一种测试方法、装置及电子设备制造方法及图纸

本发明专利技术实施例提供一种测试方法、装置及电子设备，根据测试用例需求矩阵，计算各个测试用例的需求数，所述测试用例需求矩阵用于描述测试用例所覆盖的测试需求；当存在至少一个测试用例的需求数大于阈值时，选择需求数最大的测试用例作为目标测试用例；根据目标测试用例，标记所述测试用例需求矩阵，并根据标记后的测试用例需求矩阵，更新各个测试用例的需求数；其中，选择出的所有目标测试用例用于测试。通过测试需求矩阵，筛选出覆盖最多测试需求的测试用例，这样能够保证使用较少的测试用例覆盖最多测试需求进行测试，防止出现重复测试、以及漏测，有效提高了测试效率和精度。

A Test Method, Device and Electronic Equipment

The embodiment of the present invention provides a test method, device and electronic equipment, calculates the number of requirements for each test case according to the test case requirement matrix, which is used to describe the test requirements covered by the test case, and selects the requirements when there is at least one test case whose number of requirements is greater than the threshold value. The largest number of test cases is the target test cases; according to the target test cases, the test case requirement matrix is marked, and according to the marked test case requirement matrix, the requirement number of each test case is updated; among them, all the selected target test cases are used for testing. Through the test requirement matrix, test cases covering the most test requirements are screened out, which can ensure that fewer test cases cover the most test requirements for testing, prevent duplicate testing and missed testing, and effectively improve the efficiency and accuracy of testing.

【技术实现步骤摘要】
一种测试方法、装置及电子设备
本专利技术涉及测试
，特别是涉及一种测试方法、装置及电子设备。
技术介绍
软件测试是软件工程的重要环节，它直接关系到软件的质量、开发进度和项目成本。随着软件技术和编码技术的发展，软件设计和编码的效率得到提高的同时，软件测试的工作量和工作占比在整个软件开发的生命周期中也不断提高。在软件测试中，回归测试通常占据较高的测试成本。在通常的回归测试中，旧代码修改完成后，需要重新进行测试以确认修改没有引入新的错误或导致其他代码产生错误。回归测试的执行需要依赖测试用例，目前的做法是由软件测试工程师手工从系统测试用例中挑选测试用例，进行回归测试。然而，专利技术人通过研究发现，回归测试的实施过程中，人工挑选测试用例的方式很容易多选无关的测试用例，导致测试效率低下；或者，选择较少的测试用例，导致测试遗漏，测试精度差。因此，如何能够提供一种测试方法，提高测试效率和精度是本领域技术人员亟需解决的技术问题。
技术实现思路
鉴于以上所述现有技术的缺点，本专利技术的目的在于提供一种测试方法、装置及电子设备，用于解决现有技术中测试效率低和精度差的问题。为实现上述目的及其他相关目的，根据本专利技术的第一方面，本专利技术实施例提供一种测试方法，该方法包括以下步骤：根据测试用例需求矩阵，计算各个测试用例的需求数，所述测试用例需求矩阵用于描述测试用例所覆盖的测试需求；当存在至少一个测试用例的需求数大于阈值时，选择需求数最大的测试用例作为目标测试用例；根据目标测试用例，标记所述测试用例需求矩阵，并根据标记后的测试用例需求矩阵，更新各个测试用例的需求数；其中，选择出的所有目标测试用例用于测试。可选地，所述根据测试用例需求矩阵，计算各个测试用例的需求数包括：当所述测试用例需求矩阵的行对应测试用例，所述测试用例需求矩阵的列对应测试需求，且测试用例与测试需求强相关的矩阵元素为第一元素时，累加所述测试用例需求矩阵的每行的第一元素，作为相应测试用例的需求数。可选地，根据所述目标测试用例，标记所述测试用例需求矩阵，包括：在测试用例需求矩阵中，将目标测试用例的第一元素标记为第二元素，并将第二元素所对应列的所有矩阵元素标记为第二元素。可选地，所述根据标记后的测试用例需求矩阵，更新各个测试用例的需求数，包括：累加所述测试用例需求矩阵的每行的第一元素，更新相应测试用例的需求数。可选地，该测试方法还包括：当各个测试用例的需求数均小于或等于阈值时，确定测试集，以根据所述测试集测试；其中，所述测试集包括所有选择出的目标测试用例。根据本专利技术的第二方面，本专利技术实施例还提供一种测试装置，该测试装置包括：计算模块，根据测试用例需求矩阵，计算各个测试用例的需求数，所述测试用例需求矩阵用于描述测试用例所覆盖的测试需求；选择模块，当存在至少一个测试用例的需求数大于阈值时，选择需求数最大的测试用例作为目标测试用例；更新模块，根据目标测试用例，标记所述测试用例需求矩阵，并根据标记后的测试用例需求矩阵，更新各个测试用例的需求数；其中，选择出的所有目标测试用例用于测试。可选地，所述计算模块还用于，当所述测试用例需求矩阵的行对应测试用例，所述测试用例需求矩阵的列对应测试需求，且测试用例与测试需求强相关的矩阵元素为第一元素时，累加所述测试用例需求矩阵的每行的第一元素，作为相应测试用例的需求数。可选地，所述更新模块还用于，在测试用例需求矩阵中，将目标测试用例的第一元素标记为第二元素，并将第二元素所对应列的所有矩阵元素标记为第二元素。可选地，该测试装置还包括集合模块用于，当各个测试用例的需求数均小于或等于阈值时，确定测试集，以根据所述测试集测试；其中，所述测试集包括所有选择出的目标测试用例。根据本专利技术的第三方面，本专利技术实施例还提供一种电子设备，所述电子设备包括至少一个处理器；以及，与所述至少一个处理器通信连接的存储器；其中，所述存储器存储有可被所述一个处理器执行的指令，所述指令被所述至少一个处理器执行，以使所述至少一个处理器能够：根据测试用例需求矩阵，计算各个测试用例的需求数，所述测试用例需求矩阵用于描述测试用例所覆盖的测试需求；当存在至少一个测试用例的需求数大于阈值时，选择需求数最大的测试用例作为目标测试用例；根据目标测试用例，标记所述测试用例需求矩阵，并根据标记后的测试用例需求矩阵，更新各个测试用例的需求数；其中，选择出的所有目标测试用例用于测试。如上所述，本专利技术实施例提供的一种测试方法、装置及电子设备，具有以下有益效果：根据测试用例需求矩阵，计算各个测试用例的需求数，所述测试用例需求矩阵用于描述测试用例所覆盖的测试需求；当存在至少一个测试用例的需求数大于阈值时，选择需求数最大的测试用例作为目标测试用例；根据目标测试用例，标记所述测试用例需求矩阵，并根据标记后的测试用例需求矩阵，更新各个测试用例的需求数；其中，选择出的所有目标测试用例用于测试。通过测试需求矩阵，筛选出覆盖最多测试需求的测试用例，这样能够保证使用较少的测试用例覆盖最多测试需求进行测试，防止出现重复测试、以及漏测，有效提高了测试效率和精度。附图说明此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分，示出了符合本专利技术的实施例，并与说明书一起用于解释本专利技术的原理。为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，对于本领域普通技术人员而言，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1是本专利技术实施例提供的一种测试方法的流程示意图；图2是本专利技术实施例提供的一种测试用例需求矩阵的示意图；图3是本专利技术实施例提供的一种标记后测试用例需求矩阵的示意图；图4是本专利技术实施例提供的另一种测试方法的流程示意图；图5是本专利技术实施例提供的一种测试装置的结构示意图；图6是本专利技术实施例提供的一种执行测试方法的电子设备的结构示意图。具体实施方式为了使本
的人员更好地理解本专利技术中的技术方案，下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本专利技术保护的范围。请参阅图1至图6。需要说明的是，本实施例中所提供的图示仅以示意方式说明本专利技术的基本构想，遂图示中仅显示与本专利技术中有关的组件而非按照实际实施时的组件数目、形状及尺寸绘制，其实际实施时各组件的型态、数量及比例可为一种随意的改变，且其组件布局型态也可能更为复杂。参见图1，是本专利技术实施例提供的一种测试方法的流程示意图，如图1所示，本专利技术实施例示出了筛选测试用例的过程：步骤S101：根据测试用例需求矩阵，计算各个测试用例的需求数，所述测试用例需求矩阵用于描述测试用例所覆盖的测试需求。所述测试用例需求矩阵表征了测试用例与其所覆盖测试需求的对应关系。参见图2，是本专利技术实施例提供的一种测试用例需求矩阵的示意图，如图2所示，该测试用例需求矩阵可以为M×N的矩阵，其中M和N均为自然数。在上述测试用例需求矩阵中，矩阵中的行对应测试用例，矩阵包括M行、且分别对应测试用例1、测试用例2、直到测试用例M；矩阵中的列对应测试需求本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种测试方法，其特征在于，包括以下步骤：根据测试用例需求矩阵，计算各个测试用例的需求数，所述测试用例需求矩阵用于描述测试用例所覆盖的测试需求；当存在至少一个测试用例的需求数大于阈值时，选择需求数最大的测试用例作为目标测试用例；根据目标测试用例，标记所述测试用例需求矩阵，并根据标记后的测试用例需求矩阵，更新各个测试用例的需求数；其中，选择出的所有目标测试用例用于测试。

