一种开关寿命及负载测试机制造技术

本实用新型专利技术公开了一种开关寿命及负载测试机，旨在提供一种结构简单，操作方便，能够测试翘板开关和按键开关的寿命及负载，从而降低测试成本的开关寿命及负载测试机。本实用新型专利技术包括电流负载箱、电压负载箱、电源箱、MCU控制模块及若干测试台，所述电流负载箱、所述电压负载箱及所述电源箱均与所述测试台电性连接，所述测试台包括翘板开关测试台及按键开关测试台，所述翘板开关测试台及所述按键开关测试台上均设置有计数传感器，所述电流负载箱、所述电压负载箱、所述电源箱及所述测试台均与所述MCU控制模块电性连接。本实用新型专利技术应用于开关测试的技术领域。

【技术实现步骤摘要】
一种开关寿命及负载测试机
本技术涉及开关测试的
，特别涉及一种开关寿命及负载测试机。
技术介绍
目前，为了提高家电产品的使用性能，家电产品通常会设置多种功能性的开关。这样，开关的可靠性和使用寿命直接影响家电产品的可靠性和寿命，因此，在开关生产完成之后，需要对开关的可靠性和使用寿命进行测试。但是，不同类型的开关，需要使用不同的测试机构对其进行测试，这就需要企业研发处不同类型的开关测试机构来进行测试，导致开关的测试成本较高。
技术实现思路
本技术所要解决的技术问题是克服现有技术的不足，提供了一种结构简单，操作方便，能够测试翘板开关和按键开关的寿命及负载，从而降低测试成本的开关寿命及负载测试机。本技术所采用的技术方案是：本技术包括电流负载箱、电压负载箱、电源箱、MCU控制模块及若干测试台，所述电流负载箱、所述电压负载箱及所述电源箱均与所述测试台电性连接，所述测试台包括翘板开关测试台及按键开关测试台，所述翘板开关测试台及所述按键开关测试台上均设置有计数传感器，所述电流负载箱、所述电压负载箱、所述电源箱及所述测试台均与所述MCU控制模块电性连接。进一步的，所述翘板开关测试台包括翘板开关安装座、安装在所述翘板开关安装座一侧的拨动气缸及设置在所述拨动气缸输出轴前端并与翘板开关相适配的拨动杆。进一步的，所述按键开关测试台包括按键开关安装座、安装在所述按键开关安装座前端的按压气缸及设置在所述按压气缸输出轴前端并与按键开关相适配的按压头。进一步的，本技术还包括机箱，所述翘板开关测试台及所述按压开关测试台均设置在所述机箱的上端，所述MCU控制模块设置在所述机箱的内部。进一步的，所述机箱上设置有控制显示屏，所述控制显示屏与所述MCU控制模块电性连接。进一步的，所述拨动杆及所述按压头均采用橡胶材质制作而成。本技术的有益效果是：由于本技术包括电流负载箱、电压负载箱、电源箱、MCU控制模块及若干测试台，所述电流负载箱、所述电压负载箱及所述电源箱均与所述测试台电性连接，所述测试台包括翘板开关测试台及按键开关测试台，所述翘板开关测试台及所述按键开关测试台上均设置有计数传感器，所述电流负载箱、所述电压负载箱、所述电源箱及所述测试台均与所述MCU控制模块电性连接，所以，本技术结构简单，操作方便，能够测试翘板开关和按键开关的寿命及负载，降低了测试成本。附图说明图1是本技术的结构框图；图2是本技术测试台的结构示意图。具体实施方式如图1和图2所示，在本实施例中，本技术包括电源箱1、电压负载箱2、电流负载箱3、MCU控制模块及若干测试台4，所述电流负载箱3、所述电压负载箱2及所述电源箱1均与所述测试台4电性连接，所述测试台4包括翘板开关测试台41及按键开关测试台42，所述翘板开关测试台41及所述按键开关测试台42上均设置有计数传感器，所述电流负载箱3、所述电压负载箱2、所述电源箱1及所述测试台4均与所述MCU控制模块电性连接。此设计中，可通过所述翘板开关测试台41测试翘板开关的寿命及负载，通过所述按键开关测试台42测试按键开关的寿命及负载，负载可通过所述电压负载箱2及所述电流负载箱3来调节，通过所述计数传感器来测试开关的拨动开关的拨动次数及按键开关的按压次数，从而反应出开关的使用寿命。