一种基于PIV靶盘标定多方向调节辅助盘及其测试方法技术

本发明专利技术公开了一种基于PIV靶盘标定多方向调节辅助盘及其测试方法；调节辅助盘包括水平盘、竖直盘，水平盘、竖直盘上均设置有靶盘孔洞，水平盘与竖直盘呈90度夹角连接，水平盘上连接有水平仪，水平盘左、右两侧边缘设置有位置相对的滑道通孔，滑道通孔内设置有可滑动的螺钉。测试方法包括以下步骤：S1、将靶盘固定在水平盘上端或竖直盘背面；S2、在水平盘上建立一个三维坐标系；S3、用支架将水平盘夹住，调整水平盘使其呈水平状态；S4、将第一卷尺或第二卷尺拉出；通过卷尺刻度来大致确定相机安放位置；S5、在螺钉上悬挂重锤线，并使得两条重锤线相重合；S6、对移动相机进行微调；S7、当靶盘已经全部进入电脑的显示窗口后，完成标定操作。

【技术实现步骤摘要】
一种基于PIV靶盘标定多方向调节辅助盘及其测试方法
本专利技术涉及粒子测速领域，尤其涉及一种基于PIV靶盘标定多方向调节辅助盘及其测试方法。
技术介绍
PIV测速技术(ParticleImageVelocimetry)相比于传统的测速技术，打破了很多的局限性，是一种非常有前景的无干扰区域性测速技术。在此，靶盘的标定是非常重要的一件事情，它是要通过CCD相机上的投影距离寻找和粒子位移实际距离的关系，算出一个像素点与实际位移的对应关系。三维粒子测速仪也是通过示踪粒子在流经靶盘区域内所走的路程Δl与其所用的时间Δt比值，根据算出其速度。X、Y、Z三个方向的分速度，以此类推。根据其速度场可以由软件自带公式处理出压力场、涡量场等数据。利用PIV在三维流场中测量流速时，需要首先通过靶盘来选择一个区域，利用CCD相机等设备来拍摄该区域。通过风洞或鼓风机等设备，作为推动流场包括示踪粒子运动的外力源，选用与流体比重相当且跟随性、光散射性良好的失踪粒子，在三维流场中进行流速分布。当测量流体内部，或经过某一障碍物后面的流速时，往往需要借助激光器等设备来发出片光源，来照亮靶盘待测区域，要想使靶盘区域与CCD本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种基于PIV靶盘标定多方向调节辅助盘，其特征在于：所述调节辅助盘包括水平盘、竖直盘，水平盘、竖直盘上均设置有靶盘孔洞，水平盘与竖直盘呈90度夹角连接，水平盘上连接有水平仪，水平盘左、右两侧边缘设置有位置相对的滑道通孔，滑道通孔内设置有可在滑道通孔内滑动的螺钉。

【技术特征摘要】
1.一种基于PIV靶盘标定多方向调节辅助盘，其特征在于：所述调节辅助盘包括水平盘、竖直盘，水平盘、竖直盘上均设置有靶盘孔洞，水平盘与竖直盘呈90度夹角连接，水平盘上连接有水平仪，水平盘左、右两侧边缘设置有位置相对的滑道通孔，滑道通孔内设置有可在滑道通孔内滑动的螺钉。2.如权利要求1所述的基于PIV靶盘标定多方向调节辅助盘，其特征在于：所述水平盘包括第一上盖板、带凹槽的第一下底板，第一上盖板覆盖在第一下底板上端，第一下底板的凹槽内设置有第一卷尺；竖直盘包括第二上盖板、带凹槽的第二下底板，第二上盖板连接在第二下底板后端，第二下底板的凹槽内设置有第二卷尺。3.如权利要求1或2任一所述的基于PIV靶盘标定多方向调节辅助盘，其特征在于：所述靶盘孔洞为4个且两两并排设置。4.如权利要求3所述的基于PIV靶盘标定多方向调节辅助盘，其特征在于：所述第一卷尺有两个，两个第一卷尺分别与两两并排的靶盘孔洞共轴设置；所述第二卷尺有两个，两个第二卷尺分别与两两并排的靶盘孔洞共轴设置。5.如权利要求4所述的基于PIV靶盘标定多方向调节辅助盘，其特征在于：所述水平仪至少有两个，其中，水平盘前端侧壁至少有一个，水平盘两侧侧壁至少有一个。6.如权利要求1或2任一所述的基于PIV靶盘标定多方向调节辅助盘，其特征在于：所述水平盘和/或竖直盘外侧壁上可拆卸连接有重锤仪。7.如权利要求6所述的基于PIV靶盘标定多方向调节辅助盘，其特征在于：所述重锤仪至少有两个。8.如权利要...

【专利技术属性】
技术研发人员：汪建文，张杲，东雪青，辛欣瑶，孙博，张星，
申请(专利权)人：内蒙古工业大学，
类型：发明
国别省市：内蒙古,15