一种基于RTL级功耗分析的错误定位方法及系统技术方案

本发明专利技术公开了一种基于RTL级功耗分析的错误定位方法及系统，方法步骤包括获取可执行的被测设计DUT与参考设计REF及测试用例集，依次运行测试用例，对被测设计DUT与参考设计REF分别进行功耗评估分别获取在特定测试激励下的功耗，对功耗结果进行对比与分析，根据功耗对比结果对设计按由顶至底的方式逐层进行功耗缺陷的错误定位分析；验证被测设计DUT中所定位功耗缺陷的准确性；反馈功耗缺陷错位定位报告给设计人员。本发明专利技术既可以克服主流验证技术只能定位设计中功能性错误的局限，又能弥补物理设计阶段功耗优化空间较低且设计迭代周期长的不足，能够在微处理器逻辑设计阶段实现早期定位功耗缺陷的功能。

【技术实现步骤摘要】
一种基于RTL级功耗分析的错误定位方法及系统
本专利技术涉及微处理器的低功耗验证领域，具体涉及一种基于RTL级功耗分析的错误定位方法及系统。
技术介绍
微处理器芯片作为现代各种计算机设备的核心，引领着工业界集成电路和信息技术的高速发展。随着半导体工艺的不断发展以及芯片对性能要求的不断提高，芯片系统集成度越来越高，微处理器的设计面临着一系列的问题和挑战，急剧上升的功耗成为至关重要的问题。一方面，由于微处理器的功耗引起散热和电源噪声等问题，影响芯片的封装、测试以及系统可靠性等；另一方面，由于能源的短缺以及近些年电池技术的进展缓慢，半导体产品尤其是便携式设备的使用寿命对功耗有所限制，因而微处理器功耗也决定着SoC片上系统和便携式设备的发展速度。这些因素都促使微处理器的低功耗设计成为目前业内的研究热点问题之一，成为解决性能提升与功耗限制两者平衡的关键技术。微处理器芯片设计流程中，验证工作至关重要，有数据表明，整个芯片设计周期有接近70%~80%的时间花费在验证工作中。微处理器芯片验证主要包括功能验证、物理验证和时序验证等内容，在不同的设计阶段，其验证工作的内容和侧重点有所不同，如寄存器传输级本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种基于RTL级功耗分析的错误定位方法，其特征在于实施步骤包括：1）获取可执行的被测设计DUT、参考设计REF、以及测试用例集{TestCasei}；2）从测试用例集{TestCasei}中遍历选择一个当前测试用例TestCasei，运行当前测试用例TestCasei，借助EDA功耗分析工具对被测设计DUT与参考设计REF分别进行功耗评估；3）获取被测设计DUT、参考设计REF在特定测试激励下的功耗，对功耗结果进行对比与分析获得功耗对比分析结果；4）根据被测设计DUT与参考设计REF的功耗对比分析结果，对设计按由顶至底的方式逐层进行功耗缺陷的错误定位分析，并针对当前测试用例TestCase...

【技术特征摘要】
1.一种基于RTL级功耗分析的错误定位方法，其特征在于实施步骤包括：1）获取可执行的被测设计DUT、参考设计REF、以及测试用例集{TestCasei}；2）从测试用例集{TestCasei}中遍历选择一个当前测试用例TestCasei，运行当前测试用例TestCasei，借助EDA功耗分析工具对被测设计DUT与参考设计REF分别进行功耗评估；3）获取被测设计DUT、参考设计REF在特定测试激励下的功耗，对功耗结果进行对比与分析获得功耗对比分析结果；4）根据被测设计DUT与参考设计REF的功耗对比分析结果，对设计按由顶至底的方式逐层进行功耗缺陷的错误定位分析，并针对当前测试用例TestCasei计算被测设计DUT与参考设计REF两者的平均功耗变化率和峰值功耗变化率；5）判断测试用例集{TestCasei}是否遍历完毕，如果尚未遍历完毕，则跳转执行步骤2）；否则，跳转执行下一步；6）针对所有当前测试用例TestCasei对应的被测设计DUT与参考设计REF两者的平均功耗变化率和峰值功耗变化率进行比较进行功耗缺陷错位定位；7）验证被测设计DUT中所定位功耗缺陷的准确性；8）反馈输出功耗缺陷错位定位报告。2.根据权利要求1所述的基于RTL级功耗分析的错误定位方法，其特征在于，步骤3）中的功耗对比分析结果具体是指待测设计与参考设计REF之间的功耗变化率。3.根据权利要求1所述的基于RTL级功耗分析的错误定位方法，其特征在于，步骤4）的详细步骤包括：4.1）根据被测设计DUT与参考设计REF，从顶层toplevel开始到叶层leaflevel结束、按照由顶至底的方式逐层遍历选择定位顶层topleve...

【专利技术属性】
技术研发人员：隋兵才，王俊辉，郭维，郑重，雷国庆，王永文，高军，孙彩霞，黄立波，
申请(专利权)人：中国人民解放军国防科技大学，
类型：发明
国别省市：湖南,43