玻璃介电常数测试用电极装置制造方法及图纸

技术编号:19903928 阅读:33 留言:0更新日期:2018-12-26 03:03
本实用新型专利技术属于玻璃测试技术领域,具体公开了一种利于提高玻璃介电常数测试精度的电极装置。该玻璃介电常数测试用电极装置通过在上壳体内设置包括有弹性元件的伸缩调节部件,同时使上电极部件可活动地设置在上壳体内,并将弹性元件设置于上壳体的内顶面和上电极部件之间,进而当下电极部件与上电极部件之间放置有测试样品进行测试时,可以利用弹性元件的弹力将测试样品夹紧固定,使得上电极部件的电极部分及下电极部件的电极部分均与测试样品接触良好,可以消除电极和测试样品之间因接触不良而产生的接触电阻,利于提高玻璃介电常数的测试精度。

【技术实现步骤摘要】
玻璃介电常数测试用电极装置
本技术属于玻璃测试
,具体涉及一种电极装置。
技术介绍
介电常数是光学玻璃的一项重要的物理性质,全面而准确地掌握这种特性,对分析、改进光学玻璃的性能十分重要。一般都希望光学玻璃具有一致性,通过测定介电常数等参数,可进一步了解影响介质损耗的各种因素,用于对光学玻璃新材料性能的应用研究、研发评估,为提高光学玻璃的性能提供依据;可以分析光学玻璃组成之间的变化关系,研究光学玻璃基质中不同组份配比对相应性质的影响。目前,一般采用电桥法或频率法测定光学玻璃的介电常数。测试过程中,通常需要利用电极装置提供电力,利用LCR测试仪或Q表等仪器等对光学玻璃的介电常数进行检测。现有的电极装置,其电极与测试样品之间往往因接触不良而产生接触电阻,导致测试精度降低;另外,现有的测试装置在同一测试条件下多次测量的系统误差一致性不好,不利于对测试系统进行修正,得出较为准确的测试结果。
技术实现思路
本技术要解决的技术问题是提供一种利于提高玻璃介电常数测试精度的电极装置。本技术解决其技术问题所采用的技术方案是:玻璃介电常数测试用电极装置,包括下壳体、设置在下壳体内的下电极部件、设置在下壳体上本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.玻璃介电常数测试用电极装置,包括下壳体(100)、设置在下壳体(100)内的下电极部件、设置在下壳体(100)上侧的上壳体(200)、以及上电极部件;其特征在于:还包括设置在上壳体(200)内的伸缩调节部件,所述伸缩调节部件包括弹性元件(250);所述上电极部件设置在上壳体(200)内,并能够沿上壳体(200)的高度方向运动;所述弹性元件(250)设置于上壳体(200)的内顶面和上电极部件之间,当下电极部件与上电极部件之间放置有测试样品时,弹性元件(250)处于压缩状态。

【技术特征摘要】
1.玻璃介电常数测试用电极装置,包括下壳体(100)、设置在下壳体(100)内的下电极部件、设置在下壳体(100)上侧的上壳体(200)、以及上电极部件;其特征在于:还包括设置在上壳体(200)内的伸缩调节部件,所述伸缩调节部件包括弹性元件(250);所述上电极部件设置在上壳体(200)内,并能够沿上壳体(200)的高度方向运动;所述弹性元件(250)设置于上壳体(200)的内顶面和上电极部件之间,当下电极部件与上电极部件之间放置有测试样品时,弹性元件(250)处于压缩状态。2.如权利要求1所述的玻璃介电常数测试用电极装置,其特征在于:所述下电极部件包括下电极固定块(110)、下电极绝缘体(120)和下平板电极(130),所述下电极固定块(110)设置在下壳体(100)内,下电极固定块(110)的上侧设有下电极固定槽,所述下电极绝缘体(120)设置在下电极固定槽中,下电极绝缘体(120)的上侧设有下电极安装槽,所述下平板电极(130)设置在下电极安装槽中。3.如权利要求2所述的玻璃介电常数测试用电极装置,其特征在于:所述下电极固定块(110)的侧部设置有楔形槽(111),与楔形槽(111)相对应的下壳体(100)部位上设置有微调螺杆(140),所述微调螺杆(140)的旋拧端位于下壳体(100)外侧,微调螺杆(140)的调节端伸入至楔形槽(111)内。4.如权利要求2所述的玻璃介电常数测试用电极装置,其特征在于:所述上电极部件包括上电极固定块(210)、上电极绝缘体(220)和上平板电极(230),所述上电极固定块(210)设置在上壳体(200)内,上电极固定块(210)的下侧设有上电极固定槽,所述上电极绝缘体(220)设置在上电极固定槽中,上电极...

【专利技术属性】
技术研发人员:蒋子安
申请(专利权)人:成都光明光电股份有限公司
类型:新型
国别省市:四川,51

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