算法库的测试方法、装置、存储介质及电子设备制造方法及图纸

技术编号:19691624 阅读:36 留言:0更新日期:2018-12-08 11:07
本申请公开了一种算法库的测试方法、装置、存储介质及电子设备。该方法可以包括:当需要进行算法库的测试时,获取该电子设备所在场景的影像;根据该电子设备所在场景的影像,确定测试输入数据的来源;根据确定出的测试输入数据的来源,获取用作测试输入数据的目标数据;根据该目标数据,对该算法库进行测试。本申请可以提高电子设备进行算法库的测试的灵活性。

【技术实现步骤摘要】
算法库的测试方法、装置、存储介质及电子设备
本申请属于终端
,尤其涉及一种算法库的测试方法、装置、存储介质及电子设备。
技术介绍
随着技术的快速发展,电子设备具备的功能越来越多。电子设备上的许多功能是通过算法来实现的,因此电子设备系统上集成了各种各样的算法库。一般的,电子设备系统上集成的算法库会根据需要进行迭代更新。在对算法库进行更新前,需要在电子设备上对新旧版本的算法库进行各种测试,以判断新旧版本的算法库在性能上的优劣。然而相关技术中,电子设备在对算法库进行测试时其灵活性仍然较差。
技术实现思路
本申请实施例提供一种算法库的测试方法、装置、存储介质及电子设备,可以提高电子设备进行算法库的测试的灵活性。本申请实施例提供一种算法库的测试方法,应用于电子设备,包括:当需要进行算法库的测试时,获取所述电子设备所在场景的影像;根据所述电子设备所在场景的影像,确定测试输入数据的来源;根据确定出的测试输入数据的来源,获取用作测试输入数据的目标数据;根据所述目标数据,对所述算法库进行测试。本申请实施例提供一种算法库的测试装置,应用于电子设备,包括:第一获取模块,用于当需要进行算法库的测试时,获取本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种算法库的测试方法,应用于电子设备,其特征在于,包括:当需要进行算法库的测试时,获取所述电子设备所在场景的影像;根据所述电子设备所在场景的影像,确定测试输入数据的来源;根据确定出的测试输入数据的来源,获取用作测试输入数据的目标数据;根据所述目标数据,对所述算法库进行测试。

【技术特征摘要】
1.一种算法库的测试方法,应用于电子设备,其特征在于,包括:当需要进行算法库的测试时,获取所述电子设备所在场景的影像;根据所述电子设备所在场景的影像,确定测试输入数据的来源;根据确定出的测试输入数据的来源,获取用作测试输入数据的目标数据;根据所述目标数据,对所述算法库进行测试。2.根据权利要求1所述的算法库的测试方法,其特征在于,根据所述电子设备所在场景的影像,确定测试输入数据的来源的步骤,包括:根据所述电子设备所在场景的影像,确定出所述场景中包含的预设类型的平面个数;若所述平面个数小于预设第一数量,则确定出测试输入数据的来源为预先采集的数据。3.根据权利要求2所述的算法库的测试方法,其特征在于,在确定出所述场景中包含的平面个数的步骤之后,还包括:若所述平面个数大于或等于预设数量,则识别所述场景中所有预设类型的平面上的特征点,并统计所述特征点的个数;若所述特征点的个数大于或等于预设第二数量,则确定出测试输入数据的来源为获取到的所述电子设备所在场景的影像。4.根据权利要求3所述的算法库的测试方法,其特征在于,若所述特征点的个数大于或等于预设第二数量,则确定出测试输入数据的来源为获取到的所述电子设备所在场景的影像的步骤,包括:若所述特征点的个数大于或等于预设第二数量,则获取电子设备拍摄所在场景的影像时的环境光亮度值;若所述环境光亮度值处于预设数值范围,则确定出测试输入数据的来源为获取到的所述电子设备所在场景的影...

【专利技术属性】
技术研发人员:张烨
申请(专利权)人:OPPO重庆智能科技有限公司
类型:发明
国别省市:重庆,50

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