一种老化测试方法技术

本发明专利技术涉及电子产品测试技术领域，具体公开了一种老化测试方法，包括如下步骤：步骤1，提供一老化测试机，其中所述老化测试机包括老化炉体、设置于所述老化炉体一侧的搬运通道以及设置于所述搬运通道内的搬运装置；步骤2，加载待老化的面板于所述搬运装置上，并将所述面板与测试压头结合形成待老化工件；步骤3，将所述待老化工件搬运至所述老化炉体并进行老化；步骤4，将老化测试后的所述面板搬运出所述老化测试机。本发明专利技术提供的老化测试方法使得面板由未测试状态到测试后的状态的过程均无需人工操作，提高了工作效率，同时还净化了面板老化测试过程中的环境，避免工作人员将灰尘等异物带到面板上。

【技术实现步骤摘要】
一种老化测试方法
本专利技术涉及电子产品测试
，尤其涉及一种老化测试方法。
技术介绍
面板，如液晶面板，在出厂前需要在老化炉体中进行老化测试，以确定产品为合格品。现有技术中，往往采用人工将面板与载具上的测试压头结合，再将设置有面板的载具搬运至老化炉体中进行测试，最后由人工将面板由老化炉体中取出，并将面板与测试压头分离，由载具上取下面板。但采用人工操作效率低，无法满足生产要求。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种老化测试方法，以提高面板老化测试效率。为达此目的，本专利技术采用以下技术方案：一种老化测试方法，包括如下步骤：步骤1，提供一老化测试机，其中所述老化测试机包括老化炉体、设置于所述老化炉体一侧的搬运通道以及设置于所述搬运通道内的搬运装置；步骤2，加载待老化的面板于所述搬运装置上，并将所述面板与测试压头结合形成待老化工件；步骤3，将所述待老化工件搬运至所述老化炉体并进行老化；步骤4，将老化测试后的所述面板搬运出所述老化测试机。作为优选，所述步骤2包括：步骤21，将设置有测试压头的载具加载于所述搬运装置上；步骤22，加载待老化的所述面板于所述载具上；步骤23，将所述面板与所述载具上的所述测试压头结合形成所述待老化工件。作为优选，所述搬运装置包括用于使所述面板和所述测试压头结合的对位模组，所述步骤21包括：步骤211，将空置的载具加载于所述对位模组。作为优选，所述对位模组包括下压组件，所述步骤21还包括：步骤212，驱动所述下压组件下压，使得所述载具上的所述测试压头抬起；所述步骤23还包括：驱动所述下压组件抬起，使得所述测试压头下压与所述面板结合。作为优选，所述搬运装置包括用于搬运载具的输送模组，所述步骤3包括：步骤31，驱动所述输送模组加载所述待老化工件；步骤32，驱动所述输送模组搬运所述待老化工件至所述老化炉体。作为优选，所述步骤3还包括：步骤33，将所述待老化工件与所述老化炉体内的信号发生单元连接；步骤34，对所述待老化工件进行老化测试。作为优选，所述步骤4还包括：步骤41，将老化测试后的工件与所述老化炉体内的信号发生单元断开。作为优选，所述搬运装置包括搬出模组，所述步骤4包括：步骤42，驱动所述输送模组将老化测试后的工件搬出所述老化炉体并搬运至所述搬出模组；步骤43，驱动所述搬出模组将所述工件上的所述面板与所述测试压头分离；步骤44，驱动所述搬出模组将所述面板搬出所述老化测试机。作为优选，所述步骤44后还包括：步骤45，驱动所述输送模组将空置的载具搬运至所述老化炉体内；或者驱动所述输送模组将空置的载具搬运至所述对位模组。作为优选，所述步骤45包括：步骤451，驱动所述输送模组将空置的载具自所述搬出模组上卸载；步骤452，驱动所述输送模组将空置的载具搬运至所述老化炉体内；或者驱动所述输送模组将空置的载具搬运至所述对位模组。本专利技术的有益效果：本专利技术提供的老化测试方法使得面板由未测试状态到测试后的状态的过程均无需人工操作，提高了工作效率，同时还净化了面板老化测试过程中的环境，避免工作人员将灰尘等异物带到面板上。附图说明图1是本专利技术实施例一提供的老化测试机的俯视图；图2是本专利技术实施例一提供的入料模组和对位模组的结构示意图；图3是本专利技术实施例一提供的入料模组的结构示意图；图4是图2中A处的放大图；图5是本专利技术实施例一提供的对位模组的部分结构示意图；图6是本专利技术实施例一提供的载具的剖视图；图7是本专利技术实施例一提供的输送模组的部分结构示意图；图8是本专利技术实施例一提供的搬出模组的结构示意图；图9是本专利技术实施例一提供的搬出模组的另一视角的结构示意图；图10是图8中B处的放大图；图11是本专利技术实施例一提供的搬出模组的搬运组件的结构示意图。图中：1、老化炉体；2、搬运通道；21、通道入口；22、通道出口；3、入料模组；31、入料吸附平台；32、入料旋转驱动件；33、第一驱动件；34、第一导轨；35、第二驱动件；4、对位模组；42、移动臂；421、移动臂吸盘支架；422、移动臂驱动件；4221、水平驱动件；4222、竖直驱动件；423、移动臂吸盘；424、位置补正组件；43、测位组件；44、第五驱动件；45、下压组件；451、压头；452、安装板；453、第三驱动件；454、第四驱动件；511、搬运驱动件；512、底座；6、输送模组；61、第二导轨；62、输送机构；63、输送驱动组件；64、输送载物台；7、搬出模组；71、吸附组件；711、吸嘴；712、电磁阀；713、分流组件；72、吸附支架；73、搬运组件；731、滑轨；732、搬运吸附平台；733、通气孔；74、置物台；75、竖直驱动机构；76、水平驱动机构；77、支架滑轨；78、支架滑块；79、压接解开机构；791、解开板；792、支板；793、解开板驱动气缸；10、载具；101、托板；102、压块组件；1021、连接座；1022、压块；1023、拨杆；1024、弹性件；1025、挡销；20、工作支架。具体实施方式下面结合附图并通过具体实施方式来进一步说明本专利技术的技术方案。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本专利技术，而非对本专利技术的限定。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与本专利技术相关的部分而非全部。实施例一本实施例一提供了一种老化测试机，用于电子产品的老化试验中，以提高其自动化程度和工作效率。如图1所示，本实施例提供的老化测试机包括老化炉体1、搬运通道2和搬运装置。搬运通道2设置于老化炉体1的一侧，搬运通道2包括分别设置于其两端的通道入口21和通道出口22；对位模组4设置于搬运通道2内，用于将面板和测试压头结合形成待老化工件；搬运装置设置于搬运通道2内，用于将面板由通道入口21运送至对位模组4内、将待老化工件输送至老化炉体1内，并将老化测试后的工件由老化炉体1搬出，及将老化测试后的面板搬运至通道出口22。在本实施例中，测试压头包括压块1022和连接于压块1022下端的电路板，在其它实施例中，连接于压块1022下端的还可以不连接电路板，而是压块1022下端连接探针；待老化工件是指设置有面板和测试压头的载具10，且面板与测试压头结合成功；老化测试后的工件是指在老化炉体1内进行测试后的面板和具有测试压头的载具10。本实施例中，载具10用于承载面板，其中，将仅设置有测试压头的载具10称为空载的载具10，将承载有待老化工件的载具10称为满载的载具10，待老化工件是指面板老化前的满载的载具10，老化测试后的工件是指面板老化测试后的满载的载具10。如图1所示，在本实施例中规定，搬运通道2的长度方向为X方向，竖直方向为Z方向，与X和Z方向垂直的方向为Y方向。在本实施例中，沿搬运通道2的长度方向的两侧均设置有老化炉体1，搬运装置能够将待老化工件放置于搬运通道2两侧的老化炉体1中。搬运通道2两侧均设置老化炉体1，提高了空间利用率、搬运装置的利用率及提高了老化测试机的工作效率。进一步的，搬运装置包括由通道入口21向通道出口22所在侧依次设置的入料模组3、对位模组4及搬出模组7，其中，入料模组3设置在靠近通道入口21的一端，搬出模组7设置在通道出口22的一端。搬运装置还包括输送模组6，输送模组6间隔设置有两组，两组输送模组6分别设置在两组老化炉体1相本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种老化测试方法，其特征在于，包括如下步骤：步骤1，提供一老化测试机，其中所述老化测试机包括老化炉体(1)、设置于所述老化炉体(1)一侧的搬运通道(2)以及设置于所述搬运通道(2)内的搬运装置；步骤2，加载待老化的面板于所述搬运装置上，并将所述面板与测试压头结合形成待老化工件；步骤3，将所述待老化工件搬运至所述老化炉体(1)并进行老化；步骤4，将老化测试后的所述面板搬运出所述老化测试机。

