一种信号偏差的校正方法、装置及设备制造方法及图纸

本申请公开一种信号偏差的校正方法、装置及设备，所述方法包括：获取光电器件拾取到的亮度信号，然后，从限束器控制板获取限束器的位置信息，进而可以计算出该位置信息对应的校正系数，接着，利用该校正系数对亮度信号进行校正，得到自动曝光控制AEC信号，该AEC信号用于控制X射线的曝光时间。可见，本申请实施例根据限束器的位置计算出校正系数，并利用该校正系数对亮度信号进行校正，得到校正后的AEC信号，从而消除了由于限束器开口变化导致的信号偏差，使得输出屏上的有效图像亮度适于医学诊断。

【技术实现步骤摘要】
一种信号偏差的校正方法、装置及设备
本申请涉及医学数据处理领域，具体涉及一种信号偏差的校正方法、装置及设备。
技术介绍
在X射线摄影技术中，自动曝光控制(AutomaticExposureControl；AEC)技术是广泛采用的图像亮度控制技术。它通过探测穿过被照人体到达影像接收器的射线量，从而控制X射线曝光时间，可以使对不同部位、不同患者所拍摄的X射线照片具有相同的感光量，解决了照片感光量不一致的问题。目前在基于由影像增强器和摄像机(Intensifier/TVcamera；IITV)构成的X线机中，AEC技术的实现如下：X线管产生的射线穿过人体到达影像增强器，在影像增强器的输出屏上产生图像，用于拾取输出屏上图像亮度的光电敏感器件产生的电荷将转换为电压信号，由于其产生电荷量的大小与影像增强器的亮度有关，因此由光电敏感器件产生的电荷转换的电压信号的大小就可以代表荧光图像的亮度，通过控制X射线曝光时间使得电压信号达到一定阈值，能够使影像增强器输出屏上产生的图像具有相同的感光量。但是，当X线机中的限束器开口大小有变化时，会导致影像增强器的输出屏上的有效图像大小存在变化，例如，限束器开口变小会导致影像增强器的输出屏上的有效图像变小，即部分图像被限束器的铅页遮挡，因此光电敏感器件拾取到的图像亮度变小，即光电敏感器件产生的电荷量变小，进一步导致转换的电压信号变小，上述AEC技术为了保持影像增强器输出屏上产生的图像感光量不变，即控制电压信号达到一定阈值，需要控制X射线曝光时间延长。上述处理方式会导致输出屏上的有效图像的实际图像亮度过大，即过度曝光，不利于医学诊断。可见，限束器开口变化会导致输出屏上的有效图像亮度不适于医学诊断。
技术实现思路
有鉴于此，本申请提供了一种信号偏差的校正方法、装置及设备，能够对由限束器开口变化导致的信号偏差进行校正，使得输出屏上的有效图像亮度适于医学诊断。第一方面，为实现上述专利技术目的，本申请提供了一种信号偏差的校正方法，所述方法包括：获取光电器件拾取到的亮度信号，所述亮度信号用于表征X射线到达影像增强器的输出屏产生的图像的亮度；从限束器控制板获取限束器的位置信息，所述位置信息用于表征所述图像被所述限束器的铅页遮挡的区域；计算所述位置信息对应的校正系数；利用所述校正系数对所述亮度信号进行校正，得到自动曝光控制AEC信号，所述AEC信号用于控制所述X射线的曝光时间。在一种可选的实现方式中，所述计算所述位置信息对应的校正系数，包括：根据所述位置信息，确定所述图像上的各个像素点的取值；根据所述图像上的各个像素点的取值，计算所述位置信息对应的校正系数。在一种可选的实现方式中，所述方法还包括：生成所述影像增强器的输出屏产生的图像对应的二维数组查找表，所述二维数组查找表用于记录所述图像上的各个像素点的取值；相应的，所述根据所述位置信息，确定所述图像上的各个像素点的取值，具体为：根据所述位置信息，查询所述二维数组查找表以确定所述图像上的各个像素点的取值。