一种平整度测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种平整度测试装置，包括支撑台架、检测组件和载物组件，检测组件设于支撑台架的顶部，载物组件设于支撑台架的底部；检测组件包括第一驱动机构和探测器，第一驱动机构与探测器与探测器连接，第一驱动机构驱动探测器沿第一预设方向运动；载物组件包括第二驱动机构和载物板，第二驱动机构与载物板与载物板连接，第二驱动机构驱动载物板沿第二预设方向运动；探测器位于载物板上方，探测器用以检测载物板的载物面上的被检测物，第一预设方向与第二预设方向垂直。本实用新型专利技术的检测装置中，探测器和载物板可在相互垂直的两个方向上往返运动，方便检测载物板上的电子器件，使用方便、快捷，检测效率高。

【技术实现步骤摘要】
一种平整度测试装置
本技术属于电子封装
，具体涉及一种用于电子器件的平整度的测试装置。
技术介绍
部分电子电子器件的精度要求高，在电子器件的生产过程中，通常会对电子器件的平整度进行检查。现有的用于电子器件平整度检查装置的结构较为复杂，在检查电子器件时，会有检测死角，不能整体的检测到电子器件的平整度，并且操作较为繁琐。
技术实现思路
本技术的目的在于：解决现有技术中的不足，提供一种操作方便的用于检测电子器件平整度的检测装置。为了实现上述目的，本技术采用的技术方案为：一种平整度测试装置，包括支撑台架、检测组件和载物组件，所述检测组件设于所述支撑台架的顶部，所述载物组件设于所述支撑台架的底部；所述检测组件包括第一驱动机构和探测器，所述第一驱动机构与所述探测器连接，所述第一驱动机构可驱动所述探测器沿第一预设方向运动；所述载物组件包括第二驱动机构和载物板，所述第二驱动机构与所述载物板连接，所述第二驱动机构可驱动所述载物板沿第二预设方向运动；所述探测器位于所述载物板上方，所述探测器用以检测所述载物板的载物面上的被检测物，所述第一预设方向与所述第二预设方向垂直。进一步的，所述支撑台架包括支脚、底架、立柱和顶架，所述支脚设于所述底架的底部，所述立柱固定设于所述底架的顶部，所述顶架固定设于所述立柱的顶部，所述检测组件设于所述顶架，所述载物组件设于所述底架。进一步的，所述支脚为4个，4个所述支脚呈矩形阵列分布于所述底架。进一步的，所述检测组件还包括顶板和第一滑块，所述顶板设于所述支撑台架的顶部，所述顶板靠近所述载物组件的一板面设有第一滑轨，所述第一滑轨沿所述第一预设方向延伸，所述第一滑块滑动设于所述第一滑轨，所述探测器与所述第一滑块固定连接，所述第一驱动机构与所述第一滑块连接，所述第一驱动机构驱动所述第一滑块沿所述第一滑轨滑动。进一步的，所述第一驱动机构设于所述第一滑轨的一端，所述第一滑轨的另一端固定设有第一限位块。进一步的，所述载物组件还包括底板和第二滑块，所述底板设于所述支撑台架的底部，所述底板靠近所述检测组件的一板面设有第二滑轨，所述第二滑块与所述第二滑轨滑动连接，所述第二滑轨沿所述第二预设方向延伸，所述载物板与所述第二滑块固定连接，所述第二滑块与所述第二驱动机构连接，所述第二驱动机构驱动所述第二滑块沿所述第二滑轨滑动。进一步的，所述第二驱动机构设于所述第二滑轨的一端，所述第二滑轨的另一端固定设有第二限位块。由于采用了上述技术方案，本技术的有益效果是：本技术的检测装置中，将检测组件设置在支撑台架的顶部，载物组件设置在支撑台架的底部，探测器位于载物板的上方，可快速的检测载物板上的电子器件。在本技术中，探测器在第一驱动机构的作用下，可沿第一预设方向往返运动，同时载物板可在第二驱动机构的作用下，沿第二预设方向往返运动，第一驱动机构与第二驱动机构协同作用，探测器可检测电子器件的不同位置，在使用时，只需将电子器件放置在载物板上，通过控制第一驱动机构和第二驱动机构，即可将检测整个电子器件的平整度，使用方便、快捷，提高检测效率。附图说明为了更清楚地说明本技术实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本技术的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。图1为本技术的检测装置的主视示意图；图2为本技术的检测装置的整体结构示意图一；图3为本技术的检测装置的载物组件的结构示意图；图4为本技术的检测装置的检测组件的结构示意图；附图标记：1-支撑台架，11-支脚，12-底架，13-立柱，14-顶架，2-检测组件，21-第一驱动机构，22-探测器，23-顶板，24-第一滑块，25-第一滑轨，26-第一限位块，3-载物组件，31-第二驱动机构，32-载物板，33-底板，34-第二滑块，35-第二滑轨，36-第二限位块。