在本实施例中，所述翘板开关测试台41包括翘板开关安装座411、安装在所述翘板开关安装座一侧的拨动气缸412及设置在所述拨动气缸412输出轴前端并与翘板开关相适配的拨动杆413。此设计中，将翘板开关安装在所述翘板开关安装座411上，并接通电源，所述拨动杆413位于翘板开关的翘板的中部，通过所述拨动气缸412驱动所述拨动杆413来回运动，从而来按压翘板的两端，使翘板开关不断开关，并通过所述计数传感器计算出翘板开关的开关次数，从而测试出翘板开关的使用寿命。在本实施例中，所述按键开关测试台42包括按键开关安装座421、安装在所述按键开关安装座421前端的按压气缸422及设置在所述按压气缸422输出轴前端并与按键开关相适配的按压头423。此设计中，将按键开关安装在所述按键开关安装座421上，并接通电源，所述按压头423正对按键开关的键帽，通过所述按压气缸422驱动所述按压头423来回运动，从而不停按压所述按键开关，使按键开关不断开关，并通过所述计数传感器计算出按键开关的开关次数，从而测试出按键开关的使用寿命。在本实施例中，本技术还包括机箱5，所述翘板开关测试台4及所述按压开关测试台4均设置在所述机箱5的上端，所述MCU控制模块设置在所述机箱5的内部。在本实施例中，所述机箱5上设置有控制显示屏6，所述控制显示屏6与所述MCU控制模块电性连接。此设计中，设置所述控制显示屏6能够方便工人操作设备及开关的测试情况。在本实施例中，所述拨动杆413及所述按压头423均采用橡胶材质制作而成。此设计中，为了避免拨动杆413及所述按压头423的硬度过大而造成开关损坏，故采用橡胶材料制作所述拨动杆413及所述按压头423。本技术应用于开关测试的
虽然本技术的实施例是以实际方案来描述的，但是并不构成对本技术含义的限制，对于本领域的技术人员，根据本说明书对其实施方案的修改及与其他方案的组合都是显而易见的。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种开关寿命及负载测试机，其特征在于：它包括电源箱（1）、电压负载箱（2）、电流负载箱（3）、MCU控制模块及若干测试台（4），所述电流负载箱（3）、所述电压负载箱（2）及所述电源箱（1）均与所述测试台（4）电性连接，所述测试台（4）包括翘板开关测试台（41）及按键开关测试台（42），所述翘板开关测试台（41）及所述按键开关测试台（42）上均设置有计数传感器，所述电流负载箱（3）、所述电压负载箱（2）、所述电源箱（1）及所述测试台（4）均与所述MCU控制模块电性连接。

【技术特征摘要】
1.一种开关寿命及负载测试机，其特征在于：它包括电源箱（1）、电压负载箱（2）、电流负载箱（3）、MCU控制模块及若干测试台（4），所述电流负载箱（3）、所述电压负载箱（2）及所述电源箱（1）均与所述测试台（4）电性连接，所述测试台（4）包括翘板开关测试台（41）及按键开关测试台（42），所述翘板开关测试台（41）及所述按键开关测试台（42）上均设置有计数传感器，所述电流负载箱（3）、所述电压负载箱（2）、所述电源箱（1）及所述测试台（4）均与所述MCU控制模块电性连接。2.根据权利要求1所述的一种开关寿命及负载测试机，其特征在于：所述翘板开关测试台（41）包括翘板开关安装座（411）、安装在所述翘板开关安装座一侧的拨动气缸（412）及设置在所述拨动气缸（412）输出轴前端并与翘板开关相适配的拨动杆（413）。3.根据权利...

【专利技术属性】
技术研发人员：李彬，罗坤，
申请(专利权)人：珠海拓林电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：广东,44