【技术实现步骤摘要】
一种用于温度对镜头焦距影响测试的温控治具和方法
本专利技术涉及光学系统热稳定性
，尤其涉及一种用于温度对镜头焦距影响测试的温控治具和方法。
技术介绍
光学系统的各个元件受结构及周围环境的温度场影响对像质的破坏作用早已是人们的共识，多年来，各国技术人员一直致力于发展和提高结构设计和热设计的水平以保证光学系统的性能。航拍技术以及全景技术的发展，促使光学系统需要追求更高质量的精准度和清晰度，其中定焦模组由于对焦速度快，成像质量稳定的优点被广泛应用于航拍相机以及全景相机中，但此类模组的解像率随温度变化极为敏感。目前，解像率问题把控主要通过镜头模组在出厂前对镜头模组在经过耐受实验前后进行解像力进行测试，测试结果满足解像力出厂要求的镜头模组才能够出厂的方式，其中，耐受实验是指将镜头模组置于严苛的环境(例如高温环境或高温高湿环境)一定时间，以测试镜头模组的耐受能力。如公开号为CN105657416A专利文献公开的“一种摄像模组解像力检测方法及检测系统”，首先将摄像模组设置于温湿度控制箱中；然后通过设置增距镜，并调节增距镜、摄像模组及温湿度控制箱之间的距离，满足测试要求；最...
【技术保护点】
1.一种用于温度对镜头焦距影响测试的温控治具，其特征在于，包括温控调节器和加热器（100），所述加热器（100）包括保护罩（110）、加热体（120）以及隔热底座（130），所述保护罩（110）设于所述加热体（120）外，所述保护罩（110）具有入口端口（111），所述加热体（120）具有中空部（121），所述隔热底座（130）具有通光孔（131），所述入口端口（111）、所述中空部（121）以及所述通光孔（131）三者相互连通，所述加热体（120）与所述温控调节器电连接。
【技术特征摘要】
1.一种用于温度对镜头焦距影响测试的温控治具，其特征在于，包括温控调节器和加热器（100），所述加热器（100）包括保护罩（110）、加热体（120）以及隔热底座（130），所述保护罩（110）设于所述加热体（120）外，所述保护罩（110）具有入口端口（111），所述加热体（120）具有中空部（121），所述隔热底座（130）具有通光孔（131），所述入口端口（111）、所述中空部（121）以及所述通光孔（131）三者相互连通，所述加热体（120）与所述温控调节器电连接。2.根据权利要求1所述的一种用于温度对镜头焦距影响测试的温控治具，其特征在于，所述通光孔（131）处设有镜头支架（200），所述镜头支架（200）设有镜头放置口（210）和与所述镜头放置口（210）连接的支撑脚（220），所述镜头放置口（210）与所述通光孔（131）相互连通。3.根据权利要求1所述的一种用于温度对镜头焦距影响测试的温控治具，其特征在于，所述隔热底座（130）设有容置腔（132），所述容置腔（132）底部设有凸台（133），所述通光孔（131）贯穿所述凸台（133）和所述隔热底座（130）设置，所述加热体（120）的底面与所述容置腔（132）底部相抵接，所述加热体（120）的外侧面与所述容置腔（132）的内侧面相抵接，所述加热体（120）的内侧面与所述凸台（133）的外侧面相抵接，所述保护罩（110）罩设于所述加热体（120）外并与所述隔热底座（130）相抵接。4.根据权利要求2所述的一种用于温度对镜头焦距影响测试的温控治具，其特征在于，所述通光孔（131）的外围设有定位部（134），所述镜头支架（200）的所述支撑脚（220）限位于所述定位部（134）。5.根据权利要求4所述的一种用于温度对镜头焦距影响测试的温控治具，其特征在于，所述定位部（134）为多个间隔环绕分布于所述通光孔（131）外围的定位插孔（1341），所述支撑脚（220）插设于所述定位插孔（1341），所述支撑脚（220）与所述定位插孔（1341）为可拆卸插接。6.根据权利要求4所述的一种用于温度对镜头焦距影响测试的温控治具，其特征在于，所述定位部（134）为环形凹槽，所述镜头支架（200）的所述支撑脚（220）限位于所述环形凹槽。7.根据权利要求1所述的一种用于温度对镜头焦距影响测试的温控治具，其特征在于，所述加热体（120）上设有手柄（122），所述隔热底座（130）上设有支撑固定块（135），所述手柄（122）设于所述支撑固定块（135）上并与其可拆卸连接。8....
【专利技术属性】
技术研发人员：罗孟杰，洪铁迪，潘周权，
申请(专利权)人：余姚舜宇智能光学技术有限公司，
类型：发明
国别省市：浙江,33
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