实用新型专利技术的硅晶电池碎片检测装置，通过在立柱的上下两侧分别设置相机和光源安装座，光源安装座照射被测硅晶电池碎片底部，以便于相机成像，根据相机成像能够准确检测出被测硅晶电池碎片中的缺陷碎片，具有结构简单和实用性好的优点，能够对硅晶电池碎片进行精确的检测，提高硅晶电池碎片的质量。

Debris Detection Device for Silicon Crystal Batteries

The utility model discloses a silicon crystal battery debris detection device, which comprises a base, on which a column is installed, a light source installation seat is arranged at the lower part of the column, a light source for irradiating the measured silicon crystal battery debris is arranged on the light source installation seat, and a camera for photographing the detected silicon crystal battery debris is arranged above the column. The silicon crystal battery debris detection device of the utility model has the advantages of simple structure and good practicability, and can detect the defective debris in the tested silicon crystal battery debris accurately according to the camera imaging, by setting the camera and light source mounting seat on the upper and lower sides of the column respectively, and illuminating the bottom of the tested silicon crystal battery debris by the light source mounting seat, so as to facilitate camera imaging. The debris can be accurately detected to improve the quality of the debris.

【技术实现步骤摘要】
硅晶电池碎片检测装置
本技术属于利用光学手段来测试和分析材料的
，具体的为一种硅晶电池碎片检测装置。
技术介绍
太阳能电池又称为“太阳能芯片”或“光电池”，是一种利用太阳光直接发电的光电半导体薄片。它只要被满足一定照度条件的光照到，瞬间就可输出电压及在有回路的情况下产生电流。随着太阳能电池行业的不断发展，内业竞争也在不断加剧，大型太阳能电池企业间并购整合与资本运作日趋频繁，国内优秀的太阳能电池生产企业愈来愈重视对行业市场的研究，特别是对产业发展环境和产品购买者的深入研究。正因为如此，一大批国内优秀的太阳能电池品牌迅速崛起，逐渐成为太阳能电池行业中的翘楚。太阳能电池的应用已从军事领域、航天领域进入工业、商业、农业、通信、家用电器以及公用设施等部门，尤其可以分散地在边远地区、高山、沙漠、海岛和农村使用，以节省造价很贵的输电线路。尤其是晶体硅太阳能电池片,设备成本相对较低，光电转换效率也高，在室外阳光下发电比较适宜。但是硅晶电池在生产过程中会产生各种不同形状的碎片，这就需要对其质量进行检测，目前人工检测硅晶电池碎片的工艺具有检测效率低下，漏检率较高，存在很大的质量隐患的缺陷。
技术实现思路
有鉴于此，针对现有技术存在的问题，本技术的目的在于提供一种硅晶电池碎片检测装置。为达到上述目的，本技术提供如下技术方案：一种硅晶电池碎片检测装置，包括底座，所述底座上安装设有立柱，所述立柱的下部安装设有光源安装座，所述光源安装座上设有用于照射被测硅晶电池碎片的光源；所述立柱的上方设有用于对所述被检测硅晶电池碎片拍照的相机。进一步，所述光源采用面板灯。进一步，所述立柱上设有用于调节所述相机位置的相机安装调节机构。进一步，所述相机安装调节机构包括设置在所述立柱上的竖直滑轨和与所述竖直滑轨滑动配合的相机安装座，所述相机安装座上设有与所述竖直滑轨垂直的水平调节杆，所述相机上固定安装设有相机调整块，所述相机调整块旋转配合安装在所述水平调节杆上。进一步，所述光源安装座的上方设有用于输送所述被测硅晶电池碎片的输送台。进一步，还包括用于检测所述被测硅晶电池碎片是否到位的检测机构。进一步，所述检测机构包括设置在所述被测硅晶电池碎片上方的传感器安装座Ⅰ和设置在所述被测硅晶电池碎片下方的传感器安装座Ⅱ，所述传感器安装座Ⅰ上安装设有信号发射器，所述传感器安装座Ⅱ上安装设有信号接收器；或所述传感器安装座Ⅰ上安装设有信号接收器，所述传感器安装座Ⅱ上安装设有信号发射器。进一步，所述立柱的侧壁上设有第二滑轨，所述传感器安装座Ⅰ滑动配合安装在所述第二滑轨上，且所述传感器安装座Ⅰ上设有位于所述光源安装座上方并用于安装所述信号发射器或信号接收器的水平安装调节杆。本技术的有益效果在于：本技术的硅晶电池碎片检测装置，通过在立柱的上下两侧分别设置相机和光源安装座，光源安装座照射被测硅晶电池碎片底部，以便于相机成像，根据相机成像能够准确检测出被测硅晶电池碎片中的缺陷碎片，具有结构简单和实用性好的优点，能够对硅晶电池碎片进行精确的检测，提高硅晶电池碎片的质量。通过设置检测机构，将被测硅晶电池碎片被输送到光源上方时，信号发射器发送的光信号被被测硅晶电池碎片遮挡，信号发射器和信号接收器之间的信号传输被中断；相机即可根据该检测信号进行拍摄。附图说明为了使本技术的目的、技术方案和有益效果更加清楚，本技术提供如下附图进行说明：图1为本技术硅晶电池碎片检测装置实施例的结构示意图；图2为图1的左视图。附图标记说明：1-底座；2-光源；2a-光源安装座；3-传感器安装座Ⅰ；3a-水平安装调节杆；4-立柱；4a-竖直滑轨；4b-第二滑轨；5-相机；6-相机安装座；6a-水平调节杆；7-相机调整块；8-传感器安装座Ⅱ；9-输送台；10-传感器接收器。具体实施方式下面结合附图和具体实施例对本技术作进一步说明，以使本领域的技术人员可以更好的理解本技术并能予以实施，但所举实施例不作为对本技术的限定。如图1所示，为本技术硅晶电池碎片检测装置实施例的结构示意图。本实施例的硅晶电池碎片检测装置，包括底座1，底座1上安装设有立柱4，立柱4的下部安装设有光源安装座2a，光源安装座2a上设有用于照射被测硅晶电池碎片的光源2；立柱4的上方设有用于对被检测硅晶电池碎片拍照的相机5。本实施例的相机5采用工业相机，工业相机的显示图像为黑白图像，相机镜头接口为C口，分辨率为656*494。镜头的接口为C口，焦距为16mm。本实施例的光源2采用面板灯，为红色背光源，因为相机芯片对红色的感光度比较高，用红色背光源可以使相机拍摄出更清晰的图像。本实施例的光源安装座2a的上方设有用于输送被测硅晶电池碎片的输送台9。进一步，本实施例的立柱4上设有用于调节相机5位置的相机安装调节机构。本实施例的相机安装调节机构包括设置在立柱4上的竖直滑轨4a和与竖直滑轨4a滑动配合的相机安装座6，相机安装座6上设有与竖直滑轨4a垂直的水平调节杆6a，平调节杆6a与输送台9的输送方向垂直，相机5上固定安装设有相机调整块7，相机调整块7旋转配合安装在水平调节杆6a上。如此，相机5可以沿着竖直滑轨4a调节竖直方向的位置，也可沿着水平调节杆6a调节水平方向的位置，同时还可绕着水平调节杆6a旋转调节。相机5到输送台9的距离为840-860mm，本实施例为850mm。相机距离立柱轴线的距离为105-115mm，本实施例为110mm。进一步，本实施例的硅晶电池碎片检测装置还包括用于检测被测硅晶电池碎片是否到位的检测机构。本实施例的检测机构包括设置在被测硅晶电池碎片上方的传感器安装座Ⅰ3和设置在被测硅晶电池碎片下方的传感器安装座Ⅱ8，传感器安装座Ⅰ3上安装设有信号发射器，传感器安装座Ⅱ上安装设有信号接收器；或传感器安装座Ⅰ3上安装设有信号接收器10，传感器安装座Ⅱ8上安装设有信号发射器。本实施例的信号接收器10安装在传感器安装座Ⅰ3，信号发射器安装在传感器安装座Ⅱ8上。具体的，立柱4的侧壁上设有第二滑轨4b，传感器安装座Ⅰ3滑动配合安装在第二滑轨4b上，且传感器安装座Ⅰ3上设有位于光源安装座2a上方并用于安装信号发射器或信号接收器的水平安装调节杆3a，如此，可以沿着第二滑轨4b调节传感器安装座Ⅰ3在竖直方向上的位置，同时还可以调节传感器安装座Ⅰ3在水平安装调节杆3a上的安装位置。本实施例的发射器11距离立柱4的轴线的距离为130-140mm，本实施例为135mm，接收器安装在光源安装座背向发射器11的侧面中部。通过设置检测机构，将被测硅晶电池碎片被输送到光源上方时，信号发射器发送的光信号被被测硅晶电池碎片遮挡，信号发射器和信号接收器之间的信号传输被中断；相机即可根据该检测信号进行拍摄。本实施例的硅晶电池碎片检测装置，通过在立柱的上下两侧分别设置相机和光源安装座，光源安装座照射被测硅晶电池碎片底部，以便于相机成像，根据相机成像能够准确检测出被测硅晶电池碎片中的缺陷碎片，具有结构简单和实用性好的优点，能够对硅晶电池碎片进行精确的检测，提高硅晶电池碎片的质量。以上所述实施例仅是为充分说明本技术而所举的较佳的实施例，本技术的保护范围不限于此。本
的技术人员在本技术基础上所作的等同替代或本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种硅晶电池碎片检测装置，其特征在于：包括底座（1），所述底座（1）上安装设有立柱（4），所述立柱（4）的下部安装设有光源安装座（2a），所述光源安装座（2a）上设有用于照射被测硅晶电池碎片的光源（2）；所述立柱（4）的上方设有用于对所述被检测硅晶电池碎片拍照的相机（5）。

