一种IIC故障的检测响应电路和IIC总线系统技术方案

本实用新型专利技术公开了一种IIC故障的检测响应电路和IIC总线系统。该IIC故障的检测响应电路包括：电子开关和主控芯片；所述电子开关，设置于所述主控芯片与从设备之间的IIC总线通路上，用于接通或断开所述主控芯片与所述从设备之间的信号传输；所述主控芯片，通过I/O端口连接至所述电子开关的输入引脚，用于在IIC总线异常时逐个接通所述电子开关以检测异常从设备，并断开所述主控芯片与所述异常从设备之间的电子开关。本实施例解决IIC总线通路上异常从设备对IIC通信的影响而导致所有从设备无法正常通信的问题，实现快速简便地检测出异常从设备，断开异常从设备所在的IIC总线通路以排除异常从设备对IIC总线通信的影响，保证其他从设备继续进行正常通信。

【技术实现步骤摘要】
一种IIC故障的检测响应电路和IIC总线系统
本技术实施例涉及电子
，尤其涉及一种IIC故障的检测响应电路和IIC总线系统。
技术介绍
目前，在嵌入式系统中大量使用具有IIC(Inter-IntegratedCircuit，集成电路总线)接口的外围器件与微处理器通信，例如EEPROM(ElectricallyErasableProgrammablereadonlymemory，电可擦除可编程只读存储器)芯片、Flash芯片、时钟芯片等都提供了IIC总线接口。微控制器的IIC接口和外围器件的IIC接口连接，微控制器作为主控芯片，外围器件作为从设备，实现主从式的通信功能。图1是现有技术中IIC总线上主控芯片和从设备之间的连接关系的结构示意图，如图1所示，从物理结构上看，IIC总线是由一条串行数据线SDA(SerialDataLine)和一条串行时钟线SCL(SerialClockLine)组成。通信时，主控芯片的IIC接口按照一定的通信协议来控制数据线SDA和时钟线SCL向从设备寻址和进行信息传输。一条IIC总线上可以挂在多个从设备。主控芯片通过IIC总线是以串行方式向从设备传输数据。IIC总线通信时对数据线和时钟线的时序要求特别严格，在实际使用中经常因受到干扰，导致信号线时序错乱，主控芯片和从设备之间的通信失败，比如静电作用、开/关机时产生的冲击电流等原因容易把从设备打坏，使得从设备内部对地短路，从设备出现的异常会对IIC总线通路产生影响，使得挂载在IIC总线上的所有从设备均无法与主控芯片进行正常的IIC通信。
技术实现思路
本技术提供一种IIC故障的检测响应电路和IIC总线系统，以实现快速简便地检测出异常从设备，断开该异常从设备所在II总线通路，保证其他从设备能进行正常的IIC通信。本技术实施例提供了一种IIC故障的检测响应电路，包括：电子开关和主控芯片；所述电子开关，设置于所述主控芯片与从设备之间的IIC总线通路上，用于接通或断开所述主控芯片与所述从设备之间的信号传输；所述主控芯片，通过I/O端口连接至所述电子开关的输入引脚，用于在IIC总线异常时逐个接通所述电子开关以检测异常从设备，并断开所述主控芯片与所述异常从设备之间的电子开关。其中，所述主控芯片通过IIC通讯接口把所述电子开关接入至所述IIC总线通路的数据线和时钟线上。其中，所述主控芯片有多个I/O端口，每个所述电子开关分别连接至至少一个所述I/O端口以供所述主控芯片控制多个所述电子开关的工作状态。其中，所述工作状态包括：接通所述从设备所在的IIC总线通路和断开所述从设备所在的IIC总线通路。其中，所述主控芯片通过I/O端口发送控制信号至所述电子开关，以使所述电子开关接通不同的输出引脚。其中，IIC总线通路上挂载有两个以上所述从设备。其中，每一个所述从设备所在的IIC总线通路均分别设置有独立的所述电子开关。其中，所述电子开关是数字芯片。其中，还包括报警装置；所述报警装置与所述主控芯片相连，用于输出对应于所述异常从设备的报警提醒。本技术实施例还提供了一种IIC总线系统，包括前文所述的一种IIC故障的检测响应电路。本技术通过提供一种IIC故障的检测响应电路和IIC总线系统，该检测响应电路包括电子开关和主控芯片，所述电子开关，设置于所述主控芯片与从设备之间的IIC总线通路上，用于接通或断开所述主控芯片与所述从设备之间的信号传输；所述主控芯片，通过I/O端口连接至所述电子开关的输入引脚，用于在IIC总线异常时逐个接通所述电子开关以检测异常从设备，并断开所述主控芯片与所述异常从设备之间的电子开关，解决IIC总线通路上从设备的异常对IIC通信的影响而导致所有从设备无法正常通信的问题，实现快速简便地检测出异常从设备，断开异常从设备的通路，保证其他从设备继续进行正常通信。附图说明图1是现有技术中IIC总线上主控芯片和从设备之间的连接关系的结构示意图；图2是本技术实施例一提供的一种IIC故障的检测响应电路的结构示意图；图3是本技术实施例一提供的一种IIC故障的检测响应电路的主控芯片的电路示意图；图4是本技术实施例一提供的一种IIC故障的检测响应电路的电子开关的电路示意图；图5是本技术实施例一提供的一种IIC故障的检测响应电路的从设备的电路示意图。