测绘用角度测量光学片制造技术

本发明专利技术公开了一种测绘用角度测量光学片，包括基体(1)，基体(1)上方设置有上透镜(2)，下方设置有下透镜(3)，上透镜(2)由上球形凸起段(4)和上平坦段(7)交替组成，上球形凸起段(4)的半径为R1，上球形凸起段(4)两端点之间的直线距离为d,上平坦段(7)两端点之间的距离为d1；下透镜(3)由下球形凸起段(5)和下平坦段(8)交替组成，下球形凸起段(5)的半径为Rm，下球形凸起段(5)两端点之间的直线距离与上球形凸起段(4)两端点之间的直线距离相等，下平坦段(8)两端点之间的距离与上平坦段(7)两端点之间的距离相等。与现有的相比，本发明专利技术使得测量角度不需要接触就可以进行角度测量。

【技术实现步骤摘要】
测绘用角度测量光学片
本专利技术涉及一种测绘用角度测量光学片。
技术介绍
在测绘中，经常需要进行角度测量，但是，现有的角度测量装置基本上都是采用接触式的测量方式，这样的测量方式一方面测量精度差，另一方面，对于空间小或空间特别大的测量场合，测量起来非常不方便。
技术实现思路
针对上述不足之处，本专利技术的目的就在于提供一种测绘用角度测量光学片，该测绘用角度测量光学片使得测量角度不需要接触就可以进行角度测量。本专利技术的技术方案是：一种测绘用角度测量光学片，包括基体(1)，基体(1)上方设置有上透镜(2)，下方设置有下透镜(3)，上透镜(2)由上球形凸起段(4)和上平坦段(7)交替组成，上球形凸起段(4)的半径为R1，上球形凸起段(4)两端点之间的直线距离为d,上平坦段(7)两端点之间的距离为d1；下透镜(3)由下球形凸起段(5)和下平坦段(8)交替组成，下球形凸起段(5)的半径为Rm，下球形凸起段(5)两端点之间的直线距离与上球形凸起段(4)两端点之间的直线距离相等，下平坦段(8)两端点之间的距离与上平坦段(7)两端点之间的距离相等；下球形凸起段(5)表面上涂覆有反射图层(6)；上球形凸起段(4)与下球形凸起段(5)具有同一圆心(9)，并具有同一中心线(10)。作为优选，所述d：d1的比值为8:1～20:1。作为优选，所述上透镜(2)、基体(1)、下透镜(3)一体成型。作为优选，所述上透镜(2)、基体(1)、下透镜(3)均由光学透明材料制成。作为优选，所述光学透明材料为光学玻璃。作为优选，所述光学玻璃为钡火石光学玻璃。作为优选，所述光学玻璃为防辐照光学玻璃。作为优选，所述测绘用角度测量光学片厚度为100-200微米。与现有技术相比，本专利技术的有益效果在于：本专利技术通过设置基体，基体上方设置上透镜，下方设置有下透镜，以及交替的上球形凸起段、上平坦段、下球形凸起段、下平坦段、反射图层，使得β</＝βmax光线逆向通过上透镜，从而实现角度测量，使得不需要人工接触被检测物体即可以完成测量事宜。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本专利技术的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。图1为本专利技术整体结构示意图；图2为本专利技术测角度原理图示意图；图3本专利技术逆向光强度与β之间的关系图。具体实施方式为使本专利技术实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本专利技术实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。因此，以下对在附图中提供的本专利技术的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本专利技术的范围，而是仅仅表示本专利技术的选定实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步定义和解释。在本专利技术的描述中，需要说明的是，术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，或者是该专利技术产品使用时惯常摆放的方位或位置关系，仅是为了便于描述本专利技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本专利技术的限制。此外，术语“第一”、“第二”、“第三”等仅用于区分描述，而不能理解为指示或暗示相对重要性。此外，术语“水平”、“竖直”、“悬垂”等术语并不表示要求部件绝对水平或悬垂，而是可以稍微倾斜。如“水平”仅仅是指其方向相对“竖直”而言更加水平，并不是表示该结构一定要完全水平，而是可以稍微倾斜。在本专利技术的描述中，还需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“设置”、“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本专利技术中的具体含义。