一种三选二测试板制造技术

本实用新型专利技术提供了一种三选二测试板，所述测试板包括测试金手指、内部连接走线、与卡座接触的金手指，所述内部连接走线连接所述测试金手指和所述与卡座接触的金手指，测试板外形与卡座配合部分设计成和卡托身一样，测试板设有与金手指，其位置是：卡座与各卡接触的弹片位置，测试板插入卡座后，所述金手指与所述弹片接触，通过内部走线将各金手指信号引出卡座外。本实用新型专利技术测试板与三选二卡座配合部分，和卡托外形一致，插入卡座时顺畅，定位精度好，操作过程中不易损坏卡座，导致卡座盖及弹片变形；通过该测试板可以一次测试出三张卡接触弹片的功能，效率大大提高。

A Three-Choice Two-Test Board

The utility model provides a three-choice two-test board, which comprises a test golden finger, an internal connecting line and a golden finger contacted with the clamp seat. The internal connecting line connects the test golden finger and the golden finger contacted with the clamp seat. The shape of the test board and the clamp seat matching part are designed to be the same as the cator body. The test board is provided with a golden finger and its position is: After the test board is inserted into the card seat, the golden finger contacts the shrapnel and leads the golden finger signals out of the card seat through the internal wiring. The matching part of the test board of the utility model and the three-choice two-card holder is identical with the shape of the card holder, and the insertion of the card holder is smooth, the positioning accuracy is good, and the card holder is not easy to be damaged during operation, resulting in the deformation of the card holder cover and the shrapnel; through the test board, the function of three card contacting shrapnel can be tested at one time, and the efficiency is greatly improved.