在一种可选的实现方式中，所述图像具有感兴趣区域和有效区域，所述感兴趣区域为所述图像中心预设区域，所述有效区域为所述图像上未被所述限束器的铅页遮挡的区域；所述计算所述位置信息对应的校正系数，包括计算所述图像上的各个像素点的第一取值之和；其中，处于所述有效区域内且处于所述感兴趣区域的像素点的第一取值为1，否则第一取值为0；以及，计算所述图像上的各个像素点的第二取值之和；其中，处于所述感兴趣区域内的像素点的第二取值为1，否则第二取值为0；计算所述图像上的各个像素点的第一取值之和与第二取值之和的商值，作为所述位置信息对应的校正系数的倒数；根据所述校正系数的倒数，确定所述位置信息对应的校正系数。在一种可选的实现方式中，所述计算所述位置信息对应的校正系数之后，还包括：判断所述校正系数的倒数是否不大于预设最小阈值；如果所述校正系数的倒数不大于所述预设最小阈值，则将所述校正系数的取值确定为所述预设最小阈值。在一种可选的实现方式中，所述利用所述校正系数对所述亮度信号进行校正，得到自动曝光控制AEC信号，所述AEC信号用于控制所述X射线的曝光时间，包括：将所述校正系数和所述亮度信号分别作为乘法器的输入，经过所述乘法器的处理后，输出自动曝光控制AEC信号，所述AEC信号用于控制所述X射线的曝光时间。第二方面，本申请提供了一种信号偏差的校正装置，所述装置包括：亮度信号获取单元，用于获取光电器件拾取到的亮度信号，所述亮度信号用于表征X射线到达影像增强器的输出屏产生的图像的亮度；限束器的位置信息获取单元，用于从限束器控制板获取限束器的位置信息，所述位置信息用于表征所述图像被所述限束器的铅页遮挡的区域；计算单元，用于计算所述位置信息对应的校正系数；校正单元，用于利用所述校正系数对所述亮度信号进行校正，得到自动曝光控制AEC信号，所述AEC信号用于控制所述X射线的曝光时间。在一种可选的实现方式中，所述计算单元包括：第一确定子单元，用于根据所述位置信息，确定所述图像上的各个像素点的取值；第一计算子单元，用于根据所述图像上的各个像素点的取值，计算所述位置信息对应的校正系数。在一种可选的实现方式中，所述装置还包括：生成单元，用于生成所述影像增强器的输出屏产生的图像对应的二维数组查找表，所述二维数组查找表用于记录所述图像上的各个像素点的取值；相应的，所述第一确定子单元具体为:根据所述位置信息，查询所述二维数组查找表以确定所述图像上的各个像素点的取值。在一种可选的实现方式中，所述图像具有感兴趣区域和有效区域，所述感兴趣区域为所述图像中心预设区域，所述有效区域为所述图像上未被所述限束器的铅页遮挡的区域；所述计算单元包括：第二计算子单元，用于计算所述图像上的各个像素点的第一取值之和；其中，处于所述有效区域内且处于所述感兴趣区域的像素点的第一取值为1，否则第一取值为0；第三计算子单元，用于计算所述图像上的各个像素点的第二取值之和；其中，处于所述感兴趣区域内的像素点的第二取值为1，否则第二取值为0；第四计算子单元，用于计算所述图像上的各个像素点的第一取值之和与第二取值之和的商值，作为所述位置信息对应的校正系数的倒数；第二确定子单元，用于根据所述校正系数的倒数，确定所述位置信息对应的校正系数。在一种可选的实现方式中，所述计算单元之后，还包括：判断单元，用于判断所述校正系数的倒数是否不大于预设最小阈值；第三确定子单元，用于如果所述校正系数不大于所述预设最小阈值，则将所述校正系数的倒数的取值确定为所述预设最小阈值。在一种可选的实现方式中，所述校正单元包括：输出单元，用于将所述校正系数和所述亮度信号分别作为乘法器的输入，经过所述乘法器的处理后，输出自动曝光控制AEC信号，所述AEC信号用于控制所述X射线的曝光时间。第三方面，本申请还提供了一种信号偏差的校正电路，所述电路包括MCU和乘法器；所述MCU，用于从限束器控制板获取限束器的位置信息，所述位置信息用于表示所述图像被所述限束器的铅页遮挡的行和\或列；并计算所述位置信息对应的校正系数；所述乘法器，用于获取光电器件拾取到的亮度信号，所述亮度信号用于表征X射线到达影像增强器的输出屏产生的图像的亮度；并利用来自所述MCU的所述校正系数对所述亮度信号进行校本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种信号偏差的校正方法，其特征在于，所述方法包括：获取光电器件拾取到的亮度信号，所述亮度信号用于表征X射线到达影像增强器的输出屏产生的图像的亮度；从限束器控制板获取限束器的位置信息，所述位置信息用于表征所述图像被所述限束器的铅页遮挡的区域；计算所述位置信息对应的校正系数；利用所述校正系数对所述亮度信号进行校正，得到自动曝光控制AEC信号，所述AEC信号用于控制所述X射线的曝光时间。

