一种可调整滤波参数的水质硬度检测器及其水处理器制造技术

本实用新型专利技术公开了一种可调整滤波参数的水质硬度检测器及其水处理器，包括水质硬度探头、信号采样电路、参数可调滤波电路、信号放大电路和MCU芯片，所述参数可调滤波电路包括电阻R1、电阻R2、电阻R3、电容C1、电容C2、电容C3、三极管Q1、三极管Q2、三极管Q3和三极管Q4。参数可调滤波电路设置三极管Q1、三极管Q2、三极管Q3和三极管Q4，通过不同的开关组合，形成不同的滤波参数，以适应不同的共模干扰程度；可根据实际电源环境自行调整滤波参数，避免了产品在实验室/工厂测试通过但在其他地方受电源干扰影响测试结果的问题出现。

【技术实现步骤摘要】
一种可调整滤波参数的水质硬度检测器及其水处理器
本技术涉及水质检测
，尤其涉及一种可调整滤波参数的水质硬度检测器及其水处理器。
技术介绍
在对饮用水、工业过程水进行软化处理时，常使用水质硬度探头进行水质硬度的测量。由于探头输出信号是毫伏级别的电压信号，容易受到电源的共模干扰，在对采样电压信号进行放大处理前，必须对采样电压信号进行滤波处理，以避免干扰信号影响测量准确度。由于水质硬度探头1的实际电源环境多变，受到电源的共模干扰程度不一样，并且现有的水质硬度检测器的滤波参数不能调整，因此经常出现产品在实验室/工厂测试通过但在其他地方受电源干扰影响测试结果的问题，一旦干扰信号过大而无法有效滤波时容易损坏水质硬度探头配套电路板。
技术实现思路
本技术的目的在于提出一种可根据实际电源环境调整滤波参数，避免了产品在实验室/工厂测试通过但在其他地方受电源干扰影响测试结果的问题出现的可调整滤波参数的水质硬度检测器及其水处理器。为达此目的，本技术采用以下技术方案：一种可调整滤波参数的水质硬度检测器，包括水质硬度探头、信号采样电路、参数可调滤波电路、信号放大电路和MCU芯片，所述水质硬度探头的输出端和信号采样电路的输入端电连接，所述信号采样电路的输出端和参数可调滤波电路的输入端电连接，所述参数可调滤波电路的输出端和信号放大电路的输入端电连接，所述信号放大电路的输出端和MCU芯片的输入端电连接；所述参数可调滤波电路包括电阻R1、电阻R2、电阻R3、电容C1、电容C2、电容C3、三极管Q1、三极管Q2、三极管Q3和三极管Q4，电阻R1的一端、电阻R2的一端和电阻R3的一端均和信号采样电路的输出端电连接，所述电阻R1的另一端和电容C1的一端电连接，所述电阻R2的另一端和三极管Q1的发射极电连接，所述电阻R3的另一端和三极管Q2的发射极电连接，所述三极管Q1的集电极和电容C1的一端电连接，所述三极管Q2的集电极和电容C1的一端电连接，所述电容C2的一端、电容C3的一端和电容C1的一端电连接，所述电容C1的一端和信号放大电路的输入端电连接，所述电容C2的另一端和三极管Q3的集电极电连接，所述电容C3的另一端和三极管Q4的集电极电连接，所述电容C1的另一端、三极管Q3的发射极和三极管Q4的发射极均接地，所述三极管Q1的基极、三极管Q2的基极、三极管Q3的基极和三极管Q4的基极均与MCU芯片电连接。优选地，所述信号放大电路包括电阻R4、电阻R5和运算放大器U1，所述运算放大器U1的同相输入端和电容C1的一端电连接，所述电阻R4的一端、电阻R5的一端和运算放大器U1的反相输入端电连接，所述电阻R4的另一端接地，所述电阻R5的另一端和运算放大器U1的输出端电连接，所述运算放大器U1的输出端和MCU芯片的输入端电连接。