分光辐射照度计制造技术

本发明专利技术公开了一种分光辐射照度计，包括第一密封壳体和第二密封壳体，第一密封壳体和第二密封壳体通过设有的狭缝连通，第一密封壳体内设有光源，第二密封壳体内设有第一平凹面镜，第二平凹面镜，光栅和探测器，光源发出的光波通过狭缝入射到第一平凹面镜上，经光栅的衍射，光束中不同波长的光波以不同的角度照射在第二平凹面镜上，然后经过第二平凹面镜聚焦后，不同波长的光波照射在探测器的不同像素位置处。它的优点是光源发出的光波经过第一平凹面镜，光栅和第二平凹面镜后形成不同波长的光波，不同波长的光波照射在探测器的感光面上，探测器可以检测入射光线的相对光谱功率分布，色坐标，色温相关参数，测量精度高，测量准确。

Spectrophotometer

The invention discloses a spectroradiometer, which comprises a first sealed case and a second sealed case. The first sealed case and the second sealed case are connected through a slot provided. The first sealed case is provided with a light source, and the second sealed case is provided with a first flat concave mirror, a second flat concave mirror, a grating and a detector, and a light source. The light wave emitted is incident on the first flat concave mirror through a slit, and diffracted by a grating. The light waves of different wavelengths in the beam are illuminated on the second flat concave mirror at different angles. After focusing on the second flat concave mirror, the light waves of different wavelengths are illuminated at different pixel positions of the detector. Its advantage is that the light wave emitted by the light source passes through the first flat concave mirror, the grating and the second flat concave mirror to form different wavelengths of light. The light wave of different wavelengths is irradiated on the photosensitive surface of the detector. The detector can detect the relative spectral power distribution of the incident light, the color coordinates, the color temperature related parameters, and the measurement accuracy is high. The amount is accurate.

