一种公共脚缺针的测试工装制造技术

本实用新型专利技术公开一种公共脚缺针的测试工装，所述测试工装用于对数码管进行测试，所述数码管包括第一组管脚，第二组管脚，所述第二组管脚与所述第一组管脚连接，所述第二组管脚包括第一脚和第二脚，且所述第一脚和第二脚均为公共脚或空脚；所述工装包括：测试机，所述测试机包括：处理单元；报警单元，所述报警单元与所述处理单元通信连接；发光二极管，所述发光二极管设置在所述第一脚和所述测试机之间；所述处理单元与所述发光二极管连接，所述处理单元接收来自所发光二极管的信息后发送给所述报警单元。通过上述工装解决了现有技术中靠人眼观察数码管缺针情况，效率低，准确度低的技术问题，达到了高效、准确测试出数码管缺针情况的技术效果。

【技术实现步骤摘要】
一种公共脚缺针的测试工装
本技术涉及测试
，特别涉及一种公共脚缺针的测试工装。
技术介绍
数码管在电路系统中有广泛的应用，但因数码管管脚多，且公共脚封装起来，不容易察觉数码管的缺针现象。但本申请专利技术人在实现本申请实施例中技术方案的过程中，发现上述现有技术至少存在如下技术问题：现在使用的数码管测试工装，针对公共脚在缺针的封装下不能被测试出，只能靠员工用眼睛观察确认，但经常会出现误判情况，造成不良品流出到客户端。
技术实现思路
本技术提供了一种公共脚缺针的测试工装，解决了现有技术中靠人眼观察数码管缺针情况，效率低，准确度低的技术问题，达到了高效、准确测试出数码管缺针情况的技术效果。本技术提供了一种公共脚缺针的测试工装，所述测试工装用于对数码管进行测试，其中，所述数码管包括第一组管脚，第二组管脚，所述第二组管脚与所述第一组管脚连接，所述第二组管脚包括第一脚和第二脚，且所述第一脚和第二脚均为公共脚或空脚；所述工装包括：测试机，所述测试机用于测试所述数码管公共脚针是否开路，所述测试机包括：处理单元；报警单元，所述报警单元与所述处理单元通信连接；发光二极管，所述发光二级管设置在所述第一脚和所述测试机之间；或所述发光二极管设置在所述第二脚和所述测试机之间；且，所述处理单元与所述发光二极管连接，所述处理单元接收来自所发光二极管的信息后发送给所述报警单元。优选的，所述工装包括：所述发光二极管包括第一发光二极管和第二发光二极管，其中，所述第一发光二极管设置在所述第一脚和所述测试机之间；所述第二发光二极管设置在所述第二脚和所述测试机之间。优选的，所述工装包括：所述第二组管脚还包括第三脚，其中，所述第三脚为公共脚或空脚；所述第一脚、所述第二脚和所述第三脚之间有线路连接。本技术实施例中的上述一个或多个技术方案，至少具有如下一种或多种技术效果：1、在本技术实施例提供的一种公共脚缺针的测试工装，所述测试工装用于对数码管进行测试，其中，所述数码管包括第一组管脚，第二组管脚，所述第二组管脚与所述第一组管脚连接，所述第二组管脚包括第一脚和第二脚，且所述第一脚和第二脚均为公共脚或空脚；所述工装包括：测试机，所述测试机用于测试所述数码管公共脚针是否开路，所述测试机包括：处理单元；报警单元，所述报警单元与所述处理单元通信连接；发光二极管，所述发光二级管设置在所述第一脚和所述测试机之间；或所述发光二极管设置在所述第二脚和所述测试机之间；且，所述处理单元与所述发光二极管连接，所述处理单元接收来自所发光二极管的信息后发送给所述报警单元。通过上述工装解决了现有技术中靠人眼观察数码管缺针情况，效率低，准确度低的技术问题，达到了高效、准确测试出数码管缺针情况的技术效果。2、本技术实施例通过所述发光二极管包括第一发光二极管和第二发光二极管，其中，所述第一发光二极管设置在所述第一脚和所述测试机之间；所述第二发光二极管设置在所述第二脚和所述测试机之间，达到准确、快速对两个及大于两个以上公共脚的数码管，个别或多个缺针情况进行检测的技术效果。3、本技术实施例通过所述第二组管脚还包括第三脚，其中，所述第三脚为公共脚或空脚；所述第一脚、所述第二脚和所述第三脚之间有线路连接，达到准确、快速对两个以上空脚的缺针情况进行检测的技术效果。上述说明仅是本技术技术方案的概述，为了能够更清楚了解本技术的技术手段，而可依照说明书的内容予以实施，并且为了让本技术的上述和其它目的、特征和优点能够更明显易懂，以下特举本技术的具体实施方式。附图说明图1为本技术实施例中一种公共脚缺针的测试工装的线路结构示意图；图2为另一种图1所示公共脚缺针的测试工装的线路结构示意图；图3为另一种图1所示公共脚缺针的测试工装的线路结构示意图。附图标记说明：第一脚1；第二脚2；第三脚11；测试机20；发光二极管21；处理单元22；报警单元23；第一发光二极管211；第二发光二极管212。