本发明专利技术公开了一种用于电子装置的接近检测方法。电子装置包括接近传感器，接近传感器用于发射红外脉冲信号，红外脉冲信号的一个脉冲周期包括多个子脉冲周期，每个子脉冲周期包括一个波峰和一个波谷。控制方法包括步骤：获取所述接近传感器采集的每个子脉冲周期的波峰与波谷的强度值的差值；计算M个所述差值的平均值为第一平均值；计算N组所述第一平均值；计算所述N组第一平均值的平均值为第二平均值；和根据所述第二平均值判断所述物体是否接近或远离所述电子装置。如此，能够减小环境光中的红外光对接近传感器的检测造成的干扰。本发明专利技术还公开了一种接近检测装置、电子装置、计算机可读存储介质和计算机设备。
【技术实现步骤摘要】
接近检测方法及装置、电子装置、存储介质和设备
本专利技术涉及电子
，特别涉及一种接近检测方法、接近检测装置、电子装置、计算机可读存储介质和计算机设备。
技术介绍
一般地，接近传感器利用发射的单脉冲红外信号检测物体与移动终端的距离从而判断物体与移动终端的远离或靠近。在某些使用场景中，接近传感器受到阳光中的红外线的干扰较大而导致判断出现误差。
技术实现思路
为解决上述技术问题，本专利技术提供了一种控制方法、接近检测装置、电子装置、计算机可读存储介质和计算机设备。本专利技术提供了一种接近检测方法，用于电子装置，所述电子装置包括接近传感器，所述接近传感器用于发射红外脉冲信号，所述红外脉冲信号的一个脉冲周期包括多个子脉冲周期，每个子脉冲周期包括一个波峰和一个波谷，所述控制方法包括步骤：获取所述接近传感器采集的每个子脉冲周期的波峰与波谷的强度值的差值；计算M个所述差值的平均值为第一平均值；计算N组所述第一平均值，每组差值的差值序号为第L个至第(M+L-1)个，L为第一平均值的组数序号，M、L、N均为正整数；计算所述N组第一平均值的平均值为第二平均值；根据所述第二平均值判断所述物体是否接近或远离所述电子装置。本专利技术提供了一种接近检测装置，用于电子装置，所述电子装置包括接近传感器，所述接近传感器用于发射红外脉冲信号，所述红外脉冲信号的一个脉冲周期包括多个子脉冲周期，每个子脉冲周期包括一个波峰和一个波谷，所述接近检测装置包括：获取模块，用于获取所述接近传感器采集的每个子脉冲周期的波峰与波谷的强度值的差值；计算模块，用于计算M个所述差值的平均值为第一平均值，所述计算模块还用于计算N组所述第一平均值，每组差值的差值序号为第L个至第(M+L-1)个，L为第一平均值的组数序号以及计算所述N组第一平均值的平均值为第二平均值，其中M、N、L均为正整数；和判断模块，用于根据所述第二平均值判断所述物体是否接近或远离所述电子装置。本专利技术提供了一种电子装置，所述电子装置包括：接近传感器，所述接近传感器用于发射红外脉冲信号，所述红外脉冲信号的一个脉冲周期包括多个子脉冲周期，每个子脉冲周期包括一个波峰和一个波谷；和处理器，所述处理器用于：获取所述接近传感器采集的每个子脉冲周期的波峰与波谷的强度值的差值；计算M个所述差值的平均值为第一平均值；计算N组所述第一平均值，每组差值的差值序号为第L个至第(M+L-1)个，L为第一平均值的组数序号，M、N、L均为正整数；计算所述N组第一平均值的平均值为第二平均值；根据所述第二平均值判断所述物体是否接近或远离所述电子装置。本专利技术提供了一个或多个包含计算机可执行指令的非易失性计算机可读存储介质，当所述计算机可执行指令被一个或多个处理器执行时，使得所述处理器执行所述接近检测方法。本专利技术提供了一种计算机设备，包括存储器及处理器，所述存储器中储存有计算机可读指令，所述指令被所述处理器执行时，使得所述处理器执行所述接近检测方法。本专利技术实施方式的接近检测方法、接近检测装置、电子装置、计算机可读存储介质和计算机设备，通过采集每个子脉冲周期波峰与波谷的的强度值的差值，然后取M个差值的平均值作为第一平均值，连续取N组第一平均值，然后计算N组第一平均值的平均值作为第二平均值，根据第二平均值来判断物体是否接近或者远离传感器。