一种数据处理方法及其装置、介质制造方法及图纸

技术编号:19429656 阅读:18 留言:0更新日期:2018-11-14 11:27
本发明专利技术实施例提供了一种数据处理方法及其装置、介质,其中,数据处理方法,应用于显示面板中,显示面板包括:M×N阵列排列的像素,该方法包括:获得当前显示的第i行相邻n列的像素对应的电压数据;根据存储的第i行的前m‑1行相邻n列的像素对应的电压数据,判断第i行第j列的像素对应的电压数据是否异常;若第i行第j列的像素对应的电压数据异常,则对第i行第j列的像素对应的电压数据进行滤波处理,以使得根据滤波处理后的电压数据计算得到阈值电压与实际阈值电压之间的差值小于或者等于第一阈值差值。本发明专利技术实施例提供的技术方案消除了对显示面板补偿后新增的亮点,提高了显示面板的显示效果。

【技术实现步骤摘要】
一种数据处理方法及其装置、介质
本专利技术实施例涉及显示
,具体涉及一种数据处理方法及其装置、介质。
技术介绍
有机发光二极管(OrganicLight-EmittingDiode,简称OLED)显示器是当前平板显示器研究领域的热点之一,与液晶显示器(LiquidCrystalDisplay,简称LCD)相比,OLED显示器具有低能耗、生产成本低、自发光、宽视角及响应速度快等优点,目前,在手机、平板电脑、数码相机等显示领域,OLED显示器已经开始取代传统的LCD显示器。与LCD利用稳定的电压控制亮度不同,OLED属于电流驱动,需要稳定的电流来控制器发光。一般OLED显示器通过每个像素中的像素驱动电路中的驱动晶体管向OLED输出电流,以驱动OLED发光。由于OLED显示器中的驱动晶体管的电学特性不一致,因此,像素单元之间存在亮度差异。为了保证因驱动晶体管的电学特性不一致造成的亮度不一致性的技术问题,现有技术提出了外部补偿方式,通过检测每个像素单元对应的驱动晶体管的源极电压,生成校正后的驱动电压,以保证OLED显示器所显示内容的一致性。经专利技术人研究发现,若OLED显示器中出现短路,在对其外部补偿之后会出现亮点,影响OLED显示器的显示效果。
技术实现思路
为了解决上述技术问题,本专利技术实施例提供了一种数据处理方法及其装置、介质,避免了在对OLED显示器外部补偿之后出现亮点,提高了OLED显示器的显示效果。第一方面,本专利技术实施例提供了一种数据处理方法,应用于显示面板中,所述显示面板包括:M×N阵列排列的像素,包括:获得当前显示的第i行相邻n列的像素对应的电压数据;其中,所述电压数据用于计算每个像素对应的驱动晶体管的阈值电压,相邻n列包括:第j-n+1列、…….、第j-1列和第j列,n-1<j≤N,1≤n≤N;根据存储的第i行的前m-1行相邻n列的像素对应的电压数据,判断第i行第j列的像素对应的电压数据是否异常,其中,m-1<i≤M,1<m<M;若第i行第j列的像素对应的电压数据异常,则对第i行第j列的像素对应的电压数据进行滤波处理,以使得根据滤波处理后的电压数据计算得到阈值电压与实际阈值电压之间的差值小于或者等于第一阈值差值。可选地,所述电压数据包括:像素对应的驱动晶体管的源极电压。可选地,所述根据存储的第i行的前m-1行相邻n列的像素对应的电压数据,判断第i行第j列的像素对应的电压数据是否异常包括:根据第i行相邻n列的像素对应的电压数据和第i行的前m-1行相邻n列的像素对应的电压数据,计算得到特征值;根据第i行第j列的像素对应的电压数据与所述特征值,判断第i行第j列的像素对应的电压数据是否异常。可选地,所述特征值为平均值或者加权平均值。可选地,所述根据第i行第j列的像素对应的电压数据与所述特征值,判断第i行第j列的像素对应的电压数据是否异常包括:判断第i行第j列的像素对应的电压数据与所述特征值的差值是否大于第二阈值差值,若第i行第j列的像素对应的电压数据与所述特征值的差值大于第二阈值差值,则第i行第j列的像素对应的电压数据异常。可选地,所述第二阈值差值为特征值的K倍,其中,0.1≤K≤0.2。可选地,所述对第i行第j列的像素对应的电压数据进行滤波处理包括:将第i行第j列的像素对应的电压数据修改为所述特征值。可选地,所述方法还包括:存储修改后的第i行相邻n列的像素对应的电压数据。可选地,所述方法还包括:根据修改后的第i行第j列的像素对应的电压数据对第i行第j列的像素进行补偿。第二方面,本专利技术实施例还提供了一种数据处理装置,应用于显示面板中,所述显示面板包括:M×N阵列排列的像素,包括:获得模块,用于获得当前显示的第i行相邻n列的像素对应的电压数据;其中,所述电压数据用于计算每个像素对应的驱动晶体管的阈值电压,相邻n列包括:第j-n-1列、…….、第j-1列和第j列,n-1<j≤N,1≤n≤N;判断模块,用于根据存储的第i行的前m-1行相邻n列的像素对应的电压数据,判断第i行第j列的像素对应的电压数据是否异常,其中,m-1<i≤M,1<m<M;滤波模块,用于若第i行第j列的像素对应的电压数据异常,则对第i行第j列的像素对应的电压数据进行滤波处理,以使得根据滤波处理后的电压数据计算得到阈值电压与实际阈值电压之间的差值小于或者等于第一阈值差值。可选地,还包括:m-1个存储模块;其中,第k个存储模块,用于存储第i-m+k行相邻n列的像素对应的电压数据,1≤k≤m-1。可选地,所述判断模块具体用于根据第i行相邻n列的像素对应的电压数据和第i行的前m-1行相邻n列的像素对应的电压数据,计算得到特征值;判断第i行第j列的像素对应的电压数据与所述特征值的差值是否大于第二阈值差值,若第i行第j列的像素对应的电压数据与所述特征值的差值大于第二阈值差值,判断为第i行第j列的像素对应的电压数据异常。可选地,所述滤波模块,用于将第i行第j列的像素对应的电压数据修改为所述特征值。可选地,当i=i+1时,修改后的第i行相邻n列的像素对应的电压数据存储在第m-1个存储模块中,第k个存储模块存储的数据以数据流的形式输入至第k-1个存储模块中,以替换第k-1个存储模块中所存储的数据。第三方面,本专利技术实施例还提供一种介质,其上存储有可在处理器上运行的计算机程序,所述计算机程序被所述处理器执行时实现上述数据处理装置的步骤。本专利技术实施例提供一种数据处理方法及其装置、介质,其中,数据处理方法,应用于显示面板中,显示面板包括:MXN阵列排列的像素,该方法包括:获得当前显示的第i行相邻n列的像素对应的电压数据;根据存储的第i行的前m-1行相邻n列的像素对应的电压数据,判断第i行第j列的像素对应的电压数据是否异常;若第i行第j列的像素对应的电压数据异常,则对第i行第j列的像素对应的电压数据进行滤波处理,以使得根据滤波处理后的电压数据计算得到阈值电压与实际阈值电压之间的差值小于或者等于第一阈值差值。本专利技术实施例提供的技术方案通过判断当前显示的像素的对应的电压数据是否异常,在异常的情况下,对其进行滤波处理,保证了根据滤波处理后的电压数据计算得到的阈值电压接近实际阈值电压值,消除了对显示面板补偿后新增的亮点,提高了显示面板的显示效果。本专利技术的其它特征和优点将在随后的说明书中阐述,并且,部分地从说明书中变得显而易见,或者通过实施本专利技术而了解。本专利技术的目的和其他优点可通过在说明书、权利要求书以及附图中所特别指出的结构来实现和获得。附图说明附图用来提供对本专利技术技术方案的进一步理解,并且构成说明书的一部分,与本申请的实施例一起用于解释本专利技术的技术方案,并不构成对本专利技术技术方案的限制。图1为现有的像素连接的像素驱动电路的等效电路图;图2为现有的像素的结构示意图;图3为本专利技术实施例提供的数据处理方法的流程图;图4为本专利技术实施例提供的数据装置的结构示意图。具体实施方式为使本专利技术的目的、技术方案和优点更加清楚明白,下文中将结合附图对本专利技术的实施例进行详细说明。需要说明的是,在不冲突的情况下,本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互任意组合。在附图的流程图示出本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种数据处理方法,其特征在于,应用于显示面板中,所述显示面板包括:M×N阵列排列的像素,包括:获得当前显示的第i行相邻n列的像素对应的电压数据;其中,所述电压数据用于计算每个像素对应的驱动晶体管的阈值电压,相邻n列包括:第j‑n+1列、…….、第j‑1列和第j列,n‑1

