一种高精度测长装置制造方法及图纸

技术编号:19902726 阅读:40 留言:0更新日期:2018-12-26 02:42
本实用新型专利技术公开了一种高精度测长装置。包括固定壳,固定壳的内筒与转轴基台活动连接,转轴基台一端面同轴设有主刻度盘,主刻度盘上在圆周上分布有主刻度,相邻两主刻度间为1个主分度单位;所述的转轴基台另一端面依次同轴设有转轴Ⅰ和转轴Ⅱ;所述的转轴Ⅰ与套筒Ⅰ的内筒螺纹连接,套筒Ⅰ的外筒壁上设有肋Ⅰ,肋Ⅰ与设于固定壳内筒壁的凹槽Ⅰ滑动连接;所述的转轴Ⅱ与套筒Ⅱ的内筒螺纹连接,套筒Ⅱ的外筒壁上设有肋Ⅱ,肋Ⅱ与设于套筒Ⅰ内筒壁的凹槽Ⅱ滑动连接;所述的转轴Ⅰ与套筒Ⅰ连接的螺纹的螺距小于转轴Ⅱ与套筒Ⅱ连接螺纹的螺距。本实用新型专利技术具有结构简单,测量精度高和成本低的特点。

【技术实现步骤摘要】
一种高精度测长装置
本技术涉及一种量具,特别涉及一种高精度测长装置。
技术介绍
在加工制造领域,量具的精确度在很大程度上直接影响了所加工零件的精确度,同样在计量检定领域,测长装置的精度,对位移传感器、变形传感器的检定及校准准确度起到决定性作用。目前用于零部件测量的量具主要是游标卡尺或螺旋测微仪,这两种量具的测量精度分别仅能达到“丝”级和“微米”级,这两种量具在加工精密零部件时已不能满足需求,而目前高精密量具有三维数字投影设备,该设备结构较为复杂,设备成本也较高。
技术实现思路
本技术的目的在于,提供一种高精度测长装置。本技术具有结构简单,测量灵活、测量精度高和成本低的特点。本技术的技术方案:一种高精度测长装置,包括固定壳,固定壳的内筒与转轴基台活动连接,转轴基台一端面同轴设有主刻度盘,主刻度盘上在圆周上分布有主刻度,相邻两主刻度间为1个主分度单位;所述的转轴基台另一端面依次同轴设有转轴Ⅰ和转轴Ⅱ;所述的转轴Ⅰ与套筒Ⅰ的内筒螺纹连接,套筒Ⅰ的外筒壁上设有肋Ⅰ,肋Ⅰ与设于固定壳内筒壁的凹槽Ⅰ滑动连接;所述的转轴Ⅱ与套筒Ⅱ的内筒螺纹连接,套筒Ⅱ的外筒壁上设有肋Ⅱ,肋Ⅱ与设于套筒Ⅰ内筒壁的凹槽Ⅱ滑动本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种高精度测长装置,其特征在于:包括固定壳(1),固定壳(1)的内筒与转轴基台(2)活动连接,转轴基台(2)一端面同轴设有主刻度盘(3),主刻度盘(3)上在圆周上分布有主刻度(13),相邻两主刻度(13)间为1个主分度单位;所述的转轴基台(2)另一端面依次同轴设有转轴Ⅰ(4)和转轴Ⅱ(5);所述的转轴Ⅰ(4)与套筒Ⅰ(7)的内筒螺纹连接,套筒Ⅰ(7)的外筒壁上设有肋Ⅰ(8),肋Ⅰ(8)与设于固定壳(1)内筒壁的凹槽Ⅰ(9)滑动连接;所述的转轴Ⅱ(5)与套筒Ⅱ(10)的内筒螺纹连接,套筒Ⅱ(10)的外筒壁上设有肋Ⅱ(11),肋Ⅱ(11)与设于套筒Ⅰ(7)内筒壁的凹槽Ⅱ(12)滑动连接;所述的...

【技术特征摘要】
1.一种高精度测长装置,其特征在于:包括固定壳(1),固定壳(1)的内筒与转轴基台(2)活动连接,转轴基台(2)一端面同轴设有主刻度盘(3),主刻度盘(3)上在圆周上分布有主刻度(13),相邻两主刻度(13)间为1个主分度单位;所述的转轴基台(2)另一端面依次同轴设有转轴Ⅰ(4)和转轴Ⅱ(5);所述的转轴Ⅰ(4)与套筒Ⅰ(7)的内筒螺纹连接,套筒Ⅰ(7)的外筒壁上设有肋Ⅰ(8),肋Ⅰ(8)与设于固定壳(1)内筒壁的凹槽Ⅰ(9)滑动连接;所述的转轴Ⅱ(5)与套筒Ⅱ(10)的内筒螺纹连接,套筒Ⅱ(10)的外筒壁上设有肋Ⅱ(11),肋Ⅱ(11)与设于套筒Ⅰ(7)内筒壁的凹槽Ⅱ(12)滑动连接;所述的转轴Ⅰ(4)与套筒Ⅰ(7)连接的螺纹的螺距小于转轴Ⅱ(5)与...

【专利技术属性】
技术研发人员:王安礼黄启舒孟庆生谭捍华彭夔唐斌李斌韩振中梅本荣杨成铭王啸林黄有明袁维刘学浩满银刘克唐旭谢勇周磊赵剑苏成湘雷珍珍邰正辉
申请(专利权)人:贵州省质安交通工程监控检测中心有限责任公司
类型:新型
国别省市:贵州,52

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