具体实施方式本技术实施例提供了一种公共脚缺针的测试工装，解决了现有技术中靠人眼观察数码管缺针情况，效率低，准确度低的技术问题，达到了高效、准确测试出数码管缺针情况的技术效果。本技术实施例中的技术方案，总体结构如下：一种公共脚缺针的测试工装，所述测试工装用于对数码管进行测试，其中，所述数码管包括第一组管脚，第二组管脚，所述第二组管脚与所述第一组管脚连接，所述第二组管脚包括第一脚和第二脚，且所述第一脚和第二脚均为公共脚或空脚；所述工装包括：测试机，所述测试机用于测试所述数码管公共脚针是否开路，所述测试机包括：处理单元；报警单元，所述报警单元与所述处理单元通信连接；发光二极管，所述发光二级管设置在所述第一脚和所述测试机之间；或所述发光二极管设置在所述第二脚和所述测试机之间；且，所述处理单元与所述发光二极管连接，所述处理单元接收来自所发光二极管的信息后发送给所述报警单元。通过上述工装解决了现有技术中靠人眼观察数码管缺针情况，效率低，准确度低的技术问题，达到了高效、准确测试出数码管缺针情况的技术效果。为使本技术实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。实施例一本技术实施例提供了一种公共脚缺针的测试工装，请参考图1-3，所述测试工装用于对数码管进行测试，其中，所述数码管包括第一组管脚，第二组管脚，所述第二组管脚与所述第一组管脚连接，所述第二组管脚包括第一脚1和第二脚2，且所述第一脚1和第二脚2均为公共脚；具体而言，所述数码管包括所述第一组管脚和所述第二组管脚，所述第一组管脚包括管脚3-10，为所述数码管的阴极管脚。所述第二组管脚包括第一脚1和第二脚2，所述第一脚1和所述第二脚2均为公共脚。所述工装包括：测试机20，所述测试机20用于测试所述数码管公共脚针是否开路，所述测试机包括：处理单元22；报警单元23，所述报警单元23与所述处理单元22通信连接；发光二极管21，所述发光二级管21设置在所述第一脚1和所述测试机20之间；或所述发光二极管21设置在所述第二脚2和所述测试机20之间；且，所述处理单元22与所述发光二极管21连接，所述处理单元22接收来自所发光二极管21的信息后发送给所述报警单元23。具体而言，所述第二组管脚包括所述第一脚1、所述第二脚2，所述第一脚1、所述第二脚2均为公共脚。所述工装包括所述发光二极管21和所述测试机20，所述测试机20内设置所述处理单元22和所述报警单元23，所述发光二级管21可以设置在所述第一脚1和所述处理单元22之间，也可以设置在所述发光二极管21设置在所述第二脚2和所述处理单元22之间。如图1所述的实施例中，所述发光二级管21设置在所述第一脚1和所述处理单元22之间，所述第二脚2与所述测试机20相连，形成测试回路。所述处理单元22与所述发光二极管21连接，所述报警单元23与所述处理单元22通信连接。当所述第一脚1、所述第二脚2任一个公共脚有开路情况，所述发光二本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种公共脚缺针的测试工装，所述测试工装用于对数码管进行测试，其中，所述数码管包括第一组管脚，第二组管脚，所述第二组管脚与所述第一组管脚连接，所述第二组管脚包括第一脚和第二脚，且所述第一脚和第二脚均为公共脚或空脚；其特征在于，所述工装包括：测试机，所述测试机用于测试所述数码管公共脚或空脚针是否开路，所述测试机包括：处理单元；报警单元，所述报警单元与所述处理单元通信连接；发光二极管，所述发光二极管设置在所述第一脚和所述测试机之间；或所述发光二极管设置在所述第二脚和所述测试机之间；且，所述处理单元与所述发光二极管连接，所述处理单元接收来自所发光二极管的信息后发送给所述报警单元。

【技术特征摘要】
1.一种公共脚缺针的测试工装，所述测试工装用于对数码管进行测试，其中，所述数码管包括第一组管脚，第二组管脚，所述第二组管脚与所述第一组管脚连接，所述第二组管脚包括第一脚和第二脚，且所述第一脚和第二脚均为公共脚或空脚；其特征在于，所述工装包括：测试机，所述测试机用于测试所述数码管公共脚或空脚针是否开路，所述测试机包括：处理单元；报警单元，所述报警单元与所述处理单元通信连接；发光二极管，所述发光二极管设置在所述第一脚和所述测试机之间；或所述发光二极管设置在所述第二脚和所述测试机...

【专利技术属性】
技术研发人员：谭兴宇，张子军，王红枚，张玉鹏，周慧，
申请(专利权)人：青岛李洲电子科技股份有限公司，
类型：新型
国别省市：山东,37