一种一机多色组合检测装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种一机多色组合检测装置，用于磁材工件检测，包括放置待检工件的检测台，还包括位于检测台同侧的相机和两个以上单色光源，两个以上单色光源中各光源高度不同且向待检工件发射不同色彩的光，相机用于待检工件在每个单色光源背景下的单独成像输出和/或用于待检工件在两个以上单色光源背景下的混合成像输出，两个以上单色光源来源于环形光源和/或半环形光源和/或同轴光源，且同轴光源数量最多为一个。本实用新型专利技术的一机多色组合检测装置，检测工序少且仅需设置一台相机，多种特征不同的缺陷可交叠在一次成像中显示，检测成本降低，成像信息更加丰富且更清晰精确，检测效率和精度有效提高。

【技术实现步骤摘要】
一种一机多色组合检测装置
本技术总体而言涉及磁材工件检测领域，具体而言，涉及一种一机多色组合检测装置。
技术介绍
目前，对磁材工件表面缺陷的检测通常需要进行多工位检测，以实现对磁材工件不同类别的缺陷的检测，传统的工件检测过程中，通常采用同轴光、环形光进行色彩照射。由于工件在不同色彩的光下显像不同，而且通常无法在一种颜色的光下检测到工件所有问题，因此需要采用多道工序进行检测，每道工序之间单独检测，都需要设置相机，因此检测成本非常高，而且工作效率也非常低下。另外，虽然可以通过多道工序进行检测，但每道工序的检测仅能单独成像，并不能相互交叉组合，因此检测的精度并不能得到大幅提升。为此，如何在不提高检测成本和降低检测效率的前提下，有效提高检测精度，是业界急需解决的技术问题。
技术实现思路
本技术的一个主要目的在于克服上述现有技术的至少一种缺陷，提供一种在不提高检测成本和降低检测效率的前提下，可有效提高检测精度的一种一机多色组合检测装置。为实现上述专利技术目的，本技术采用如下技术方案：根据本技术的一个方面，提供了一种一机多色组合检测装置，用于磁材工件检测，包括检测台，所述检测台上放置待检工件，所述一机多色组合检测装置还包括相机和两个以上单色光源，所述相机和所述两个以上单色光源位于所述检测台同侧，所述两个以上单色光源中各光源高度不同，所述两个以上单色光源向所述待检工件发射不同色彩的光，所述相机用于所述待检工件在每个单色光源背景下的单独成像输出和/或用于所述待检工件在两个以上单色光源背景下的混合成像输出，所述两个以上单色光源来源于环形光源和/或半环形光源和/或同轴光源，且所述同轴光源数量最多为一个。根据本技术的一实施方式，所述两个以上单色光源为环形光源和/或同轴光源时与所述相机之间的同轴度小于3厘米。根据本技术的一实施方式，所述一机多色组合检测装置包括一个所述同轴光源和一个所述半环形光源。根据本技术的一实施方式，所述一机多色组合检测装置包括一个所述同轴光源和两个所述半环形光源。根据本技术的一实施方式，所述一机多色组合检测装置包括一个所述同轴光源和一个所述环形光源。根据本技术的一实施方式，所述一机多色组合检测装置包括一个所述同轴光源和两个所述环形光源。根据本技术的一实施方式，所述一机多色组合检测装置包括两个所述环形光源。根据本技术的一实施方式，所述一机多色组合检测装置包括两个或三个所述半环形光源，且所述半环形光源的开口朝向不同。根据本技术的一实施方式，所述单色光源的发光色彩为红色、蓝色、绿色中的任一种。根据本技术的一实施方式，所述相机为彩色相机。本技术的一机多色组合检测装置中，半环形光源是指：开口角度最大为190度的扇形环光源，可以是开口角度为180度或90度或60度的扇形环光源。由上述技术方案可知，本技术的一机多色组合检测装置的优点和积极效果在于：本技术的一机多色组合检测装置，两个以上单色光源向检测台上待检工件发射不同色彩的光，相机获取待检工件在此光照下的成像进而完成检测，工序少且仅需设置一台相机，多种特征不同的缺陷可交叠在一次成像中显示，检测成本降低，成像信息更加丰富且更清晰精确，检测效率和精度有效提高，具有很高的经济性，极为适合在业界推广使用。附图说明通过结合附图考虑以下对本技术的优选实施例的详细说明，本技术的各种目标、特征和优点将变得更加显而易见。附图仅为本技术的示范性图解，并非一定是按比例绘制。在附图中，同样的附图标记始终表示相同或类似的部件。其中：图1是本技术一实施例一机多色组合检测装置的剖视示意图。图2是本技术一实施例一机多色组合检测装置的环形光发光组件结构示意图。图3是本技术第一实施例的一机多色组合检测装置的两个以上单色光源的结构示意图。图4是本技术第二实施例的一机多色组合检测装置的剖视示意图。图5是本技术第二实施例的一机多色组合检测装置的两个以上单色光源的结构示意图。图6为本技术第三实施例的一机多色组合检测装置的三个半环形光源的结构示意图。