基板的配线路径的检查方法及检查系统技术方案

本发明专利技术提供一种基板配线路径的检查系统，在对基板的配线路径进行电气检查时，通过低成本设备就能够简单地确认探针是否切实地与配线路径电连接，其中，基板的表面上形成彼此电气独立的若干条配线路径。检查系统具备：探针组(2)，与形成于基板(1)上的若干条配线路径(31)～(34)的端部接触；柔性导电体(9)，在所述端部以外使配线路径发生短路；以及检查装置(4)，设置有判定部(8)，该判定部(8)判断从被柔性导电体(9)短路的配线(31)～(34)中选择的配线对之间的电阻值是否低于规定值。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】基板的配线路径的检查方法及检查系统
本专利技术涉及基板的配线路径的检查方法及检查系统，用触针接触基板上形成的彼此电气独立的若干条配线路径，来检查触针所接触的配线路径的缺陷。
技术介绍
检查基板上形成的若干条配线的缺陷时，用触针接触配线的端部，通过探针来检查短路或绝缘电阻等。专利文献1中公开了一种配线检查设备，用于检查印刷线路板及各种半导体封装用基板的配线的电气不良。具备第一检查阶段和第二检查阶段，第一检查阶段用导电橡胶检查开路、短路，第二检查阶段使用不需要检查夹具的飞针测试机。专利文献2中记载了一种具备触针和短路板的电路基板检查装置，触针可以分别接触电路基板上形成的若干个导体图案，短路板用于使电路基板上的若干个导体图案短路。该电路基板检查装置可根据检查项目来选择使用触针及短路板。〔专利文献〕专利文献1:日本特开2004-132861号公报专利文献2:日本特开2000-193705号公报
技术实现思路
检查基板表面形成的若干条配线路径之间有无短路的情况下，通过目视仅能够确认所配置的探针是否与配线路径接触，而不能确认配线路径和探针实际上是否已电连接。因此，不能判断是由于错位、按压不足、测试仪本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种基板的配线路径的检查方法，对基板的配线路径进行电气检查，该基板的表面上形成彼此电气独立的若干条配线路径，其特征在于包含：所述若干条配线路径中，各自的一端形成在连接端子区域，在所述连接端子区域配置探针组的步骤；所述若干条配线路径中，在所述连接端子区域以外的区域，使所述若干条配线路径的任意一对发生短路的步骤；及在使所述一对发生短路的条件下，判断在该一对之间所测量的第一电阻值是否低于规定值的步骤。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种基板的配线路径的检查方法，对基板的配线路径进行电气检查，该基板的表面上形成彼此电气独立的若干条配线路径，其特征在于包含：所述若干条配线路径中，各自的一端形成在连接端子区域，在所述连接端子区域配置探针组的步骤；所述若干条配线路径中，在所述连接端子区域以外的区域，使所述若干条配线路径的任意一对发生短路的步骤；及在使所述一对发生短路的条件下，判断在该一对之间所测量的第一电阻值是否低于规定值的步骤。2.根据权利要求1所述的基板的配线路径的检查方法，其特征在于，所述基板是液晶面板的TFT基板，所述配线路径提供对辅助容量进行控制的信号，或者提供用于生成共同电极的基准电位的信号。3.根据权利要求1或2所述的基板的配线路径的检查方法，其特征在于，还包含：在不使所述一对发生短路的条件下，判断在该一对之间所测量的第二电阻值是否低于规定值的步骤。4.根据权利要求3所述的基板的配线路径的检查方法，其特征在于，还包含：根据有关第一电阻值的判定结果及有关第二电阻值的判定结果，判断在若干条配线路径之间是否形成了短路的步骤。5.一种检查系...

【专利技术属性】
技术研发人员：松本直基，
申请(专利权)人：堺显示器制品株式会社，
类型：发明
国别省市：日本,JP