优选地，所述MCU芯片设有AD转换电路和触发电路，所述AD转换电路的输入端和运算放大器U1的输出端电连接，所述AD转换电路的输出端和触发电路的输入端电连接，所述三极管Q1的基极、三极管Q2的基极、三极管Q3的基极和三极管Q4的基极均与触发电路的输出端电连接。优选地，使用所述可调整滤波参数的水质硬度检测器的水处理器，包括水处理器主体和可调整滤波参数的水质硬度检测器，所述可调整滤波参数的水质硬度检测器安装于水处理器主体内，所述可调整滤波参数的水质硬度检测器的水质硬度探头设置于水处理器主体的水箱。所述可调整滤波参数的水质硬度检测器中，参数可调滤波电路设置三极管Q1、三极管Q2、三极管Q3和三极管Q4，通过不同的开关组合，形成不同的滤波参数，以适应不同的共模干扰程度；可根据实际电源环境自行调整滤波参数，减少信号放大电路的设计时间，避免了产品在实验室/工厂测试通过但在其他地方受电源干扰影响测试结果的问题出现，实现滤波参数在产品生产后仍然可调，降低售后水质硬度探头配套电路板的售后维修率。附图说明附图对本技术做进一步说明，但附图中的内容不构成对本技术的任何限制。图1是本技术其中一个实施例的可调整滤波参数的水质硬度检测器结构示意图；图2是本技术其中一个实施例的水处理器结构示意图。其中：水质硬度探头1；信号采样电路2；参数可调滤波电路3；信号放大电路4；MCU芯片5；电阻R1、R2、R3、R4、R5；运算放大器U1；电容C1、C2、C3；三极管Q1、Q2、Q3、Q4；AD转换电路51；触发电路52；水处理器主体6；水箱61。具体实施方式下面结合附图并通过具体实施方式来进一步说明本技术的技术方案。本实施例的可调整滤波参数的水质硬度检测器，如图1所示，包括水质硬度探头1、信号采样电路2、参数可调滤波电路3、信号放大电路4和MCU芯片5，所述水质硬度探头1的输出端和信号采样电路2的输入端电连接，所述信号采样电路2的输出端和参数可调滤波电路3的输入端电连接，所述参数可调滤波电路3的输出端和信号放大电路4的输入端电连接，所述信号放大电路4的输出端和MCU芯片5的输入端电连接；所述参数可调滤波电路3包括电阻R1、电阻R2、电阻R3、电容C1、电容C2、电容C3、三极管Q1、三极管Q2、三极管Q3和三极管Q4，电阻R1的一端、电阻R2的一端和电阻R3的一端均和信号采样电路2的输出端电连接，所述电阻R1的另一端和电容C1的一端电连接，所述电阻R2的另一端和三极管Q1的发射极电连接，所述电阻R3的另一端和三极管Q2的发射极电连接，所述三极管Q1的集电极和电容C1的一端电连接，所述三极管Q2的集电极和电容C1的一端电连接，所述电容C2的一端、电容C3的一端和电容C1的一端电连接，所述电容C1的一端和信号放大电路4的输入端电连接，所述电容C2的另一端和三极管Q3的集电极电连接，所述电容C3的另一端和三极管Q4的集电极电连接，所述电容C1的另一端、三极管Q3的发射极和三极管Q4的发射极均接地，所述三极管Q1的基极、三极管Q2的基极、三极管Q3的基极和三极管Q4的基极均与MCU芯片5电连接。所述可调整滤波参数的水质硬度检测器中，水质硬度探头1用于水质硬度的测量，水质硬度探头1输出信号为毫伏级别的电压信号，会被输送至信号采样电路2，由于毫伏级别的电压信号容易受到电源的共模干扰，因此毫伏级别的采样电压信号需要通过所述参数可调滤波电路3进行滤波处理，再通过信号放大电路4进行放大处理，向MCU芯片5输送运放输出电压信号，以进行下一步的数据处理。由于水质硬度探头1的实际电源环境多变，受到电源的共模干扰程度不一样，因此参数可调滤波电路3设置三极管Q1、三极管Q2、三极管Q3和三极管Q4，通过不同的开关组合，形成不同的滤波参数，以适应不同的共模干扰程度。