具体实施方式为使本技术实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本技术实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。因此，以下对在附图中提供的本技术的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本技术的范围，而是仅仅表示本技术的选定实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步定义和解释。在本技术的描述中，需要说明的是，术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，或者是该技术产品使用时惯常摆放的方位或位置关系，仅是为了便于描述本技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本技术的限制。术语“第一”、“第二”、“第三”等仅用于区分描述，而不能理解为指示或暗示相对重要性。术语“平行”、“垂直”等并不表示要求部件绝对平行或垂直，而是可以稍微倾斜。如“平行”仅仅是指其方向相对“垂直”而言更加平行，并不是表示该结构一定要完全平行，而是可以稍微倾斜。在本技术的描述中，还需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“设置”、“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本技术中的具体含义。结合附图1-4，具体说明本技术的实施方式；实施例：一种平整度测试装置，包括支撑台架1、检测组件2和载物组件3，所述检测组件2设于所述支撑台架1的顶部，所述载物组件3设于所述支撑台架1的底部；所述检测组件2包括第一驱动机构21和探测器22，所述第一驱动机构21与所述探测器22连接，所述第一驱动机构21驱动所述探测器22沿第一预设方向运动；所述载物组件3包括第二驱动机构31和载物板32，所述第二驱动机构31与所述载物板32连接，所述第二驱动机构31驱动所述载物板32沿第二预设方向运动；所述探测器22位于所述载物板32上方，所述探测器22用以检测所述载物板32的载物面上的被检测物，所述第一预设方向与所述第二预设方向垂直。在本实施例中，探测器22运动的平面始终与载物板32以及载物板32运动的平面平行，并且探测器22与载物板32之间的距离保持不变。第一驱动机构21和第二驱动机构31均可为现有技术中的驱动机构，第一驱动机构21可控制探测器22移动所需的距离，同样的，第二驱动机构31可控制载物台移动所需的距离。本实施例的工作原理为：将待检测的电子器件放置在载物板32上，通过控制第一驱动机构21和第二驱动机构31，使探测器22本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种平整度测试装置，其特征在于：包括支撑台架、检测组件和载物组件，所述检测组件设于所述支撑台架的顶部，所述载物组件设于所述支撑台架的底部；所述检测组件包括第一驱动机构和探测器，所述第一驱动机构与所述探测器连接，所述第一驱动机构可驱动所述探测器沿第一预设方向运动；所述载物组件包括第二驱动机构和载物板，所述第二驱动机构与所述载物板连接，所述第二驱动机构可驱动所述载物板沿第二预设方向运动；所述探测器位于所述载物板上方，所述探测器用以检测所述载物板的载物面上的被检测物，所述第一预设方向与所述第二预设方向垂直。

【技术特征摘要】
1.一种平整度测试装置，其特征在于：包括支撑台架、检测组件和载物组件，所述检测组件设于所述支撑台架的顶部，所述载物组件设于所述支撑台架的底部；所述检测组件包括第一驱动机构和探测器，所述第一驱动机构与所述探测器连接，所述第一驱动机构可驱动所述探测器沿第一预设方向运动；所述载物组件包括第二驱动机构和载物板，所述第二驱动机构与所述载物板连接，所述第二驱动机构可驱动所述载物板沿第二预设方向运动；所述探测器位于所述载物板上方，所述探测器用以检测所述载物板的载物面上的被检测物，所述第一预设方向与所述第二预设方向垂直。2.根据权利要求1所述的平整度测试装置，其特征在于：所述支撑台架包括支脚、底架、立柱和顶架，所述支脚设于所述底架的底部，所述立柱固定设于所述底架的顶部，所述顶架固定设于所述立柱的顶部，所述检测组件设于所述顶架，所述载物组件设于所述底架。3.根据权利要求2所述的平整度测试装置，其特征在于：所述支脚为4个，4个所述支脚呈矩形阵列分布于所述底架。4.根据权利要求1所述的平整度测试装置，其特征在于：所述检测组...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘欣，
申请(专利权)人：成都市汉桐集成技术有限公司，
类型：新型
国别省市：四川,51