【技术实现步骤摘要】
一种三选二测试板
本技术涉及一种测试板，尤其涉及手机产品三选二卡座功能测试。
技术介绍
目前手机上经常用到三选二卡座（SIM卡+SIM卡或TF卡），卡槽中只能同时放两张卡（一张SIM卡+一张TF卡或一张SIM卡+一张SIM卡），卡座贴片后需要检测卡座功能是否正常，一般直接用卡托装卡测试。卡座与主板配合固定住卡托，卡托用来托住卡。如果直接用卡托装卡测试，至少要测2次，测试时间长，效率很低，生产线测试时节奏较快，测试卡经常会装不到位，或者在插入卡托时导致卡移位，结果很容易导致卡座和测试卡损坏。如果制作普通测试硬板，测试板不经过特殊加工，板的外形与卡座不匹配，测试过程中，插入和取出时容易导致卡座金属盖变形，测试完成后会影响用户使用正常卡托装卡时接触不良，导致不识卡或使用时掉卡现象。传统测试的工作方式如下：贴片后的三选二卡座如图1和图2所示，图中部件名称如下：主板1、三选二卡座2、卡托3。图1为卡座SMT在主板上示意图，SMT（表面贴装技术）后卡座的所有的接触弹片都被卡座的钢盖覆盖，无法用测试针测试。图2为装入卡托的示意图。传统的测试卡座功能的方法是利用卡托测试，如图3和图4所示，图中部件名称如下：4代表SIM卡1，5代表SIM卡2，6代表TF卡。先在卡托上装好SIM卡1和SIM卡2，再将卡托装入卡座中检测主板对SIM卡1和SIM卡2的识别；测试完该功能后，将卡托取出并将SIM卡2取下换上TF卡，再装入卡座检测主板对SIM卡1和TF卡的识别，整个测试过程较长，在测试过程中如果卡没装到位易导致卡座损坏。
技术实现思路
为了解决现有技术中问题，本技术提供了一种三选二测试板，所述测试板包括测试金手指、内部连接走线、与卡座接触的金手指，所述内部连接走线连接所述测试金手指和所述与卡座接触的金手指，测试板外形与卡座配合部分设计成和卡托身一样，测试板设有与金手指，其位置是：卡座与各卡接触的弹片位置，测试板插入卡座后，所述金手指与所述弹片接触，通过内部走线将各金手指信号引出卡座外。作为本技术的进一步改进，通过双层板将所述测试金手指引到测试板背面。作为本技术的进一步改进，还包括定位孔，所述定位孔为三个。作为本技术的进一步改进，所述测试板包括FPC（软性线路板）和补强塑胶，二者通过双面胶压合成为一个整体。本技术的有益效果是：本技术测试板与三选二卡座配合部分，和卡托外形一致，插入卡座时顺畅，定位精度好，操作过程中不易损坏卡座，导致卡座盖及弹片变形；通过该测试板可以一次测试出三张卡接触弹片的功能，效率大大提高；使用该测试板可以通过测试制具的弹片或顶针与主板的其他器件功能测试合并，再次提升测试效率；测试板制作工艺简单，总体成本比卡托+两个SIM卡+TF卡成本低。附图说明图1是现有的卡座SMT在主板上示意图；图2是图1装入卡托的示意图；图3是现有的在卡托上装好SIM卡1和SIM卡2；图4是现有的在卡托上装好SIM卡1和TF卡；图5是本技术一种三选二测试板结构示意图；图6是图5的主视图；图7是卡托托身示意图；图8是图7的主视图；图9是测试板装入卡座和主板内结构示意图；图10是图9的另一角度示意图；图11是测试板的制作示意图。具体实施方式下面结合附图对本技术做进一步说明。一种三选二测试板，测试板设计如图5和图6所示，图中：101为测试金手指，102为内部连接走线，103为与卡座接触金手指，104为定位孔。在测试板外形与卡座配合部分设计成和卡托身一样（以达到精确定位和适配效果），在与卡座各卡接触弹片位置设计金手指（24处露铜镀金），即测试板设有与金手指，其位置是：卡座与各卡接触的弹片位置，测试板插入卡座后，所述金手指与所述弹片接触，通过内部走线将各金手指信号引出卡座外（根据测试制具需要可以通过双层板将测试金手指引到背面），插入测试板后各测试金手指可用测试工具的顶针或弹片一次性测试功能是否OK。如图9所示，装入测试板后，测试板的测试金手指露在卡座和主板外，可以用测试工具的测试顶针或弹片测试。本案测试板的制作可以通过两种方案实现。方案一：如图6所示，测试板用硬板（PCB）工艺做出线路，外形通过定位孔定位，CNC（数控机床）加工出台阶及与卡座配合的外形，外形边缘打磨。方案二：如图11所示，测试板台阶上部通过FPC105（软板）工艺做出线路，与卡托配合下部为补强塑胶106，二者先通过定位孔对位后，通过双面胶压合成为一个整体。以上内容是结合具体的优选实施方式对本技术所作的进一步详细说明，不能认定本技术的具体实施只局限于这些说明。对于本技术所属
的普通技术人员来说，在不脱离本技术构思的前提下，还可以做出若干简单推演或替换，都应当视为属于本技术的保护范围。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种三选二测试板，其特征在于：所述测试板包括测试金手指（101）、内部连接走线（102）、与卡座接触的金手指（103），所述内部连接走线（102）连接所述测试金手指（101）和所述与卡座接触的金手指（103），测试板外形与卡座配合部分设计成和卡托身一样，测试板设有与金手指，其位置是：卡座与各卡接触的弹片位置，测试板插入卡座后，所述金手指与所述弹片接触，通过内部走线将各金手指信号引出卡座外。

【技术特征摘要】
1.一种三选二测试板，其特征在于：所述测试板包括测试金手指（101）、内部连接走线（102）、与卡座接触的金手指（103），所述内部连接走线（102）连接所述测试金手指（101）和所述与卡座接触的金手指（103），测试板外形与卡座配合部分设计成和卡托身一样，测试板设有与金手指，其位置是：卡座与各卡接触的弹片位置，测试板插入卡座后，所述金手指与所述弹片接触，通过内部走线将...

【专利技术属性】
技术研发人员：何乘风，何明志，邹伏军，
申请(专利权)人：四川朵唯智能云谷有限公司，
类型：新型
国别省市：四川,51