另外，本专利技术要指出的是，本专利技术中，如未特别写出具体涉及的结构、连接关系、位置关系、动力来源关系等，则本专利技术涉及的结构、连接关系、位置关系、动力来源关系等均为本领域技术人员在现有技术的基础上，可以不经过创造性劳动可以得知的。实施例1如图1-3所示，一种测绘用角度测量光学片，包括基体1，基体1上方设置有上透镜2，下方设置有下透镜3，上透镜2、基体1、下透镜3一体成型。上透镜2由上球形凸起段4和上平坦段7交替组成，上球形凸起段4的半径为R1，上球形凸起段4两端点之间的直线距离为d,上平坦段7两端点之间的距离为d1。下透镜3由下球形凸起段5和下平坦段8交替组成，下球形凸起段5的半径为Rm，下球形凸起段5两端点之间的直线距离与上球形凸起段4两端点之间的直线距离相等，下平坦段8两端点之间的距离与上平坦段7两端点之间的距离相等。d：d1的比值为8:1～20:1。下球形凸起段5表面上涂覆有反射图层6。上球形凸起段4的焦距等于光学片的厚度。上球形凸起段4与下球形凸起段5具有同一圆心9，并具有同一中心线10，这样的设置使得当焦点位于反射图层6时，本专利技术具有逆向反射特性。上透镜2、基体1、下透镜3均由光学透明材料制成，光学透明材料为具有折射率n的光学透明基体。本专利技术中，光学透明材料优选光学玻璃，光学玻璃中优选折射率高的光学玻璃。本专利技术中，光学玻璃优选钡火石光学玻璃。本专利技术中，光学玻璃也可以采用防辐照光学玻璃。测绘用角度测量光学片厚度为t。t为100-200微米。第一光线11、第二光线12以角度β入射，第一光线11与上透镜2呈直角射入，第一光线11不会被上透镜2反射，其在反射图层6反射，反射回来的光线同射入的路径相同。第二光线12与上透镜2不相垂直，第二光线12会被上透镜2的上球形凸起段4折射，由于上球形凸起段4的焦距与反射图层6重合，第二光线12与第一光线11射到下透镜3的同一位置。然而，第二光线12却与下球形凸起段5的反射图层6呈角度α，第二光线12将被下透镜3反射成反射光线13，再次以角度α反射。当反射光线13到达上球形凸起段4，它再次折射并在进入光学片后以相同的角度β离开光学片。β为光线与上球形凸起段4与下球形凸起段5的中心线10之间的夹角。当第三光线15以β＝0射入，光线折后焦点位于下球形凸起段5的中心14处。当β<βmax,光线折后焦点虽然不位于下球形凸起段5的中心14处，但仍然位于下球形凸起段5上点14处，当β＝βmax，光线焦点聚焦处位于下球形凸起段5的边缘16处，当β>βmax，光线焦点位于基体1内点17处，此时，光线并不反射回上透镜2而是在基体1内散发，此时，光学片并不逆向发射。逆向光的强度在β</＝βmax时基本上本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种测绘用角度测量光学片，其特征在于：所述测绘用角度测量光学片包括基体(1)，基体(1)上方设置有上透镜(2)，下方设置有下透镜(3)，上透镜(2)由上球形凸起段(4)和上平坦段(7)交替组成，上球形凸起段(4)的半径为R1，上球形凸起段(4)两端点之间的直线距离为d,上平坦段(7)两端点之间的距离为d1；下透镜(3)由下球形凸起段(5)和下平坦段(8)交替组成，下球形凸起段(5)的半径为Rm，下球形凸起段(5)两端点之间的直线距离与上球形凸起段(4)两端点之间的直线距离相等，下平坦段(8)两端点之间的距离与上平坦段(7)两端点之间的距离相等；下球形凸起段(5)表面上涂覆有反射图层(6)；上球形凸起段(4)与下球形凸起段(5)具有同一圆心(9)，并具有同一中心线(10)。

【技术特征摘要】
1.一种测绘用角度测量光学片，其特征在于：所述测绘用角度测量光学片包括基体(1)，基体(1)上方设置有上透镜(2)，下方设置有下透镜(3)，上透镜(2)由上球形凸起段(4)和上平坦段(7)交替组成，上球形凸起段(4)的半径为R1，上球形凸起段(4)两端点之间的直线距离为d,上平坦段(7)两端点之间的距离为d1；下透镜(3)由下球形凸起段(5)和下平坦段(8)交替组成，下球形凸起段(5)的半径为Rm，下球形凸起段(5)两端点之间的直线距离与上球形凸起段(4)两端点之间的直线距离相等，下平坦段(8)两端点之间的距离与上平坦段(7)两端点之间的距离相等；下球形凸起段(5)表面上涂覆有反射图层(6)；上球形凸起段(4)与下球形凸起段(5)具有同一圆心(9)，并具有同一中心线(10)。2.根据权利要求1所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：吴光明，
申请(专利权)人：四川川豫测绘服务有限公司，
类型：发明
国别省市：四川,51