检测装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术涉及光学检测技术领域，所提供的检测装置，包括载台，设置在载台上的至少一个导轨；还包括滑动连接在导轨上的至少一个检测组件，用于沿导轨对待检测物进行检测；导轨的支承面与载台表面平行，导轨的垂直下方设置有收集组件。当检测组件沿着载台上的导轨滑动，对载台上的待检测物进行检测时，检测组件与导轨摩擦所产生的微粒杂质在自身重力作用下，落入设置在导轨垂直下方的收集组件中，避免其掉落到载台以及载台上的待检测物上，对待检测物或者载台造成污染。

【技术实现步骤摘要】
检测装置
本技术涉及光学检测
，具体涉及一种检测装置。
技术介绍
目前许多检测设备为了提高自动化程度，往往需要借助辅助导轨，以进行检测点位的自由切换。例如，现有技术公开了一种电性测试装置，如图1所示，在第一横向支架3.5上，设置有若干个调制器3.1，调制器3.1可移动地设置在第一横向支架3.5上，即第一横向支架3.5作为导轨，使调制器3.1沿该导轨可进行图示的X方向的移动；在第二横向支架3.3上，设置有若干个光学扫描镜头3.2，光学扫描镜头3.2可移动地设置在第二横向支架3.3上，即第二横向支架3.3作为导轨，使光学扫描镜头3.2沿该导轨可进行图示的X方向的移动。使用上述电性测试装置对阵列基板3.7进行电性测试时，控制第二横向支架3.3沿纵向支架3.6进行Y方向滑动，以及控制光学扫描镜头3.2沿第二横向支架3.3进行X方向的移动，利用LED光源3.4和光学扫描镜头3.2对设备平台3.8上的阵列基板3.7进行全方位的纵向和横向扫描；再由第一横向支架3.5沿纵向支架3.6进行Y方向滑动，以及调制器3.1沿第一横向支架3.5进行X方向的移动，实现调制器3.1对阵列基板3.7全方位的纵本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种检测装置，其特征在于，包括载台(1)，设置在所述载台(1)上的至少一个导轨(2)；还包括滑动连接在所述导轨(2)上的至少一个检测组件(4)，用于沿所述导轨(2)对待检测物(11)进行检测；所述导轨(2)的支承面(21)与所述载台(1)表面平行，所述导轨(2)的垂直下方设置有收集组件(5)。

【技术特征摘要】
1.一种检测装置，其特征在于，包括载台(1)，设置在所述载台(1)上的至少一个导轨(2)；还包括滑动连接在所述导轨(2)上的至少一个检测组件(4)，用于沿所述导轨(2)对待检测物(11)进行检测；所述导轨(2)的支承面(21)与所述载台(1)表面平行，所述导轨(2)的垂直下方设置有收集组件(5)。2.根据权利要求1所述的检测装置，其特征在于，所述收集组件(5)为连接设置在所述导轨(2)下部的收集槽。3.根据权利要求2所述的检测装置，其特征在于，所述收集槽固定连接在所述导轨(2)上，所述收集槽底部开设有至少一个窗口(51)。4.根据权利要求1所述的检测装置，其特征在于，所述收集组件(5)为可拆卸连接在所述导轨(2)下部的集尘袋。5.根据权利要求1...

【专利技术属性】
技术研发人员：谭朋利，林昶，
申请(专利权)人：昆山国显光电有限公司，
类型：新型
国别省市：江苏,32