用于天线阵列的相位校准的系统和方法技术方案

本发明专利技术公开了一种用于天线阵列的相位校准的系统和方法。所述系统包括至少两个天线元件。所述系统还包括：包括所述天线阵列的被测设备、平面波转换器、以及相位测量单元。然而所述被测设备配置成发送或接收具有空间相关相位的测试信号，所述平面波转换器配置成将所述具有空间相关相位的测试信号转换为具有恒定相位的信号。除此之外，所述被测设备或所述相位测量单元配置成从所述具有恒定相位的信号导出用于所述天线阵列的所述相位校准的校准值。

【技术实现步骤摘要】
用于天线阵列的相位校准的系统和方法
本专利技术涉及用于包括至少两个天线元件的天线阵列的相位校准的系统和方法。
技术介绍
通常，在采用天线阵列(诸如多输入多输出(MultipleInputMultipleOutput，MIMO)设备)的无线应用的数量日益增加的时期，对用于以最有效的方式相对于这些天线阵列进行相位校准的系统和方法的需求日益增长，以便允许用于保证所述无线应用的正常功能的高性能且低成本的校准装备。US6,771,216B2涉及用于校准相控阵列天线的方法。不利地，特别相对于天线阵列校准，前述专利文献未考虑将任何信号转换为具有恒定相位的信号，这导致校准过程复杂且无效。
技术实现思路
因此，需要提供一种用于天线阵列的相位校准的系统和方法，该系统和方法使校准过程特别有效。根据本专利技术的第一方面，提供一种用于包括至少两个天线元件的天线阵列的相位校准的系统。所述系统包括：包括所述天线阵列的被测设备、平面波转换器、以及相位测量单元。鉴于所述被测设备配置成发送或接收具有空间相关相位的测试信号，所述平面波转换器配置成将所述具有空间相关相位的测试信号转换为具有恒定相位的信号。除此之外，所述被测设备本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于包括至少两个天线元件的天线阵列的相位校准的系统，所述系统包括：包括所述天线阵列的被测设备，平面波转换器，以及相位测量单元，其中，所述被测设备配置成发送或接收具有空间相关相位的测试信号，其中，所述平面波转换器配置成将所述具有空间相关相位的测试信号转换为具有恒定相位的信号，以及其中，所述被测设备或所述相位测量单元配置成从所述具有恒定相位的信号导出用于所述天线阵列的所述相位校准的校准值。

【技术特征摘要】
2017.06.21 US 15/629,2391.一种用于包括至少两个天线元件的天线阵列的相位校准的系统，所述系统包括：包括所述天线阵列的被测设备，平面波转换器，以及相位测量单元，其中，所述被测设备配置成发送或接收具有空间相关相位的测试信号，其中，所述平面波转换器配置成将所述具有空间相关相位的测试信号转换为具有恒定相位的信号，以及其中，所述被测设备或所述相位测量单元配置成从所述具有恒定相位的信号导出用于所述天线阵列的所述相位校准的校准值。2.根据权利要求1所述的系统，其中，包括所述天线阵列的所述被测设备配置成逐步地通过不同相位扫描所述测试信号，所述天线阵列包括所述至少两个天线元件，或其中，所述相位测量单元配置成逐步地通过不同相位扫描所述测试信号。3.根据权利要求2所述的系统，其中，每个相位扫描步骤触发所述被测设备中的或所述相位测量单元中的样本。4.根据权利要求2或3所述的系统，其中，所述被测设备或所述相位测量单元配置成从具有对应测量的相位值的每个相位扫描步骤导出多个传递系数。5.根据权利要求4所述的系统，其中，所述多个传递系数形成用于借助所述被测设备或所述相位测量单元导出校准值的基础。6.根据权利要求1至5中任一项所述的系统，其中，所述至少两个天线元件彼此之间的温度差低于7摄氏度、优选地低于5摄氏度、最优选地低于3摄氏度。7.根据权利要求2至5中任一项所述的系统，其中，当逐步地扫描所述测试信号的相位时，所述至少两个天线元件彼此之间的温度差低于7摄氏度、优选地低于5摄氏度、最优选地低于3摄氏度。8.根据权利要求1至7中任一项所述的系统，其中，所述至少两个天线元件彼此之间的基于温度的相移低于7度相移、优选地低于5度相移、最优选地低于3度相移。9.根据权利要求2至5和7中任一项所述的系统，其中，当逐步地扫描所述测试信号的相位时，所述至少两个天线元件彼此之间的基于温度的相移低于7度相移、优选地低于5...

【专利技术属性】
技术研发人员：法布里西奥·多拉杜，安德里亚斯·莱希纳，昂德里克·巴尔特科，亚当·坦凯伦，科比特·罗威尔，
申请(专利权)人：罗德施瓦兹两合股份有限公司，
类型：发明
国别省市：德国,DE