测量冷中子源增益的方法技术

本公开属于中子散射技术领域，具体涉及测量冷中子源增益的方法。该方法包括以下步骤：1)选择适合的谱仪条件；2)开启冷中子源，探测冷中子注量；3)冷中子源开启状态下的本底测量；4)关闭冷中子源，探测冷中子注量；5)冷中子源关闭状态下的本底测量；6)冷中子源开闭前后的中子计数对比及分析。该方法能够快速、简便且尽量不增加空间需求的测量冷中子源增益的方法。

【技术实现步骤摘要】
测量冷中子源增益的方法
本公开属于中子散射
，具体涉及测量冷中子源增益的方法。
技术介绍
冷中子由于波长及能量低的特点，使得非常适合探测纳米材料、生物大分子、聚合物以及先进合金等物质内部的结构。小角中子散射谱仪是近年来利用冷中子源进行工作的典型谱仪之一，通常安装在冷源后引出导管的末端。该谱仪的使用的中子波长范围为0.1～2nm，在各个研究堆都安装有1～3台。小角中子散射谱仪主要由速度选择器(不同转速可选出不同波长中子)，准直系统(设定仪器运行光路)，样品台，探测系统(包括探测中子的二维位置探测器和设定仪器运行光路的腔体)构成。反应堆内安装冷中子源，能有效提高冷中子注量率，为小角中子散射谱仪提供更亮的中子源。在利用小角中子散射谱仪对材料研究之前，需要研究和了解冷中子源增益情况，即冷源运行后和运行之前冷中子注量率的比值。冷源增益的测量通常用飞行时间方法来得到。但是利用飞行时间法测量所需的设备复杂、时间成本高、占用空间大且对技术人员要求高。尤其是在反应堆导管大厅内部空间有限的情况下，可用于测量的空间非常有限，同时由于操作复杂，在有限的实验时间里，完成准确测量困难太大。因此需要寻求一种本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.测量冷中子源增益的方法，其特征在于，该方法是利用小角中子散射谱仪测量，该方法包括以下步骤：1)选择适合的谱仪条件通过调整速度选择器的转速，选择可被小角中子散射谱仪探测系统探测的某一波长的中子；2)开启冷中子源，探测冷中子计数开启冷中子源，启动小角中子散射谱仪的二维位置探测器探测冷中子计数，测量3～5次后，取其平均值；3)冷中子源开启状态下的本底测量保持与步骤(2)所用的小角中子散射谱仪的参数、测量时间及冷中子源条件不变，在样品台前设置挡束板，测量冷中子源开启状态下的中子计数本底；4)关闭冷中子源，探测冷中子计数保持与步骤(2)的所用的小角中子散射谱仪的参数及测量时间不变，关闭冷中子源，探测...

【技术特征摘要】
1.测量冷中子源增益的方法，其特征在于，该方法是利用小角中子散射谱仪测量，该方法包括以下步骤：1)选择适合的谱仪条件通过调整速度选择器的转速，选择可被小角中子散射谱仪探测系统探测的某一波长的中子；2)开启冷中子源，探测冷中子计数开启冷中子源，启动小角中子散射谱仪的二维位置探测器探测冷中子计数，测量3～5次后，取其平均值；3)冷中子源开启状态下的本底测量保持与步骤(2)所用的小角中子散射谱仪的参数、测量时间及冷中子源条件不变，在样品台前设置挡束板，测量冷中子源开启状态下的中子计数本底；4)关闭冷中子源，探测冷中子计数保持与步骤(2)的所用的小角中子散射谱仪的参数及测量时间不变，关闭冷中子源，探测冷中子计数，测量3～5次后，取其平均值；；5)冷中子源关闭状态下的本底测量保持与步骤(4)的所用的小角中子散射谱仪的参数、测量时间不变及冷中子源条件不变，在样品台前设置挡束板，探测冷中子计数本底；6)冷中子源开闭前后的中子计数对比及分析将步骤(2)得到...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈东风，刘蕴韬，孙凯，韩松柏，张莉，李天富，刘荣灯，李博楠，王子军，
申请(专利权)人：中国原子能科学研究院，
类型：发明
国别省市：北京,11