如此，能够减小环境光中的红外光对接近传感器的检测造成的干扰。本专利技术的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本专利技术的实践了解到。附图说明本专利技术的上述和/或附加的方面和优点从结合下面附图对实施方式的描述中将变得明显和容易理解，其中：图1是本专利技术实施方式的电子装置的模块示意图；图2是本专利技术实施方式的接近检测方法的脉冲信号示意图；图3是本专利技术实施方式的接近检测方法的流程示意图；图4是本专利技术实施方式的接近检测装置的模块示意图；图5是本专利技术实施方式的计算机设备的模块示意图；图6是本专利技术实施方式的电子装置的应用场景示意图；图7是本专利技术实施方式的电子装置的另一应用场景示意图；图8是本专利技术实施方式的接近检测方法的另一流程示意图；图9是本专利技术实施方式的电子装置的又一应用场景示意图；图10是本专利技术实施方式的接近检测方法的再一流程示意图；图11是本专利技术实施方式的接近检测方法的再一流程示意图；图12是本专利技术实施方式的电子装置的再一应用场景示意图；图13是本专利技术实施方式的电子装置的再一应用场景示意图；图14是本专利技术实施方式的电子装置的再一应用场景示意图。具体实施方式下面详细描述本专利技术的实施方式，所述实施方式的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施方式是示例性的，仅用于解释本专利技术，而不能理解为对本专利技术的限制。下面结合图1至图14详细描述本专利技术实施方式的接近检测方法、接近检测装置200、电子装置100、计算机可读存储介质和计算机设备300。请参阅图1至图5，本专利技术实施方式提供一种用于电子装置100的接近检测方法。电子装置100包括接近传感器162，接近传感器162用于发射红外脉冲信号，红外脉冲信号的一个脉冲周期(T)包括多个子脉冲周期(t)，每个子脉冲周期(t)包括一个波峰和一个波谷。接近检测方法包括步骤：S10：获取接近传感器162采集的每个子脉冲周期的波峰与波谷的强度值的差值；S20：计算M个差值的平均值为第一平均值；S30：计算N组第一平均值；其中，每组差值的差值序号为第L个至第(M+L-1)个，L为第一平均值的组数序号且M、N、L均为正整数；S40：计算N组第一平均值的平均值为第二平均值；S50：根据第二平均值判断物体是否接近或远离电子装置100。本专利技术实施方式还提供了一种用于电子装置100的接近检测装置200。本专利技术实施方式的接近检测方法可以由本专利技术实施方式的接近检测装置200实现。接近检测装置200包括获取模块21、判断模块22和计算模块23，步骤S10可以由获取模块21实现，步骤S20、步骤S30和步骤S40可以由计算模块23实现，步骤S50可以由判断模块22实现。即获取模块21可用于获取接近传感器162采集的每个子脉冲周期的波峰与波谷的强度值的差值。计算模块23可用于计算M个差值的平均值为第一平均值、计算N组第一平均值，每组差值的差值序号为第L个至第(M+L-1)个，L为第一平均值的组数序号以及计算N组第一平均值的平均值为第二平均值。判断模块22可用于根据第二平均值判断物体是否接近或远离电子装置100。本专利技术实施方式还提供了一种电子装置100。电子装置100包括接近传感器162和处理器24。步骤S10、步骤S20、步骤S30和步骤S40可以由处理器24实现。也即是说，处理器24可用于获取接近传感器162采集的每个子脉冲周期的波峰与波谷的强度值的差值、计算M个差值的平均值为第一平均值以及计算N组第一平均值，每组差值的差值序号为第L个至第(M+L-1)个，L为第一平均值的组数序号以及计算N组第一平均值的平均值为第二平均值，并且根据第二平均值判断物体是否接近或远离电子装置100。