具体实施方式下面结合附图和实施例对本技术作进一步的详细说明。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本技术，而非对本技术的限定。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与本技术相关的部分而非全部结构。实施例一图2是本技术实施例一提供的一种IIC故障的检测响应电路的主控芯片的电路示意图，如图2所示，该IIC故障的检测响应电路包括：电子开关110和主控芯片120。电子开关110，设置于主控芯片120与从设备130之间的IIC总线通路上，用于接通或断开主控芯片120与从设备130之间的信号传输；主控芯片120，通过I/O端口连接至电子开关110的输入引脚，用于在IIC总线异常时逐个接通所述电子开关以检测异常从设备，并断开主控芯片120与异常从设备之间的电子开关110。其中，该检测响应电路还包括：从设备130，通过IIC通讯接口连接至电子开关110的输出引脚，挂载在IIC总线通路的数据线和时钟线上。每一个从设备130所在的IIC总线通路上均分别设置有独立的电子开关110，其中该IIC通讯接口包括：数据线接口和时钟线接口。具体的，图3是本技术实施例一提供的一种IIC故障的检测响应电路的主控芯片的电路示意图，如图3所示，主控芯片120的引脚1和引脚2分别为主控芯片120的IIC总线的数据线接口IIC_HOST_SDA和时钟线接口IIC_HOST_SCL所对应的输出引脚，引脚3至引脚8均分别对应为I/O端口。主控芯片120的数据线接口IIC_HOST_SDA和时钟线接口IIC_HOST_SCL所对应的输出引脚分别连接至电子开关110的IIC总线的数据线接口和时钟线接口相对应的输入引脚上，把该电子开关110接入至IIC总线通路上。同一个主控芯片120的同一个IIC通讯接口连接至不同电子开关的IIC通讯接口上，同一个主控芯片120的不同的I/O端口分别连接至不同的电子开关110的I/O端口上，以控制多个电子开关110的工作状态，例如主控芯片120的I/O端口CTL_IO1和CTL_IO2所对应的引脚3和引脚4连接至第一个电子开关110，主控芯片120的I/O端口CTL_IO3和CTL_IO4所对应的引脚5和引脚6连接至第二个电子开关110，主控芯片120的I/O端口CTL_IO5和CTL_IO6所对应的引脚7和引脚8连接至第三个电子开关110，以实现主控芯片对这三个电子开关的工作状态的控制。图4是本技术实施例一提供的一种IIC故障的检测响应电路的电子开关的电路示意图。如图4所示，电子开关110是数字芯片，电子开关110的引脚13和引脚1分别为IIC总线的数据线接口IIC_HOST_SDA和时钟线接口IIC_HOST_SCL所对应的输入引脚，分别对应连接至主控芯片120的引脚1和引脚2上，实现IIC总线通路上的主控芯片120和电子开关110本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种IIC故障的检测响应电路，其特征在于，包括：电子开关和主控芯片；所述电子开关，设置于所述主控芯片与从设备之间的IIC总线通路上，用于接通或断开所述主控芯片与所述从设备之间的信号传输；所述主控芯片，通过I/O端口连接至所述电子开关的输入引脚，用于在IIC总线异常时逐个接通所述电子开关以检测异常从设备，并断开所述主控芯片与所述异常从设备之间的电子开关。

【技术特征摘要】
1.一种IIC故障的检测响应电路，其特征在于，包括：电子开关和主控芯片；所述电子开关，设置于所述主控芯片与从设备之间的IIC总线通路上，用于接通或断开所述主控芯片与所述从设备之间的信号传输；所述主控芯片，通过I/O端口连接至所述电子开关的输入引脚，用于在IIC总线异常时逐个接通所述电子开关以检测异常从设备，并断开所述主控芯片与所述异常从设备之间的电子开关。2.根据权利要求1所述的检测响应电路，其特征在于，所述主控芯片通过IIC通讯接口把所述电子开关接入至所述IIC总线通路的数据线和时钟线上。3.根据权利要求2所述的检测响应电路，其特征在于，所述主控芯片有多个I/O端口，每个所述电子开关分别连接至至少一个所述I/O端口以供所述主控芯片控制多个所述电子开关的工作状态。4.根据权利要求3所述的检测响应电路，其特征在于，所述工...

【专利技术属性】
技术研发人员：路堃熙，
申请(专利权)人：广州视源电子科技股份有限公司，广州视睿电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：广东,44