一种宽幅变温固态发光绝对量子产率测量方法技术

本发明专利技术提供了一种宽幅变温固态发光绝对量子产率测量方法，使用变温积分球光学耦合测试装置，包括:控温部件、积分球，光通过积分球上的光孔打在样品上，反射到积分球中进行漫反射后经过光纤导出；光纤，连接积分球和光谱仪，漫反射光通过变温光谱测定，得到固体样品在不同温度条件下的绝对量子产率；所述控温部件包括电制冷和电加热温度控制装置；所述固体样品位于所述控温部件中，光谱仪的设置参数为激发波长为300至380纳米，激发狭缝为5至20纳米，发射狭缝为5至20纳米。本发明专利技术提供的方法测定速度快，效率高，测量误差小，可得到固体在低温和变温条件下发光效率特征，同时拓展了变温绝对量子产率在发光，照明，显示和生物成像等领域的应用。

【技术实现步骤摘要】
一种宽幅变温固态发光绝对量子产率测量方法
本专利技术属于光学测量
，具体来说，涉及一种宽幅变温固态发光绝对量子产率测量方法。
技术介绍
近年来，随着半导体照明，发光，显示和生物成像等领域的蓬勃发展，高性能固态发光材料受到信息技术，新材料和新能源等高端
的广泛关注。目前，从基础研究角度分析，固态发光材料的常规测试已经不能满足研究人员对材料性能评估的需求，例如在低温/变温，除氧测试条件下，可以出现一些特殊的物理和化学现象，同时在近红外区(800-1700纳米)的检测需求也比较大。另一方面，在工程技术应用领域(如照明，显示等)，发光材料的物理性质常受到外界操作条件(如温度)的影响，因此需要开发和建立新型测试手段以满足上述需求。固态样品(如粉体和薄膜)的发光绝对量子产率测试是近年来发展较快的功能之一，也是衡量发光材料性能优劣的核心指标。发光量子产率(也称量子效率，PLQY)是指物质吸光后所发射光的光子数与所吸收的激发光光子数之比，表征物质发光能力的大小。目前，绝对量子效率的测试还仅限于常温条件，无法实现对特殊条件下的光学特性进行深入分析和研究，这与近年来发展起来的变温发射光谱测试本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种宽幅变温固态发光绝对量子产率测量方法，其特征在于，使用变温积分球光学耦合测试装置，包括:控温部件，用于控制固体样品的温度范围内变化；积分球，光通过积分球上的光孔打在样品上，反射到积分球中进行漫反射后经过光纤导出；光纤，连接积分球和光谱仪，漫反射光通过变温光谱测定，得到固体样品在不同温度条件下的光学参数测量；所述控温部件包括电制冷和电加热温度控制装置，位于积分球开口处正下方1‑2mm，控制固体样品的温度范围为4K‑500K；所述固体样品位于所述控温部件中，是粉末或薄膜样品；光谱仪的设置参数为激发波长为300至380纳米，激发狭缝为5至20纳米，发射狭缝为5至20纳米。

【技术特征摘要】
1.一种宽幅变温固态发光绝对量子产率测量方法，其特征在于，使用变温积分球光学耦合测试装置，包括:控温部件，用于控制固体样品的温度范围内变化；积分球，光通过积分球上的光孔打在样品上，反射到积分球中进行漫反射后经过光纤导出；光纤，连接积分球和光谱仪，漫反射光通过变温光谱测定，得到固体样品在不同温度条件下的光学参数测量；所述控温部件包括电制冷和电加热温度控制装置，位于积分球开口处正下方1-2mm，控制固体样品的温度范围为4K-500K；所述固体样品位于所述控温部件中，是粉末或薄膜样品；光谱仪的设置参数为激发波长为300至380纳米，激发狭缝为5至20纳米，发射狭缝为5至20纳米。2.根据权利...

【专利技术属性】
技术研发人员：闫东鹏，陈明星，
申请(专利权)人：北京师范大学，
类型：发明
国别省市：北京,11