全反射X荧光光谱仪的样品盘定位装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了全反射X荧光光谱仪的样品盘定位装置，包括探测器和样品盘本体，所述探测器通过支架固定于工作台面的上方，所述样品盘本体的两侧卡入两个定位板的侧面，两个所述定位板的底面均固定连接有防滑垫，所述防滑垫设于工作台面上表面，左侧的所述防滑垫右侧与轴承的外圈固定连接，所述轴承的内圈与螺纹杆的一端固定连接，所述螺纹杆上活动套设有连接块，所述连接块通过蜗轮蜗杆与压板固定连接，所述压板与样品盘本体的底面相接触。本新型将样品盘本体卡入设有卡槽的定位板中，通过对其作用有横向方向上紧凑力度和竖直方向上的托举力，从而防止样品盘本体在工作台面上发生移动。

【技术实现步骤摘要】
全反射X荧光光谱仪的样品盘定位装置
本技术涉及全反射X荧光光谱仪
，具体为全反射X荧光光谱仪的样品盘定位装置。
技术介绍
X荧光光谱仪(XRF)由激发源(X射线管)和探测系统构成。X射线管产生入射X射线(一次X射线)，激发被测样品，产生X荧光(二次X射线)，探测器对X荧光进行检测。受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线，并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量。然后，仪器软件将探测系统所收集到的信息转换成样品中各种元素的种类及含量。X荧光光谱仪根据各元素的特征X射线的强度，可以测定元素含量。近年来，X荧光光谱分析在各行业应用范围不断拓展，已成为一种广泛应用于冶金、地质、有色、建材、商检、环保、卫生等各个领域，特别是在RoHS检测领域应用得最多也最广泛。大多数分析元素均可用其进行分析，可分析固体、粉末、熔珠、液体等样品，分析范围为Be到U。并且具有分析速度快、测量范围宽、干扰小的特点。在XRF进行探测时，待检测的样品置于样品盘中，将样品盘置于于探测器正下方进行探测，在实际操作过程中，为找到精确的探测角度，工作人员习惯性的会将仪器进行移动，这就多少会出现本已校准位置的样品盘发生滑动，从而导致探测失败。基于上述原因，提供一种全反射X荧光光谱仪的样品盘定位装置，用来将样品盘固定于探测器下方，防止工作人员的习惯性使然导致探测失败的情况。
技术实现思路
本技术的目的在于提供全反射X荧光光谱仪的样品盘定位装置，用来将样品盘固定于探测器下方，防止工作人员的习惯性使然导致探测失败的情况，以解决上述背景技术中提出的问题。为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：全反射X荧光光谱仪的样品盘定位装置，包括探测器和样品盘本体，所述探测器通过支架固定于工作台面的上方，所述样品盘本体的两侧卡入两个定位板的侧面，两个所述定位板的底面均固定连接有防滑垫，所述防滑垫设于工作台面上表面，左侧的所述防滑垫右侧与轴承的外圈固定连接，所述轴承的内圈与螺纹杆的一端固定连接，所述螺纹杆的右端贯穿右侧的防滑垫，所述螺纹杆上活动套设有连接块，所述连接块通过蜗轮蜗杆与压板固定连接，所述压板与样品盘本体的底面相接触。优选的，所述螺纹杆的右端头固定有第二旋钮。优选的，所述连接块设有两块，对应的所述蜗轮蜗杆和压板的数量也为两个。优选的，所述定位板的一侧设有卡槽。优选的，所述卡槽的高度与样品盘本体的高度相同。优选的，所述连接块的侧面设有螺纹孔。优选的，所述连接块的一侧设有第一旋钮，所述第一旋钮的转轴与蜗轮蜗杆的蜗轮固定连接，所述第一旋钮为固定旋钮。本技术的有益效果是：1.本技术通过将样品盘两侧嵌入两块定位板中，同时在定位板下方固定连接防滑垫，将两防滑垫之间通过螺纹杆进行连接，将螺纹杆转动时可以调节两防滑垫之间的紧凑程度，在竖直方向上，通过在螺纹杆上安装蜗轮蜗杆，可以对样品盘施加向上的托举力，从而避免样品盘在工作台面上的移动；附图说明图1为本技术的结构示意图；图2为本技术的定位板结构示意图；图3为本技术的连接块的俯视图；图4为本技术的连接块的右视图。图中：1探测器、2支架、3工作台面、4定位板、5样品盘本体、6防滑垫、7压板、8蜗轮蜗杆、9连接块、10第一旋钮、11螺纹杆、12第二旋钮、13螺纹孔、14卡槽、15轴承。具体实施方式下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。