一种废包壳测量装置样品通道系统及其清洗方法制造方法及图纸

技术编号:19932203 阅读:35 留言:0更新日期:2018-12-29 03:49
本发明专利技术属于核测量装置技术领域,涉及一种废包壳测量装置样品通道系统及其清洗方法。所述的样品通道系统包括样品管道、清洗液管道、第一电子阀、清洗液喷口、清洗液排出管道、测量及控制自动化系统,所述的清洗液管道连接所述的样品管道,用于输送清洗液并通过其上设置的所述的清洗液喷口将清洗液喷到所述的样品管道的内管壁上进行样品管道的清洗;所述的清洗液排出管道连接所述的样品管道,用于排出清洗所述的样品管道后的清洗液;所述的测量及控制自动化系统用于测量所述的样品管道中的放射性并控制位于所述的样品管道上的第一电子阀的开闭。利用本发明专利技术的废包壳测量装置样品通道系统及其清洗方法,能够实现样品管道内的自动淋洗与去污功能。

【技术实现步骤摘要】
一种废包壳测量装置样品通道系统及其清洗方法
本专利技术属于核测量装置
,涉及一种废包壳测量装置样品通道系统及其清洗方法。
技术介绍
随着我国核事业的快速发展,乏燃料的积累日益增多,为此与乏燃料后处理厂建设及工艺研究相关的工作也正在逐步实施。乏燃料组件经冷却后运输至后处理厂首端工艺线,通过剪切机剪切成若干小段,然后经过多级溶解、沥干后转运于废包壳测量装置中进行测量分析,经检测合格后方可进行后期处理。在废包壳测量过程中,当盛装废包壳的吊篮位于测量装置的样品通道内部时,吊篮会出现漏液等现象,导致随着时间的推移,测量装置样品通道内部的放射性本底会显著增高,从而对测量结果造成一定干扰。现有的样品通道清洗方法具有固定清洗周期、次数,存在清洗液过量或不足的问题。
技术实现思路
本专利技术的首要目的是提供一种废包壳测量装置样品通道系统,以能够实现样品管道内的自动淋洗与去污功能。为实现此目的,在基础的实施方案中,本专利技术提供一种废包壳测量装置样品通道系统,所述的样品通道系统包括样品管道、清洗液管道、第一电子阀、清洗液喷口、清洗液排出管道、测量及控制自动化系统,所述的清洗液管道连接所述的样品管道,用本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种废包壳测量装置样品通道系统,其特征在于:所述的样品通道系统包括样品管道、清洗液管道、第一电子阀、清洗液喷口、清洗液排出管道、测量及控制自动化系统,所述的清洗液管道连接所述的样品管道,用于输送清洗液并通过其上设置的所述的清洗液喷口将清洗液喷到所述的样品管道的内管壁上进行样品管道的清洗;所述的清洗液排出管道连接所述的样品管道,用于排出清洗所述的样品管道后的清洗液;所述的测量及控制自动化系统用于测量所述的样品管道中的放射性并控制位于所述的样品管道上的第一电子阀的开闭。

【技术特征摘要】
1.一种废包壳测量装置样品通道系统,其特征在于:所述的样品通道系统包括样品管道、清洗液管道、第一电子阀、清洗液喷口、清洗液排出管道、测量及控制自动化系统,所述的清洗液管道连接所述的样品管道,用于输送清洗液并通过其上设置的所述的清洗液喷口将清洗液喷到所述的样品管道的内管壁上进行样品管道的清洗;所述的清洗液排出管道连接所述的样品管道,用于排出清洗所述的样品管道后的清洗液;所述的测量及控制自动化系统用于测量所述的样品管道中的放射性并控制位于所述的样品管道上的第一电子阀的开闭。2.根据权利要求1所述的样品通道系统,其特征在于:所述的测量及控制自动化系统通过控制软件进行所述的样品管道中的放射性测量,若初始测量值高于本底阈值,则通过控制软件发送命令给作为其组成部分的plc控制系统,由所述的plc控制系统控制打开所述的第一电子阀进行所述的样品管道的清洗;若所述的样品管道经过清洗后,测量值低于本底阈值,则通过控制软件发送命令给所述的plc控制系统,由所述的plc控制系统控制关闭所述的第一电子阀停止所述的样品管道的清洗。3.根据权利要求1所述的样品通道系统,其特征在于:所述的样品通道...

【专利技术属性】
技术研发人员:柏磊王仲奇刘晓琳邵婕文李新军
申请(专利权)人:中国原子能科学研究院
类型:发明
国别省市:北京,11

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