【技术特征摘要】
1.一种信号偏差的校正方法，其特征在于，所述方法包括：获取光电器件拾取到的亮度信号，所述亮度信号用于表征X射线到达影像增强器的输出屏产生的图像的亮度；从限束器控制板获取限束器的位置信息，所述位置信息用于表征所述图像被所述限束器的铅页遮挡的区域；计算所述位置信息对应的校正系数；利用所述校正系数对所述亮度信号进行校正，得到自动曝光控制AEC信号，所述AEC信号用于控制所述X射线的曝光时间。2.根据权利要求1所述的信号偏差的校正方法，其特征在于，所述计算所述位置信息对应的校正系数，包括：根据所述位置信息，确定所述图像上的各个像素点的取值；根据所述图像上的各个像素点的取值，计算所述位置信息对应的校正系数。3.根据权利要求2所述的信号偏差的校正方法，其特征在于，所述方法还包括：生成所述影像增强器的输出屏产生的图像对应的二维数组查找表，所述二维数组查找表用于记录所述图像上的各个像素点的取值；相应的，所述根据所述位置信息，确定所述图像上的各个像素点的取值，具体为：根据所述位置信息，查询所述二维数组查找表以确定所述图像上的各个像素点的取值。4.根据权利要求1-3任一项所述的信号偏差的校正方法，其特征在于，所述图像具有感兴趣区域和有效区域，所述感兴趣区域为所述图像中心预设区域，所述有效区域为所述图像上未被所述限束器的铅页遮挡的区域；所述计算所述位置信息对应的校正系数，包括：计算所述图像上的各个像素点的第一取值之和；其中，处于所述有效区域内且处于所述感兴趣区域的像素点的第一取值为1，否则第一取值为0；以及，计算所述图像上的各个像素点的第二取值之和；其中，处于所述感兴趣区域内的像素点的第二取值为1，否则第二取值为0；计算所述图像上的各个像素点的第一取值之和与第二取值之和的商值，作为所述位置信息对应的校正系数的倒数；根据所述校正系数的倒数，确定所述位置信息对应的校正系数。5.根据权利要求4所述的信号偏差的校正方法，其特征在于，所述计算所述位置信息对应的校正系数之后，还包括：判断所述校正系数的倒数是否不大于预设最小阈值；如果所述校正系数的倒数不大于所述预设最小阈值，则将所述校正系数的取值确定为所述预设最小阈值。6.根据权利要求1所述的信号偏差的校正方法，其特征在于，所述利用所述校正系数对所述亮度信号进行校正，得到自动曝光控制AEC信号，所述AEC信号用于控制所述X射线的曝光时间，包括：将所述校正系数和所述亮度信号分别作为乘法器的输入，经过所述乘法器的处理后，输出自动曝光控制AEC信号，所述AEC信号用于控制所述X射线的曝光时间。7.一种信号偏差的校正装置，其特征在于，所述装置包括：亮度信号获取单元，用于获取光电器件拾取到的亮度信号，所述亮度信号用于表征X射线到达影像增强器的输出屏产生的图像的亮度；限束器的位置信息获取单元，用于从限束器控制板获取限束器的位置信息，所述位置信息用于表征所述图像被所述限束器的铅页遮挡的区域；计算单元，用于计算所述位置信息对应的校正系数；校正单元，用于利用所述校正系数对所述亮度信号进行校正，得到自动曝光控制AEC信号，所述AEC信号用于控制所述X射线的曝光时间。8.根据权利要求7所述的信号偏差的校正装置，其特征在于，所述计算单元包括：第一确定子单元，用于根据所述位置信息，确定所述图像上的各个像素点的取值；第...

【专利技术属性】
技术研发人员：郑成文，
申请(专利权)人：沈阳东软医疗系统有限公司，
类型：发明
国别省市：辽宁,21