在不同附图中以相同标号来标示相同或类似组件；另外请了解文中诸如“第一”、“第二”、“第三”、“上”、“下”、“前”、“后”、“内”、“外”、“端”、“部”、“段”、“宽度”、“深度”、“腔”等等及类似用语仅便于看图者参考图中构造以及仅用于帮助描述本技术而已，并非是对本技术的限定。请参阅图1-4，本技术提供一种技术方案：全反射X荧光光谱仪的样品盘定位装置，包括探测器1和样品盘本体5，所述探测器1通过支架2固定于工作台面3的上方，所述样品盘本体5的两侧卡入两个定位板4的侧面，两个所述定位板4的底面均固定连接有防滑垫6，所述防滑垫6设于工作台面3上表面，左侧的所述防滑垫6右侧与轴承15的外圈固定连接，所述轴承15的内圈与螺纹杆11的一端固定连接，所述螺纹杆11的右端贯穿右侧的防滑垫6，所述螺纹杆11上活动套设有连接块9，所述连接块9通过蜗轮蜗杆8与压板7固定连接，所述压板7与样品盘本体5的底面相接触。具体的，所述螺纹杆11的右端头固定有第二旋钮12,用于将两块防滑垫6进行加紧，从而使样品盘本体5在横向上保证不发生移动。具体的，所述连接块9设有两块，对应的所述蜗轮蜗杆8和压板7的数量也为两个，使样品盘本体5在卡槽14中受到向上的托力。具体的，所述定位板4的一侧设有卡槽14，用于将样品盘本体5进行限位。具体的，所述卡槽14的高度与样品盘本体5的高度相同，以便于样品盘本体5能够与定位板4上的卡槽14卡和连接。具体的，所述连接块9的侧面设有螺纹孔13，用于安装螺纹杆11。具体的，所述连接块9的一侧设有第一旋钮10，所述第一旋钮10的转轴与蜗轮蜗杆8的蜗轮固定连接，所述第一旋钮10为固定旋钮，调节第一旋钮10使蜗轮蜗杆8上下移动，固定旋钮自带锁定功能，可防止蜗轮蜗杆8内的蜗轮发生倒转。工作原理：在使用本技术时，首先将样品盘本体5的一侧卡入定位板4上的卡槽14中，旋转第二旋钮12，使样品盘本体5的另一侧卡入另一定位板4的卡槽14中，旋紧第二旋钮12，增加两防滑垫6之间的紧凑度，从而使样品盘本体5在横向方向上被夹紧，通过调节第一旋钮10，使蜗轮蜗杆8的蜗杆向上顶压样品盘本体5底面，使样品盘本体5的底面受到向上的托举力，从而能够避免样品盘本体5在工作台面3上的移动。尽管已经示出和描述了本技术的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本技术的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本技术的范围由所附权利要求及其等同物限定。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.全反射X荧光光谱仪的样品盘定位装置，包括探测器(1)和样品盘本体(5)，其特征在于：所述探测器(1)通过支架(2)固定于工作台面(3)的上方，所述样品盘本体(5)的两侧卡入两个定位板(4)的侧面，两个所述定位板(4)的底面均固定连接有防滑垫(6)，所述防滑垫(6)设于工作台面(3)上表面，左侧的所述防滑垫(6)右侧与轴承(15)的外圈固定连接，所述轴承(15)的内圈与螺纹杆(11)的一端固定连接，所述螺纹杆(11)的右端贯穿右侧的防滑垫(6),所述螺纹杆(11)上活动套设有连接块(9)，所述连接块(9)通过蜗轮蜗杆(8)与压板(7)固定连接，所述压板(7)与样品盘本体(5)的底面相接触。

【技术特征摘要】
1.全反射X荧光光谱仪的样品盘定位装置，包括探测器(1)和样品盘本体(5)，其特征在于：所述探测器(1)通过支架(2)固定于工作台面(3)的上方，所述样品盘本体(5)的两侧卡入两个定位板(4)的侧面，两个所述定位板(4)的底面均固定连接有防滑垫(6)，所述防滑垫(6)设于工作台面(3)上表面，左侧的所述防滑垫(6)右侧与轴承(15)的外圈固定连接，所述轴承(15)的内圈与螺纹杆(11)的一端固定连接，所述螺纹杆(11)的右端贯穿右侧的防滑垫(6),所述螺纹杆(11)上活动套设有连接块(9)，所述连接块(9)通过蜗轮蜗杆(8)与压板(7)固定连接，所述压板(7)与样品盘本体(5)的底面相接触。2.根据权利要求1所述的全反射X荧光光谱仪的样品盘定位装置，其特征在于：所述螺纹杆(11)的右端头固定有第二旋钮(...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈伟，
申请(专利权)人：成都航空职业技术学院，
类型：新型
国别省市：四川,51