一种制造技术

本发明专利技术属于放射性气体源技术领域，涉及一种

【技术实现步骤摘要】
一种133Xe模拟气体源的制备及探测效率校正方法
本专利技术属于放射性气体源
，涉及一种133Xe模拟气体源的制备及探测效率校正方法。
技术介绍
放射性惰性气体核素133Xe是核设施领域主要监测的核素之一，其γ射线能量低。对包含133Xe的放射性气体样品定量测量需要对γ谱仪进行探测效率刻度，但133Xe半衰期太短，不适于制作标准源长期保存。因此，目前133Xe的探测效率主要通过无源效率刻度软件计算，其计算原理为：首先对气体源进行分割，形成点源或者面源，再对点源或者面源的相对探测效率进行积分计算，并对体源本身的衰减、射线路径上容器和其他材料导致的衰减进行校正。但该方法计算结果与采用标准源刻度相比，偏差较大。中国专利申请201310294436.1公开了放射性面源自动模拟刻度气体源探测效率装置及方法，以避免133Xe探测效率测算的繁琐和误差。该专利的原理是通过动态测量面源探测效率计算气体源效率，但偏差依然较大。因此，需要更好的方法进行133Xe探测效率的测量及校正。
技术实现思路
本专利技术的目的是提供一种133Xe模拟气体源的制备及探测效率校正方法，以能够模拟用于133Xe的γ谱仪测本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种133Xe模拟气体源的制备及探测效率校正方法，其特征在于，所述的方法包括如下步骤：(1)在每个低密度聚苯乙烯发泡材料颗粒表面添加0.5‑1μl含有乙烯醇分子的树脂胶，并滴加1‑2μl133Ba放射性标准溶液；(2)将步骤(1)得到的低密度聚苯乙烯发泡材料颗粒烘干、混匀后装入模拟源盒制成133Ba模拟源；(3)通过γ谱仪测量步骤(2)制备的133Ba模拟源的γ峰计数，并计算得到133Ba的探测效率；(4)制备133Xe气体源；(5)通过γ谱仪测量步骤(4)制备的133Xe气体源的γ峰计数，并计算得到133Xe的探测效率；(6)根据步骤(3)与步骤(5)的探测效率计算结果，计算133Ba模...

【技术特征摘要】
1.一种133Xe模拟气体源的制备及探测效率校正方法，其特征在于，所述的方法包括如下步骤：(1)在每个低密度聚苯乙烯发泡材料颗粒表面添加0.5-1μl含有乙烯醇分子的树脂胶，并滴加1-2μl133Ba放射性标准溶液；(2)将步骤(1)得到的低密度聚苯乙烯发泡材料颗粒烘干、混匀后装入模拟源盒制成133Ba模拟源；(3)通过γ谱仪测量步骤(2)制备的133Ba模拟源的γ峰计数，并计算得到133Ba的探测效率；(4)制备133Xe气体源；(5)通过γ谱仪测量步骤(4)制备的133Xe气体源的γ峰计数，并计算得到133Xe的探测效率；(6)根据步骤(3)与步骤(5)的探测效率计算结果，计算133Ba模拟源的效率传递因子，从而可将133Ba模拟源的探测效率校正为133Xe的γ谱仪测量的探测效率。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于：步骤(1)中，每个所述的低密度聚苯乙烯发泡材料颗粒的直径为2-6mm，所述的13...

【专利技术属性】
技术研发人员：吕晓侠，杨巧玲，刁立军，武昌平，姚顺和，孟军，
申请(专利权)人：中国原子能科学研究院，
类型：发明
国别省市：北京,11