【技术特征摘要】
1.一种数据处理方法,其特征在于,应用于显示面板中,所述显示面板包括:M×N阵列排列的像素,包括:获得当前显示的第i行相邻n列的像素对应的电压数据;其中,所述电压数据用于计算每个像素对应的驱动晶体管的阈值电压,相邻n列包括:第j-n+1列、…….、第j-1列和第j列,n-1<j≤N,1≤n≤N;根据存储的第i行的前m-1行相邻n列的像素对应的电压数据,判断第i行第j列的像素对应的电压数据是否异常,其中,m-1<i≤M,1<m<M;若第i行第j列的像素对应的电压数据异常,则对第i行第j列的像素对应的电压数据进行滤波处理,以使得根据滤波处理后的电压数据计算得到阈值电压与实际阈值电压之间的差值小于或者等于第一阈值差值。2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述电压数据包括:像素对应的驱动晶体管的源极电压。3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据存储的第i行的前m-1行相邻n列的像素对应的电压数据,判断第i行第j列的像素对应的电压数据是否异常包括:根据第i行相邻n列的像素对应的电压数据和第i行的前m-1行相邻n列的像素对应的电压数据,计算得到特征值;根据第i行第j列的像素对应的电压数据与所述特征值,判断第i行第j列的像素对应的电压数据是否异常。4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述特征值为平均值或者加权平均值。5.根据权利要求3或4所述的方法,其特征在于,所述根据第i行第j列的像素对应的电压数据与所述特征值,判断第i行第j列的像素对应的电压数据是否异常包括:判断第i行第j列的像素对应的电压数据与所述特征值的差值是否大于第二阈值差值,若第i行第j列的像素对应的电压数据与所述特征值的差值大于第二阈值差值,则第i行第j列的像素对应的电压数据异常。6.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,所述第二阈值差值为特征值的K倍,其中,0.1≤K≤0.2。7.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,所述对第i行第j列的像素对应的电压数据进行滤波处理包括:将第i行第j列的像素对应的电压数据修改为所述特征值。8.根据权利要求7所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:存储修改后的第i行相邻n列的像素对应的电压数...

【专利技术属性】
技术研发人员:韦晓龙鲍文超何敏
申请(专利权)人:京东方科技集团股份有限公司合肥鑫晟光电科技有限公司
类型:发明
国别省市:北京,11

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