【技术实现步骤摘要】
考虑涡流影响的大样片旋转磁特性测试系统及方法
本专利技术涉及二维磁特性测量领域，具体是一种考虑涡流影响的大样片旋转磁特性测试系统及方法。
技术介绍
大样片旋转磁特性测试法是一种常用的磁性材料测试方法，可用于测量材料的一维磁特性和二维磁特性。不仅如此，大样片旋转磁特性测试法凭借着被测样片中均匀区域大、便于施加应力等优点，仍然具有研究性。许多论文对大样片旋转磁特性测试方法进行了详细的论述，J.Sievert和H.Ahlers等人[SievertJ,AhlersH,EnokizonoM,etal.Themeasurementofrotationalpowerlossinelectricalsheetsteelusingaverticalyokesystem[J].JournalofMagnetism&MagneticMaterials,1992,112(1-3):91-94.]使用大样片旋转磁特性测试法测量了包括小十字、大十字、小正方形、大正方形等多种形状的样片，但是测量结果表明：材料损耗特性随着被测样片相对大小的变化，最小误差是8％，最大损耗误差达到28％，损...
【技术保护点】
1.一种考虑涡流影响的大样片旋转磁特性测试系统，包括电脑、采集卡、被测样片、复合传感线圈、两个C型磁轭和一级放大电路，其特征在于该系统还包括磁轭升降固定装置，两个C型磁轭垂直相对固定在磁轭升降固定装置上，一个C型磁轭能在磁轭升降固定装置的作用下上下移动，另一个C型磁轭在磁轭升降固定装置上静止；所述被测样片呈十字形，十字形的四条臂的尺寸与C型磁轭的支腿尺寸一致，在各臂上均等间距设置有多个空气槽，每个空气槽的宽度均不大于1mm，空气槽的深度与各臂长度相等；两个C型磁轭按照上下位置垂直固定在被测样片的四条臂上；所述复合传感线圈包括上层H线圈、下层H线圈、上盖、下骨架和四个B探针，...
【技术特征摘要】
1.一种考虑涡流影响的大样片旋转磁特性测试系统，包括电脑、采集卡、被测样片、复合传感线圈、两个C型磁轭和一级放大电路，其特征在于该系统还包括磁轭升降固定装置，两个C型磁轭垂直相对固定在磁轭升降固定装置上，一个C型磁轭能在磁轭升降固定装置的作用下上下移动，另一个C型磁轭在磁轭升降固定装置上静止；所述被测样片呈十字形，十字形的四条臂的尺寸与C型磁轭的支腿尺寸一致，在各臂上均等间距设置有多个空气槽，每个空气槽的宽度均不大于1mm，空气槽的深度与各臂长度相等；两个C型磁轭按照上下位置垂直固定在被测样片的四条臂上；所述复合传感线圈包括上层H线圈、下层H线圈、上盖、下骨架和四个B探针，上层H线圈由上层Hx线圈和上层Hy线圈垂直交叉构成，且上层H线圈缠绕在上层H线圈基板上，上层H线圈基板与上层固定板的下表面中央固定；下层H线圈由下层Hx线圈和下层Hy线圈垂直交叉构成，且下层H线圈缠绕在下层H线圈基板上，下层H线圈基板安装在下层固定板的下表面中央，同时在下层固定板上布置四个B探针，且四个B探针呈垂直交叉布置，四个B探针到下层固定板中心的距离均相等，相对的两个B探针的连线与下层Hx线圈或下层Hy线圈平行，与下层Hx线圈平行的两个B探针记为By，与下层Hy线圈平行的两个B探针记为Bx；上层H线圈的双绞出线的焊接孔布置在上层固定板上，下层H线圈的双绞出线和B探针的双绞出线的焊接孔均布置在下层固定板上；在下骨架内设置有用于固定上层固定板的台阶及用于固定下层固定板的台阶，两个台阶之间具有间隙；B探针能伸出下骨架的底面，且下骨架的下表面紧挨被测样片上表面中心；下骨架的上部覆盖上盖，对上层固定板进行固定，至此构成整个复合传感线圈；将复合传感线圈固定在被测样片上表面的中心处。2.根据权利要求1所述的考虑涡流影响的大样片旋转磁特性测试系统，其特征在于，所述磁轭升降固定装置包括顶板、底板、丝杠、光杆、手轮和皮带，在顶板和底板上分别通过磁轭压条固定两个C型磁轭，两个C型磁轭的开口相对垂直布置，两个C型磁轭的两个支腿部分均缠绕激磁绕组；顶板和底板之间通过两个丝杆和两个光杆连接，两个丝杆和两个光杆按照对角线方向布置并支撑顶板，一个丝杠的上端穿过顶板连接手轮，另一个丝杠的上端也穿出顶板连接...
【专利技术属性】
技术研发人员：李永建，窦宇，张长庚，岳帅超，李昂轩，
申请(专利权)人：河北工业大学，
类型：发明
国别省市：天津,12
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。