【技术特征摘要】
1.一种测试方法，其特征在于，包括以下步骤：根据测试用例需求矩阵，计算各个测试用例的需求数，所述测试用例需求矩阵用于描述测试用例所覆盖的测试需求；当存在至少一个测试用例的需求数大于阈值时，选择需求数最大的测试用例作为目标测试用例；根据目标测试用例，标记所述测试用例需求矩阵，并根据标记后的测试用例需求矩阵，更新各个测试用例的需求数；其中，选择出的所有目标测试用例用于测试。2.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述根据测试用例需求矩阵，计算各个测试用例的需求数包括：当所述测试用例需求矩阵的行对应测试用例，所述测试用例需求矩阵的列对应测试需求，且测试用例与测试需求强相关的矩阵元素为第一元素时，累加所述测试用例需求矩阵的每行的第一元素，作为相应测试用例的需求数。3.根据权利要求2所述的测试方法，其特征在于，根据所述目标测试用例，标记所述测试用例需求矩阵，包括：在测试用例需求矩阵中，将目标测试用例的第一元素标记为第二元素，并将第二元素所对应列的所有矩阵元素标记为第二元素。4.根据权利要求3所述的测试方法，其特征在于，所述根据标记后的测试用例需求矩阵，更新各个测试用例的需求数，包括：累加所述测试用例需求矩阵的每行的第一元素，更新相应测试用例的需求数。5.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于，还包括：当各个测试用例的需求数均小于或等于阈值时，确定测试集，以根据所述测试集测试；其中，所述测试集包括所有选择出的目标测试用例。6.一种测试装置，其特征在于，包括：计算模块，根据测试用例需求矩阵，计算各个测试用例的需求数，所述测试用例需求矩阵用于描述测试用例所覆盖的测试需求；选择模块，当存在至少一个测试...

【专利技术属性】
技术研发人员：张震，
申请(专利权)人：郑州云海信息技术有限公司，
类型：发明
国别省市：河南,41