The invention relates to the technical field of watt-hour meters, in particular to a power-off detection method for watt-hour meters, which includes the following steps: S1, detecting the power-off status of watt-hour meters by measuring chips, jumping to B if the power-off information is detected, jumping to 2, jumping to Source monitoring circuit or power comparator installed on IO interface of MCU can detect the power-off status of watt-hour meter. If the power-off information is detected, the power-off detection function of the measurement chip is judged to be damaged first, and the damaged information is transmitted to MCU, then jumped to the next step. If no power-off information is detected, the watt-off signal will be returned to E again. Detection; S3, judging that the electric energy meter is in power-off state, and the information of power-off state is transmitted to MCU. This method can detect the power-off information earlier, and then provide more power-off protection time.
【技术实现步骤摘要】
一种电能表掉电检测方法
本专利技术涉及电能表
,尤其涉及一种电能表掉电检测方法。
技术介绍
现有技术电能表掉电检测主要是依靠MCU自带的电源监测电路或者设置在MCU的IO接口上的电源比较器来实现掉电检测的,但是检测的都是电源电路的输出端,所以这种检测方法检测到的掉电时间比较晚,进而使得掉电保护时间比较短,即在电源断开输入后,输出给系统正常供电的时间比较短,这样就导致了备用电源可能连接不及时,或者备用电池欠压,或者数据备份不及时,最终会导致数据存储不可靠或者状态混乱等不可预估的问题。
技术实现思路
本专利技术所要解决的技术问题是:提供一种电能表掉电检测方法,采用这种方法能较早的检测到掉电信息,进而提供较多的掉电保护时间。本专利技术所采用的技术方案是:一种电能表掉电检测方法,它包括以下步骤:S1、通过计量芯片检测电能表的掉电状态,若检测到掉电信息,则跳转到步骤S3,若没有检测到掉电信息,则跳转到步骤S2;S2、通过MCU自带的电源监测电路或者设置在MCU的IO接口上的电源比较器来检测电能表的掉电状态,若检测到掉电信息,则首先判断计量芯片的掉电检测功能损坏,将损坏信息传递给MCU,然后跳转到下一步;若没有检测到掉电信息,则返回步骤S1重新检测;S3、判断电能表处于掉电状态,并且将掉电状态信息传递给MCU。步骤S1具体包括以下步骤:S11、读取计量芯片中电压暂降状态寄存器;S12、判断电压暂降状态寄存器中的A、B、C相是否均暂降,若均暂降,则暂降次数加1,然后跳转到下一步,若没有均暂降,则暂降次数清零,然后继续重复本步骤;S13、判断暂降次数是否大于等于X次,若 ...
【技术保护点】
1.一种电能表掉电检测方法,其特征在于,它包括以下步骤:S1、通过计量芯片检测电能表的掉电状态,若检测到掉电信息,则跳转到步骤S3,若没有检测到掉电信息,则跳转到步骤S2;S2、通过MCU自带的电源监测电路或者设置在MCU的IO接口上的电源比较器来检测电能表的掉电状态,若检测到掉电信息,则首先判断计量芯片的掉电检测功能损坏,将损坏信息传递给MCU,然后跳转到下一步;若没有检测到掉电信息,则返回步骤S1重新检测;S3、判断电能表处于掉电状态,并且将掉电状态信息传递给MCU。
【技术特征摘要】
1.一种电能表掉电检测方法,其特征在于,它包括以下步骤:S1、通过计量芯片检测电能表的掉电状态,若检测到掉电信息,则跳转到步骤S3,若没有检测到掉电信息,则跳转到步骤S2;S2、通过MCU自带的电源监测电路或者设置在MCU的IO接口上的电源比较器来检测电能表的掉电状态,若检测到掉电信息,则首先判断计量芯片的掉电检测功能损坏,将损坏信息传递给MCU,然后跳转到下一步;若没有检测到掉电信息,则返回步骤S1重新检测;S3、判断电能表处于掉电状态,并且将掉电状态信息传递给MCU。2.根据权利要求1所述的一种电能表掉电检测方法,其特征在于,步骤S1具体包括以下步骤:S11、读取计量芯片中电压暂降状态寄存器;S12、判断电压暂降状态寄存器中的A、B、C相是否均暂降,若均暂降,则暂降次数加1,然后跳转到下一步,若没有均暂降,则暂降次数清零,然后继续重复本步骤;S13、判断暂降次数是否大于等于X次,若是,则计量芯片输出掉电信号,若否,则返回步骤S12。3.根据权利要求2所述的一种电能表掉电检测方法,其特征在于:所述X为两次。4.根据权利要求2...
【专利技术属性】
技术研发人员:刘俊,
申请(专利权)人:宁波三星智能电气有限公司,
类型:发明
国别省市:浙江,33
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