仪器的校准制造技术

一种装置，可以使用第一光源的光确定用于光谱仪的校准值；在确定校准值之后，停用第一光源；基于校准值进行关于样品的测量，其中使用第二光源的光进行样品的测量；确定要更新校准值；并且使用来自第一光源的光更新校准值。

【技术实现步骤摘要】
仪器的校准
技术介绍
光谱仪可以进行透射光谱检查。在透射光谱检查中，光穿过样品并与未穿过样品的光比较。该比较可以提供基于路径长度或样品厚度、样品的吸收系数、样品的反射率、入射角、入射辐射的偏振以及对于颗粒物质的粒度尺寸和取向的信息。
技术实现思路
根据一些可行的实施例，由装置进行的方法可以包括：使用来自第一光源的光确定用于光谱仪的校准值；在确定所述校准值之后，停用所述第一光源；基于所述校准值并且在停用所述第一光源之后执行样品的测量，其中所述样品的测量使用来自第二光源的光进行；确定要更新所述校准值；基于确定要更新所述校准值而激活所述第一光源；并且在激活第一光源之后，使用来自第一光源的光更新所述校准值。根据一些可行的实施例，装置可以包括：存储器；和联接到所述存储器的一个或多个处理器，所述存储器和所述一个或多个处理器配置成：使用从光谱仪的第一光源反射到光谱仪的传感器的光确定用于光谱仪的校准值，并且其中所述光从所述光谱仪的扩散器反射到所述传感器；在确定所述校准值之后，停用所述第一光源；基于所述校准值并且在停用第一光源之后进行样品的测量，其中使用经由所述扩散器接收到的来自第二光源的光进行所述样品的测量；本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.通过装置进行的方法，包括：使用来自第一光源的光确定用于光谱仪的校准值，其中所述第一光源在所述光谱仪的内部；在确定所述校准值之后，停用所述第一光源；基于所述校准值并且在停用所述第一光源之后执行样品的测量，其中使用来自第二光源的光进行所述样品的测量；确定要更新所述校准值；基于确定要更新所述校准值而激活所述第一光源；并且在激活所述第一光源之后，使用来自所述第一光源的光更新所述校准值。

【技术特征摘要】
2017.04.26 US 62/490,445;2018.03.27 US 15/937,1771.通过装置进行的方法，包括：使用来自第一光源的光确定用于光谱仪的校准值，其中所述第一光源在所述光谱仪的内部；在确定所述校准值之后，停用所述第一光源；基于所述校准值并且在停用所述第一光源之后执行样品的测量，其中使用来自第二光源的光进行所述样品的测量；确定要更新所述校准值；基于确定要更新所述校准值而激活所述第一光源；并且在激活所述第一光源之后，使用来自所述第一光源的光更新所述校准值。2.根据权利要求1所述的方法，其中来自所述第一光源的光从所述光谱仪的扩散器反射到所述光谱仪的传感器。3.根据权利要求2所述的方法，其中来自所述第二光源的光经由所述扩散器传输到所述传感器。4.根据权利要求1所述的方法，其中停用所述第二光源，以确定或更新所述校准值。5.根据权利要求1所述的方法，其中所述第二光源在所述光谱仪的外部。6.根据权利要求1所述的方法，其中所述校准值是第一校准值，并且其中所述方法还包括：在所述第一光源和所述第二光源处于停用的同时，确定第二校准值，其中基于所述第二校准值进行所述测量。7.根据权利要求1所述的方法，其中在无所述光谱仪的机械部件的操作的情况下，确定所述校准值和更新所述校准值。8.根据权利要求1所述的方法，其中在不中断所述样品的流动状态的情况下，确定所述校准值和更新所述校准值。9.一种装置，包括：存储器；和一个或多个处理器，所述一个或多个处理器联接到所述存储器，并且所述存储器和所述一个或多个处理器配置成：使用从所述光谱仪的第一光源反射到所述光谱仪的传感器的光确定用于所述光谱仪的校准值，其中所述光从所述光谱仪的扩散器反射到所述传感器；在确定所述校准值之后，停用所述第一光源；基于所述校准值并且在停用所述第一光源之后，进行样品的测量，其中使用经由所述扩散器接收到的来自第二光源的光进行所述样品的测量；确定要更新所述校准值；基于确定要更新所述校...

【专利技术属性】
技术研发人员：CR鲁斯卡，
申请(专利权)人：唯亚威通讯技术有限公司，
类型：发明
国别省市：美国,US