【技术特征摘要】
1.一种硅晶电池碎片检测装置，其特征在于：包括底座（1），所述底座（1）上安装设有立柱（4），所述立柱（4）的下部安装设有光源安装座（2a），所述光源安装座（2a）上设有用于照射被测硅晶电池碎片的光源（2）；所述立柱（4）的上方设有用于对所述被检测硅晶电池碎片拍照的相机（5）。2.根据权利要求1所述的硅晶电池碎片检测装置，其特征在于：所述光源（2）采用面板灯。3.根据权利要求1所述的硅晶电池碎片检测装置，其特征在于：所述立柱（4）上设有用于调节所述相机（5）位置的相机安装调节机构。4.根据权利要求3所述的硅晶电池碎片检测装置，其特征在于：所述相机安装调节机构包括设置在所述立柱（4）上的竖直滑轨（4a）和与所述竖直滑轨（4a）滑动配合的相机安装座（6），所述相机安装座（6）上设有与所述竖直滑轨（4a）垂直的水平调节杆（6a），所述相机（5）上固定安装设有相机调整块（7），所述相机调整块（7）旋转配合安装在所述水平调节杆（6a）上。5.根据权利要求1所述的硅晶电池碎片...

【专利技术属性】
技术研发人员：戴云霄，徐琼，吴群策，沈家麒，
申请(专利权)人：杭州利珀科技有限公司，
类型：新型
国别省市：浙江,33