三极管Q1、三极管Q2、三极管Q3和三极管Q4由MCU芯片5输送触发信号，例如三极管Q1、三极管Q2、三极管Q3和三极管Q4保持关断时，则由电阻R1和电容C1组成滤波参数为R1*C1；当三极管Q1导通，而三极管Q2、三极管Q3和三极管Q4保持关断时，由电阻R1、电阻R2和电容C1组成滤波参数为((R1+R2)/R1*R2)*C1；如此类推，通过控制三极管Q1、三极管Q2、三极管Q3和三极管Q4的通断状态，可形成16种不同的触发信号组合，对应形成16个不同的滤波电路参数。从而可调整滤波参本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种可调整滤波参数的水质硬度检测器，其特征在于：包括水质硬度探头、信号采样电路、参数可调滤波电路、信号放大电路和MCU芯片，所述水质硬度探头的输出端和信号采样电路的输入端电连接，所述信号采样电路的输出端和参数可调滤波电路的输入端电连接，所述参数可调滤波电路的输出端和信号放大电路的输入端电连接，所述信号放大电路的输出端和MCU芯片的输入端电连接；所述参数可调滤波电路包括电阻R1、电阻R2、电阻R3、电容C1、电容C2、电容C3、三极管Q1、三极管Q2、三极管Q3和三极管Q4，电阻R1的一端、电阻R2的一端和电阻R3的一端均和信号采样电路的输出端电连接，所述电阻R1的另一端和电容C1的一端电连接，所述电阻R2的另一端和三极管Q1的发射极电连接，所述电阻R3的另一端和三极管Q2的发射极电连接，所述三极管Q1的集电极和电容C1的一端电连接，所述三极管Q2的集电极和电容C1的一端电连接，所述电容C2的一端、电容C3的一端和电容C1的一端电连接，所述电容C1的一端和信号放大电路的输入端电连接，所述电容C2的另一端和三极管Q3的集电极电连接，所述电容C3的另一端和三极管Q4的集电极电连接，所述电容C1的另一端、三极管Q3的发射极和三极管Q4的发射极均接地，所述三极管Q1的基极、三极管Q2的基极、三极管Q3的基极和三极管Q4的基极均与MCU芯片电连接。...

【技术特征摘要】
1.一种可调整滤波参数的水质硬度检测器，其特征在于：包括水质硬度探头、信号采样电路、参数可调滤波电路、信号放大电路和MCU芯片，所述水质硬度探头的输出端和信号采样电路的输入端电连接，所述信号采样电路的输出端和参数可调滤波电路的输入端电连接，所述参数可调滤波电路的输出端和信号放大电路的输入端电连接，所述信号放大电路的输出端和MCU芯片的输入端电连接；所述参数可调滤波电路包括电阻R1、电阻R2、电阻R3、电容C1、电容C2、电容C3、三极管Q1、三极管Q2、三极管Q3和三极管Q4，电阻R1的一端、电阻R2的一端和电阻R3的一端均和信号采样电路的输出端电连接，所述电阻R1的另一端和电容C1的一端电连接，所述电阻R2的另一端和三极管Q1的发射极电连接，所述电阻R3的另一端和三极管Q2的发射极电连接，所述三极管Q1的集电极和电容C1的一端电连接，所述三极管Q2的集电极和电容C1的一端电连接，所述电容C2的一端、电容C3的一端和电容C1的一端电连接，所述电容C1的一端和信号放大电路的输入端电连接，所述电容C2的另一端和三极管Q3的集电极电连接，所述电容C3的另一端和三极管Q4的集电极电连接，所述电容C1的另一端、三极管Q3的发射极和三极管Q4的发射极均...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈小平，罗魏，
申请(专利权)人：佛山市云米电器科技有限公司，陈小平，
类型：新型
国别省市：广东,44