本专利技术实施方式还提供了一种计算机设备300。在本专利技术的实施例中，接近检测装置200可以运用到计算机设备300中。计算机设备300可以本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种接近检测方法，用于电子装置，其特征在于，所述电子装置包括接近传感器，所述接近传感器用于发射红外脉冲信号，所述红外脉冲信号的一个脉冲周期包括多个子脉冲周期，每个子脉冲周期包括一个波峰和一个波谷，所述控制方法包括步骤：获取所述接近传感器采集的每个子脉冲周期的波峰与波谷的强度值的差值；计算M个所述差值的平均值为第一平均值；计算N组所述第一平均值，每组差值的差值序号为第L个至第(M+L‑1)个，L为第一平均值的组数序号，M、L、N均为正整数；计算所述N组第一平均值的平均值为第二平均值；和根据所述第二平均值判断所述物体是否接近或远离所述电子装置。
【技术特征摘要】
1.一种接近检测方法，用于电子装置，其特征在于，所述电子装置包括接近传感器，所述接近传感器用于发射红外脉冲信号，所述红外脉冲信号的一个脉冲周期包括多个子脉冲周期，每个子脉冲周期包括一个波峰和一个波谷，所述控制方法包括步骤：获取所述接近传感器采集的每个子脉冲周期的波峰与波谷的强度值的差值；计算M个所述差值的平均值为第一平均值；计算N组所述第一平均值，每组差值的差值序号为第L个至第(M+L-1)个，L为第一平均值的组数序号，M、L、N均为正整数；计算所述N组第一平均值的平均值为第二平均值；和根据所述第二平均值判断所述物体是否接近或远离所述电子装置。2.如权利要求1所述的接近检测方法，其特征在于，所述接近检测方法包括步骤：检测当前环境光的亮度值；和在所述亮度值大于或等于亮度预定阈值时，获取所述接近传感器采集的每个子脉冲周期的波峰与波谷的强度值的差值。3.如权利要求2所述的接近检测方法，其特征在于，所述接近检测方法包括步骤：当所述亮度值小于所述亮度预定阈值时，根据在任一子脉冲周期的波峰时所述接近传感器采集的强度值判断所述物体是否接近或远离所述电子装置。4.如权利要求2所述的接近检测方法，其特征在于，所述检测当前环境光的亮度值的步骤包括：获取当前环境的多帧图像；和根据所述多帧图像计算当前环境的所述亮度值。5.如权利要求2所述的接近检测方法，其特征在于，在所述亮度值大于或等于亮度预定阈值时，获取所述接近传感器采集的每个子脉冲周期的波峰与波谷的强度值的差值的步骤包括：检测所述电子装置的倾斜角度；和在所述倾斜角度小于角度预定阈值时，获取所述接近传感器采集的每个子脉冲周期的波峰与波谷的强度值的差值。6.如权利要求5所述的接近检测方法，其特征在于，所述接近检测方法包括步骤：当所述倾斜角度大于或等于角度预定阈值时，根据在任一子脉冲周期的波峰时所述接近传感器采集的强度值判断所述物体是否接近或远离所述电子装置。7.一种接近检测装置，用于电子装置，其特征在于，所述电子装置包括接近传感器，所述接近传感器用于发射红外脉冲信号，所述红外脉冲信号的一个脉冲周期包括多个子脉冲周期，每个子脉冲周期包括一个波峰和一个波谷，所述接近检测装置包括：获取模块，用于获取所述接近传感器采集的每个子脉冲周期的波峰与波谷的强度值的差值；计算模块，用于计算M个所述差值的平均值为第一平均值，所述计算模块还用于计算N组所述第一平均值，每组差值的差值序号为第L个至第(M+L-1)个，L为第一平均值的...
【专利技术属性】
技术研发人员：马静一，
申请(专利权)人：OPPO广东移动通信有限公司，
类型：发明
国别省市：广东,44
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