【技术实现步骤摘要】
面向电缆老化横向位置的检测方法本申请是专利技术专利申请《面向电缆老化位置检测的红外视觉检测方法》的分案申请。原案申请日：2016-10-26。原案申请号：2016109436763。原案专利技术名称：面向电缆老化位置检测的红外视觉检测方法。
面向电缆老化横向位置的检测方法属于电力、红外检测
技术介绍
电缆通常是由两根或多根导线绞合而成，每组导线之间相互绝缘，外面包有绝缘的覆盖层。电缆具有内通电，外绝缘的特征。这种结构，有利于保护电缆，延长其使用寿命，但是仍然不能彻底避免电缆中导线发生氧化等老化问题。一旦电缆中的导线发生氧化等老化问题，将会影响线路的传输功能，严重时将造成电缆失效。针对电缆中导线氧化等老化问题，对电缆制定了使用寿命，在达到使用寿命后，就会将电缆进行整体更换。然而，如果电缆在仍然具有良好性能的情况下进行整体更换，势必会提高成本。解决这个问题的方法就是对电缆进行定期检查，查找电缆中导线发生老化的位置，再对电缆进行更换。专利技术专利《一种电力线老化红外检测装置与检测方法》，发现了电缆中的导线在老化后会使电缆的导热性能会发生改变的特性，即电缆在老化...
【技术保护点】
1.面向电缆老化横向位置的检测方法，其在于，包括以下步骤：步骤b1、得到系列灰度数据上一红外摄像头(11)得到灰度数据k11，上二红外摄像头(12)得到灰度数据k12，上三红外摄像头(13)得到灰度数据k13，下一红外摄像头(31)得到灰度数据k31，下二红外摄像头(32)得到灰度数据k32，下三红外摄像头(33)得到灰度数据k33；步骤b2、结合下环形圈(3)，从上环形圈(1)得到老化横向位置在上环形圈(1)中，判断min(|k11‑k12|,|k11‑k13|,|k12‑k13|)的最小值，如果：第一种情况：|k11‑k12|最小，老化位置位于上三红外摄像头(13)所覆...
【技术特征摘要】
1.面向电缆老化横向位置的检测方法，其在于，包括以下步骤：步骤b1、得到系列灰度数据上一红外摄像头(11)得到灰度数据k11，上二红外摄像头(12)得到灰度数据k12，上三红外摄像头(13)得到灰度数据k13，下一红外摄像头(31)得到灰度数据k31，下二红外摄像头(32)得到灰度数据k32，下三红外摄像头(33)得到灰度数据k33；步骤b2、结合下环形圈(3)，从上环形圈(1)得到老化横向位置在上环形圈(1)中，判断min(|k11-k12|,|k11-k13|,|k12-k13|)的最小值，如果：第一种情况：|k11-k12|最小，老化位置位于上三红外摄像头(13)所覆盖的区域或上一红外摄像头(11)和上二红外摄像头(12)的交界；在下环形圈(3)中，判断min(|k31-k32|,|k31-k33|,|k32-k33|)的最小值，如果：|k32-k33|最小，老化位置位于上一红外摄像头(11)和上二红外摄像头(12)的交界；其他，老化位置位于上三红外摄像头(13)所覆盖的区域；第二种情况：|k11-k13|最小，老化位置位于上二红外摄像头(12)所覆盖的区域或上一红外摄像头(11)和上三红外摄像头(13)的交界；在下环形圈(3)中，判断min(|k31-k32|,|k31-k33|,|k32-k33|)的最小值，如果：|k31-k32|最小，老化位置位于上一红外摄像头(11)和上三红外摄像头(13)的交界；其他，老化位置位于上二红外摄像头(12)所覆盖的区域；第三种情况：|k12-k13|最小，老化位置位于上一红外摄像头(11)所覆盖的区域或上二红外摄像头(12)和上三红外摄像头(13)的交界；在下环形圈(3)中，判断min(|k31-k32|,|k31-k33|,|k32-k33|)的最小值，如果：|k31-k33|最小，老化位置位于上二红外摄像头(12)和上三红外摄像头(13)的交界；其他，老化位置位于上一红外摄像头(11)所覆盖的区域；步骤b3、结合上环形圈(1)，从下环形圈(3)得到老化横向位置在下环形圈(3)中，判断min(|k31-k32|,|k31-k33|,|k32-k33|)的最小值，如果：第一种情况：|k31-k32|最小，老化位置位于下三红外摄像头(33)所覆盖的区域或下一红外摄像头(31)和下二红外摄像头(22)的交界；在上环形圈(1)中，判断min(|k11-k12|,|k11-k13|,|k12-k13|)的最小值，如...
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。