【技术特征摘要】
1.一种老化测试方法，其特征在于，包括如下步骤：步骤1，提供一老化测试机，其中所述老化测试机包括老化炉体(1)、设置于所述老化炉体(1)一侧的搬运通道(2)以及设置于所述搬运通道(2)内的搬运装置；步骤2，加载待老化的面板于所述搬运装置上，并将所述面板与测试压头结合形成待老化工件；步骤3，将所述待老化工件搬运至所述老化炉体(1)并进行老化；步骤4，将老化测试后的所述面板搬运出所述老化测试机。2.根据权利要求1所述的老化测试方法，其特征在于，所述步骤2包括：步骤21，将设置有所述测试压头的载具(10)加载于所述搬运装置上；步骤22，加载待老化的所述面板于所述载具(10)上；步骤23，将所述面板与所述载具(10)上的所述测试压头结合形成所述待老化工件。3.根据权利要求2所述的老化测试方法，其特征在于，所述搬运装置包括用于使所述面板和所述测试压头结合的对位模组(4)，所述步骤21包括：步骤211，将空置的载具(10)加载于所述对位模组(4)。4.根据权利要求3所述的老化测试方法，其特征在于，所述对位模组(4)包括下压组件(45)，所述步骤21还包括：步骤212，驱动所述下压组件(45)下压，使得所述载具(10)上的所述测试压头抬起；所述步骤23还包括：驱动所述下压组件(45)抬起，使得所述测试压头下压与所述面板结合。5.根据权利要求3所述的老化测试方法，其特征在于，所述搬运装置包括用于搬运载具(10)的输送模组(6)，所述步骤3包括：步骤31，驱动所述输送模组...

【专利技术属性】
技术研发人员：高长华，
申请(专利权)人：苏州精濑光电有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏,32