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一种开环式测量射气介质氡析出率的方法和装置制造方法及图纸

技术编号:19591925 阅读:33 留言:0更新日期:2018-11-28 04:24
本发明专利技术公开了一种开环式测量射气介质氡析出率的方法和装置,该方法使用以下装置进行氡析出率的测量:该装置包括测氡仪、用于盛装待测射气介质的试验柱,试验柱的上方设集气罩,测氡仪的进气口通过气管与集气罩连通,测氡仪的出气口与外界环境连通,在集气罩的上表面设与外界环境连通的孔,试验柱的下方设气体均压室,气体均压室通过气管连接气体泵,气体均压室与气体泵之间的气管上设有流量调节器;该方法既考虑介质表面氡的自由扩散,又考虑渗流作用的影响。另外,该装置可以在短时间内较准确的测量出介质表面的氡析出率。

【技术实现步骤摘要】
一种开环式测量射气介质氡析出率的方法和装置
本专利技术涉及一种开环式测量射气介质氡析出率的方法和装置,特别涉及一种在颗粒堆积型射气介质中产生可控流量的渗流装置及确定渗流-扩散作用下氡析出率的方法,属于核辐射测量

技术介绍
氡是一种惰性放射气体,其无色无味,广泛存在于岩石、土壤和地下水中。国际卫生组织(WHO)将氡列为19种主要的环境致癌物质,氡析出率是评价射气介质释放氡能力的物理量,合理科学测量氡析出率及析出规律是国内外学者研究热点。氡析出率是表示射气介质表面释放氡速度的参数。像岩石、矿体、土体这一类大型射气体,外部因素都能影响氡在其中的运移,因而也影响氡析出率。氡析出率不是表征射气介质表面性质的特征参数,而是射气介质内部氡运移在介质边界产生的现象的量度。现有的介质表面氡析出率的测量均考虑的是氡气自由扩散的析出,而忽略介质内部渗流的影响。当介质内部存在渗流的情况时,采用闭环式测氡方法,会抑制氡气进入收集腔,从而影响测量结果的准确性;而开环式测氡虽避免了收集腔对渗流气体的阻碍作用,但却不能对不同渗流速度下氡析出量进行分析,难以了解介质内部渗流速度对氡析出率的影响。中国专利文献本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种开环式测量射气介质氡析出率的方法,其特征在于,该方法使用以下装置进行氡析出率的测量:该装置包括测氡仪、用于盛装待测射气介质的试验柱,试验柱的上方设集气罩,测氡仪的进气口通过气管与集气罩连通,测氡仪的出气口与外界环境连通,在集气罩的上表面设与外界环境连通的孔,试验柱的下方设气体均压室,气体均压室通过气管连接气体泵,气体均压室与气体泵之间的气管上设有流量调节器;该方法包括以下步骤:(1)打开气体泵,通过流量调节器控制进入气体均压室的渗流流量为q1;用测氡仪测量出外界环境中的氡浓度C0作为集气罩在零时刻的氡浓度为C0,当开始测量集气罩里的氡浓度时,每过相同的时间间隔△T,依次记录此时刻下的氡...

【技术特征摘要】
1.一种开环式测量射气介质氡析出率的方法,其特征在于,该方法使用以下装置进行氡析出率的测量:该装置包括测氡仪、用于盛装待测射气介质的试验柱,试验柱的上方设集气罩,测氡仪的进气口通过气管与集气罩连通,测氡仪的出气口与外界环境连通,在集气罩的上表面设与外界环境连通的孔,试验柱的下方设气体均压室,气体均压室通过气管连接气体泵,气体均压室与气体泵之间的气管上设有流量调节器;该方法包括以下步骤:(1)打开气体泵,通过流量调节器控制进入气体均压室的渗流流量为q1;用测氡仪测量出外界环境中的氡浓度C0作为集气罩在零时刻的氡浓度为C0,当开始测量集气罩里的氡浓度时,每过相同的时间间隔△T,依次记录此时刻下的氡浓度C1、C2、C3、……、Cn(n≥5);(2)利用上述测量值拟合以下微分方程的解,计算氡析出率J;当试验柱内的渗流方向向下时,微分方程为当试验柱内的渗流方向向上时,微分方程为其中,C为集气罩中氡浓度,单位为Bq/m3;t为氡析出的时间,单位为s;V为集气罩的空间体积,单位为m3;S为集气罩的横截面积,单位为m2;J为射气介质表面氡析出率,单位为Bq(m-2·s-1);λe为氡的等效衰变常数,单位为s-1;q和q1分别为进入测氡仪的气体流量和试验柱内的气体渗流流量,单位均为m3/s。2.如权利要求1所述的方法,其特征在于,当试验柱内的渗流方向向下时,解上述微分方程得:令则:C=A1+e-B1t(C0-A1)利用上述测量值对C=A1+e-B1t(C0-A1)进行拟合,...

【专利技术属性】
技术研发人员:叶勇军陈光玲王忠琨黄俊尧丁德馨余修武
申请(专利权)人:南华大学
类型:发明
国别省市:湖南,43

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