【技术实现步骤摘要】
分光辐射照度计
本专利技术涉及光谱测量技术，尤其是一种分光辐射照度计。
技术介绍
目前测试光谱图通过余弦校正器透光后，采用硅光电池传感器检测光电信号，再通过软件对传感器的光电信号进行计算。这种技术对可见光的分光效果比较差，不能最大限度的对每种单色光进行有效分析，所以对可见光和每种单色光的测试值偏差较大，无法汇出光谱图。
技术实现思路
本专利技术的目的是解决现有技术的不足，提供一种分光辐射照度计。本专利技术的一种技术方案：一种分光辐射照度计，包括第一密封壳体和第二密封壳体，第一密封壳体和第二密封壳体通过设有的狭缝连通，第一密封壳体内设有光源，第二密封壳体内设有第一平凹面镜，第二平凹面镜，光栅和探测器，光源发出的光波通过狭缝入射到第一平凹面镜上，变为平行光后照射在光栅上，经光栅的衍射，光束中不同波长的光波以不同的角度照射在第二平凹面镜上，然后经过第二平凹面镜聚焦后，不同波长的光波照射在探测器的不同像素位置处。一种优选方案是探测器位于第二平凹面镜的焦平面。一种优选方案是探测器的尺寸大于或等于成像光斑的尺寸。一种优选方案是探测器连接有光电信号转换处理器，光电信号转换处理器连接有显示屏，探测器采集光信号传输至光电信号转换处理器，光电信号转换处理器将光信号转换为电信号并于显示屏上显示。一种优选方案是第一密封壳体设有聚焦元件，光源发出的光波经过聚焦元件聚焦后通过狭缝入射到第一平凹面镜上。一种优选方案是光源为LED灯光。综合上述技术方案，本专利技术的有益效果：光源发出的光波经过第一平凹面镜，光栅和第二平凹面镜后形成不同波长的光波，不同波长的光波照射在探测器上，因此通过探测器可以检测入射光线的相对光谱功率分布，色坐标，色温相关参数，便于测试者查看并分析结果；测量精度高，测量准确，可以方便测试显色指数，满足光源的高级测试要求。上述说明仅是本专利技术技术方案的概述，为了能够更清楚了解本专利技术的技术手段，而可依照说明书的内容予以实施，并且为了让本专利技术的上述和其他目的、特征和优点能够更明显易懂，以下特举较佳实施例，并配合附图，详细说明如下。附图说明图1是本专利技术的示意图。具体实施方式需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。下面结合附图对本专利技术做进一步描述。如图1所示，一种分光辐射照度计，包括第一密封壳体10和第二密封壳体20，第一密封壳体10和第二密封壳体20通过设有的狭缝25连通，狭缝25设置在第二密封壳体20侧壁，第一密封壳体10内设有光源11，第二密封壳体20内设有第一平凹面镜21，第二平凹面镜22，光栅23和探测器24，密封壳体设有狭缝25，光源11发出的光波通过狭缝25入射到第一平凹面镜21上，变为平行光后照射在光栅23上，经光栅23的衍射，光束中不同波长的光波以不同的角度照射在第二平凹面镜22上，然后经过第二平凹面镜22聚焦后，不同波长的光波照射在探测器24的不同像素位置处。光源11发出的光波经过第一平凹面镜21，光栅23和第二平凹面镜22后形成不同波长的光波，不同波长的光波照射在探测器24的感光面上，探测器24可以检测入射光线的相对光谱功率分布，色坐标，色温相关参数，便于测试者查看并分析结果。测量精度高，测量准确，可以方便测试显色指数，满足光源的高级测试要求。优选的，如图1所示，探测器24位于第二平凹面镜22的焦平面。优选的，如图1所示，探测器24的尺寸大于或等于成像光斑的尺寸。优选的，如图1所示，探测器24连接有光电信号转换处理器26，光电信号转换处理器26连接有显示屏27，探测器24采集光信号传输至光电信号转换处理器26，光电信号转换处理器26将光信号转换为电信号并于显示屏27上显示，经过电信号转换处理器26处理后的数据在显示屏27上显示，显示的内容包括光谱功率分布，色坐标和色温，便于测试者查看和分析。优选的，如图1所示，第一密封壳体10设有聚焦元件12，光源11发出的光波经过聚焦元件12聚焦后通过狭缝25入射到第一平凹面镜21上。优选的，如图1所示，光源11为LED灯光。以上是本专利技术的具体实施方式，应当指出，对于本
的普通技术人员来说，在不脱离本专利技术原理的前提下，还可以做出若干改进和润饰，这些改进和润饰也视为本专利技术的保护范围。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种分光辐射照度计，其特征在于，包括第一密封壳体和第二密封壳体，所述第一密封壳体和第二密封壳体通过设有的狭缝连通，所述第一密封壳体内设有光源，所述第二密封壳体内设有第一平凹面镜，第二平凹面镜，光栅和探测器，所述光源发出的光波通过狭缝入射到第一平凹面镜上，变为平行光后照射在光栅上，经光栅的衍射，光束中不同波长的光波以不同的角度照射在第二平凹面镜上，然后经过第二平凹面镜聚焦后，不同波长的光波照射在探测器的不同像素位置处。

【技术特征摘要】
1.一种分光辐射照度计，其特征在于，包括第一密封壳体和第二密封壳体，所述第一密封壳体和第二密封壳体通过设有的狭缝连通，所述第一密封壳体内设有光源，所述第二密封壳体内设有第一平凹面镜，第二平凹面镜，光栅和探测器，所述光源发出的光波通过狭缝入射到第一平凹面镜上，变为平行光后照射在光栅上，经光栅的衍射，光束中不同波长的光波以不同的角度照射在第二平凹面镜上，然后经过第二平凹面镜聚焦后，不同波长的光波照射在探测器的不同像素位置处。2.根据权利要求1所述的分光辐射照度计，其特征在于，所述探测器位于第二平凹面镜的焦平面。3.根据权利要求1或2...

【专利技术属性】
技术研发人员：张华峰，
申请(专利权)人：深圳市奥荣科技有限公司，
类型：发明
国别省市：广东,44