其中，附图标记说明如下：1、检测台；2、相机；3、两个以上单色光源；31、同轴光源；32、环形光源；321、第一环；322、第二环；33、半环形光源；331、第一半环；332、第二半环；333、第三半环；4、待检工件。具体实施方式现在将参考附图更全面地描述示例实施方式。然而，示例实施方式能够以多种形式实施，且不应被理解为限于在此阐述的实施方式；相反，提供这些实施方式使得本技术将全面和完整，并将示例实施方式的构思全面地传达给本领域的技术人员。图中相同的附图标记表示相同或类似的结构，因而将省略它们的详细描述。在对本技术的不同示例的下面描述中，参照附图进行，所述附图形成本技术的一部分，并且其中以示例方式显示了可实现本技术的多个方面的不同示例性结构、系统和步骤。应理解，可以使用部件、结构、示例性装置、系统和步骤的其他特定方案，并且可在不偏离本技术范围的情况下进行结构和功能性修改。而且，虽然本说明书中可使用术语“顶部”、“底部”、“前部”、“后部”、“侧部”等来描述本技术的不同示例性特征和元件，但是这些术语用于本文中仅出于方便，例如根据附图中所述的示例的方向。本说明书中的任何内容都不应理解为需要结构的特定三维方向才落入本技术的范围内。图1是本技术一实施例一机多色组合检测装置的剖视示意图。如图1所示，该实施例一机多色组合检测装置，用于磁材工件检测，包括检测台1，检测台1上放置待检工件，一机多色组合检测装置还包括相机2和两个以上单色光源3，相机2和两个以上单色光源3位于检测台1同侧，两个以上单色光源3中各光源高度不同，两个以上单色光源3向待检工件发射不同色彩的光，相机2用于待检工件在每个单色光源背景下的单独成像输出和/或用于待检工件在两个以上单色光源3背景下的混合成像输出，两个以上单色光源3来源于环形光源32和/或半环形光源33和/或同轴光源31，且同轴光源31数量最多为一个。第一实施例图3是本技术第一实施例的一机多色组合检测装置的两个以上单色光源的结构示意图。如图1和图3所示，该实施例中，检测台1为一水平设置的载物台，相机2位于检测台1上方，相机2为彩色相机，可获得待检工件4的彩色成像，两个以上单色光源3位于相机2与检测台1之间，两个以上单色光源3各自的出光面与检测台1之间的竖直距离不同且距离差异为10毫米甚至30毫米以上，两个以上单色光源3分别设置于相机2竖直中心线的不同高度上，并且各个彩色光源均各自关于相机2对称设置，各个彩色光源3照射的光线与水平面的夹角大小可以为30度、60度、90度或其他适宜角度，此夹角的具体大小可视检测需求而定，待检工件4放置于检测台1上并且位于相机2的视野范围内。该实施例中，一机多色组合检测装置包括同轴光源31和/或环形光源32，如图2所示的环形光源32上可阵列设置LED灯珠，同轴光源31和环形光源32发射不同色彩的光，两个以上单色光源3即来源于发射不同色彩的光的同轴光源31和/或环形光源32；两个以上单色光源3也可以来源于两个以上发射不同色彩的光的同轴光源31和/或半环形光源33；同轴光源31数量为一个，同本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种一机多色组合检测装置，用于磁材工件检测，包括检测台，所述检测台上放置待检工件，其特征在于，所述一机多色组合检测装置还包括相机和两个以上单色光源，所述相机和所述两个以上单色光源位于所述检测台同侧，所述两个以上单色光源中各光源高度不同，所述两个以上单色光源向所述待检工件发射不同色彩的光，所述相机用于所述待检工件在每个单色光源背景下的单独成像输出和/或用于所述待检工件在两个以上单色光源背景下的混合成像输出，所述两个以上单色光源来源于环形光源和/或半环形光源和/或同轴光源，且所述同轴光源数量最多为一个。

【技术特征摘要】
1.一种一机多色组合检测装置，用于磁材工件检测，包括检测台，所述检测台上放置待检工件，其特征在于，所述一机多色组合检测装置还包括相机和两个以上单色光源，所述相机和所述两个以上单色光源位于所述检测台同侧，所述两个以上单色光源中各光源高度不同，所述两个以上单色光源向所述待检工件发射不同色彩的光，所述相机用于所述待检工件在每个单色光源背景下的单独成像输出和/或用于所述待检工件在两个以上单色光源背景下的混合成像输出，所述两个以上单色光源来源于环形光源和/或半环形光源和/或同轴光源，且所述同轴光源数量最多为一个。2.如权利要求1所述的一机多色组合检测装置，其特征在于，所述两个以上单色光源为环形光源和/或同轴光源时与所述相机之间的同轴度小于3厘米。3.如权利要求2所述的一机多色组合检测装置，其特征在于，所述一机多色组合检测装置包括一个所述同轴光源和一个所述半环形光源。4.如权利要求2所...

【专利技术属性】
技术研发人员：崔忠伟，凌云，
申请(专利权)人：北京领邦智能装备股份公司，
类型：新型
国别省市：北京,11