The invention provides an X-ray imaging device and a synthesis method of X-ray imaging images. The X-ray imaging device has an image processing unit which aligns the position of the first dark field image and the second dark field image based on the difference between the position of the object in the first absorption image and the position of the object in the second absorption image.
【技术实现步骤摘要】
X射线成像装置以及X射线成像图像的合成方法
本专利技术涉及X射线成像装置以及X射线成像图像的合成方法,特别是涉及利用塔尔博特劳厄干涉仪生成吸收像、相位微分像以及暗视场像的X射线成像装置以及X射线成像图像的合成方法。
技术介绍
以往,已知一种利用塔尔博特劳厄干涉仪生成吸收像、相位微分像以及暗视场像的X射线成像装置。这种X射线相位成像装置例如在日本特开2012-16370号公报中被公开。在日本特开2012-16370号公报中公开了以下的X射线成像装置:根据使光栅沿周期方向按1/9个周期等间隔地平移所得到的九张图像,来生成吸收像、相位微分像以及暗视场像。此外,“相位微分像”是指根据在X射线通过了被摄体时产生的X射线的相位的偏移来进行图像化所得到的像。另外,“暗视场像”是指根据基于物体的小角度散射的Visibility的变化而获得的Visibility像。另外,暗视场像也被称为小角度散射像。“Visibility”是指清晰度。在此,在无损检查、医疗用途中存在想要确认被摄体内部的细微构造的情况。一般地,在用X射线成像装置获取的吸收像中难以确认至被摄体的内部的细微构造,但根据日本特开2012-16370号公报中公开的暗视场像、相位微分像,能够确认在吸收像中无法确认的被摄体的内部构造。
技术实现思路
然而,在拍摄暗视场像、相位微分像时,在由被摄体内部的细微构造引起的X射线的扩散存在指向性的情况下,根据光栅的光栅图案的朝向与被摄体的朝向(扩散方向)的关系,由被摄体内部的细微构造引起的X射线的扩散方向中的一个方向的成分被强调,存在有时难以将细微构造的整体详细地图像化这样的缺陷。 ...
【技术保护点】
1.一种X射线成像装置,具备:X射线源;检测器,其检测从所述X射线源照射的X射线;多个光栅,所述多个光栅配置在所述X射线源与所述检测器之间,包括被照射来自所述X射线源的所述X射线的第一光栅和被照射通过了所述第一光栅的所述X射线的第二光栅;以及图像处理部,其根据由所述检测器检测到的X射线的强度分布来生成包括吸收像的第一图像以及在与所述第一图像相同的配置下拍摄到的包括吸收像以外的像的第二图像,其中,所述图像处理部构成为:基于在互不相同的两轴方向上将所述多个光栅和被摄体配置成第一相对位置和第二相对位置后拍摄到的图像中的、所述第一相对位置时的所述第一图像中的被摄体的位置与所述第二相对位置时的所述第一图像中的被摄体的位置之间的差异量,来进行所述第一相对位置时的所述第二图像与所述第二相对位置时的所述第二图像的位置对准。
【技术特征摘要】
2017.06.22 JP 2017-1222591.一种X射线成像装置,具备:X射线源;检测器,其检测从所述X射线源照射的X射线;多个光栅,所述多个光栅配置在所述X射线源与所述检测器之间,包括被照射来自所述X射线源的所述X射线的第一光栅和被照射通过了所述第一光栅的所述X射线的第二光栅;以及图像处理部,其根据由所述检测器检测到的X射线的强度分布来生成包括吸收像的第一图像以及在与所述第一图像相同的配置下拍摄到的包括吸收像以外的像的第二图像,其中,所述图像处理部构成为:基于在互不相同的两轴方向上将所述多个光栅和被摄体配置成第一相对位置和第二相对位置后拍摄到的图像中的、所述第一相对位置时的所述第一图像中的被摄体的位置与所述第二相对位置时的所述第一图像中的被摄体的位置之间的差异量,来进行所述第一相对位置时的所述第二图像与所述第二相对位置时的所述第二图像的位置对准。2.根据权利要求1所述的X射线成像装置,其特征在于,所述图像处理部构成为:通过进行所述第一相对位置时的所述第一图像与所述第二相对位置时的所述第一图像的位置对准,来获取作为所述被摄体的位置的差异量的所述第一图像的移动量。3.根据权利要求2所述的X射线成像装置,其特征在于,所述图像处理部构成为:通过根据所述第一相对位置和所述第二相对位置时的所述第一图像中的被摄体的形状信息进行拟合,来进行所述第一图像的位置对准,获取通过所述拟合进行位置对准时的所述第一图像的所述移动量,使所述第二图像移动与获取到的所述移动量相同的量。4.根据权利要求1所述的X射线成像装置,其特征在于,所述第二图像是暗视场像和相位微分像中的任一方。5.根据权利要求1所述的X射线成像装置,其特征在于,所述第一相对位置是将所述多个光栅和被摄体配置成被摄体相对于所述...
【专利技术属性】
技术研发人员:佐野哲,白井太郎,土岐贵弘,堀场日明,森本直树,
申请(专利权)人:株式会社岛津制作所,
类型:发明
国别省市:日本,JP
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