受反射影响的红外测温修正方法、装置、设备及存储介质制造方法及图纸

本申请公开了一种受反射影响的红外测温修正方法、装置、设备及存储介质，该方法包括：在相对固定的场景下进行测温时，采用双光融合法同时采集红外图像和可见光图像；在整个测温周期中记录基准红外图像；对采集到的所述可见光图像进行图像区域分割；将所述可见光图像中分割后的区域在所述基准红外图像中判定区域内的一致性；根据区域一致性的判定结果，对所述红外图像中对应的区域内受反射影响产生的灰度值变化进行修正。本申请使用普通摄像头采集可见光数据，通过算法层面进行了反射影响的修正，解决了因为被测物体表面反射其他物体的红外线造成测温偏差的问题，减少反射现象对测温的影响，方法简单快捷且准确率高。

Infrared thermometer correction method, device, equipment and storage medium affected by reflection

This application discloses an infrared temperature measurement correction method, device, equipment and storage medium affected by reflection. The method includes: acquiring infrared image and visible image simultaneously by dual-light fusion method when measuring temperature in relatively fixed scenes; recording reference infrared image in the whole temperature measurement period; and acquiring the infrared image by dual-light fusion method. The visible image is segmented into image regions; the region segmented from the visible image is determined to be consistent within the region in the reference infrared image; and the gray value changes caused by reflection in the corresponding region in the infrared image are corrected according to the result of the region consistency determination. This application uses a common camera to collect visible light data, and corrects the reflection effect through the algorithm level. It solves the problem of temperature measurement deviation caused by the infrared reflection of other objects on the surface of the measured object, and reduces the influence of reflection phenomenon on temperature measurement. The method is simple, fast and has high accuracy.

【技术实现步骤摘要】
受反射影响的红外测温修正方法、装置、设备及存储介质
本专利技术涉及红外测温
，特别是涉及一种受反射影响的红外测温修正方法、装置、设备及存储介质。
技术介绍
发射率表示物体的红外辐射的发射能力，反射率表示物体对射入到其上的红外辐射的反射能力，发射率和反射率的和为1。除了理想黑体的发射率为1，反射率为0，其他一般物体对于红外辐射都有一定的反射能力，因此红外热像仪接受到目标物体的红外辐射由目标本身发射的红外线和反射其他物体的红外线组成，尤其对于光洁度比较高的物体表面，反射率比较高，因此利用红外测温时会产生偏差，当反射相对高温度的物体时，测到目标物体的温度比其实际温度偏高，当反射相对低温度的物体时，测到目标物体的温度比起实际温度偏低。而目前红外测温中温度修正的方法都是从发射率的方面进行修正，例如使用额外的发射率测定仪测定物体的发射率，或者采用一定的图像目标识别方法识别当前目标物体从而根据材质查找其发射率，或者根据多光谱下图像灰度的情况推断其发射率，然后作发射率修正，推算出物体目标的实际温度。这些修正都没有考虑反射的影响，在环境比较复杂的测温场景下反射会造成相当大的测温偏差。因此，如何解决因为被测物体表面反射其他物体的红外线造成测温偏差的问题，是本领域技术人员亟待解决的技术问题。
技术实现思路
有鉴于此，本专利技术的目的在于提供一种受反射影响的红外测温修正方法、装置、设备及存储介质，解决了因为被测物体表面反射其他物体的红外线造成测温偏差的问题，方法简单快捷且准确率高。其具体方案如下：一种受反射影响的红外测温修正方法，包括：在相对固定的场景下进行测温时，采用双光融合法同时采集红外图像和可见光图像；在整个测温周期中记录基准红外图像；对采集到的所述可见光图像进行图像区域分割；将所述可见光图像中分割后的区域在所述基准红外图像中判定区域内的一致性；根据区域一致性的判定结果，对所述红外图像中对应的区域内受反射影响产生的灰度值变化进行修正。优选地，在本专利技术实施例提供的上述受反射影响的红外测温修正方法中，将所述可见光图像中分割后的区域在所述基准红外图像中判定区域内的一致性，具体包括：判断所述可见光图像中分割后的区域在所述基准红外图像中对应的区域内灰度值是否一致；若是，则判定所述可见光图像中所述区域是一致性区域；若否，则判定所述可见光图像中所述区域不是一致性区域。优选地，在本专利技术实施例提供的上述受反射影响的红外测温修正方法中，根据区域一致性的判定结果，对所述红外图像中对应的区域内受反射影响产生的灰度值变化进行修正，具体包括：当所述区域内被判定一致时，判定所述红外图像中对应的区域内灰度值是否大于阈值；若是，则判定是所述区域内部分图像受到反射影响；在所述区域内通过形态学运算修复受反射影响的部分图像的实际灰度，得到修正反射影响后的测温数据。优选地，在本专利技术实施例提供的上述受反射影响的红外测温修正方法中，所述阈值是对所述区域内的灰度值做直方图统计，根据大部分图像灰度值分布的数值区间而确定的。优选地，在本专利技术实施例提供的上述受反射影响的红外测温修正方法中，在整个测温周期中记录基准红外图像，具体包括：在整个测温周期中自动记录环境温度最低或反射影响最小时刻的图像温度数据，或者人为设定某种情景的图像温度数据，作为基准红外图像。本专利技术实施例还提供了一种受反射影响的红外测温修正装置，包括：图像采集模块，用于在相对固定的场景下进行测温时，采用双光融合法同时采集红外图像和可见光图像；基准图像记录模块，用于在整个测温周期中记录基准红外图像；图像区域分割模块，用于对采集到的所述可见光图像进行图像区域分割；一致性判定模块，用于将所述可见光图像中分割后的区域在所述基准红外图像中判定区域内的一致性；数据修正模块，用于根据区域一致性的判定结果，对所述红外图像中对应的区域内受反射影响产生的灰度值变化进行修正。优选地，在本专利技术实施例提供的上述受反射影响的红外测温修正装置中，所述一致性判定模块，具体用于判断所述可见光图像中分割后的区域在所述基准红外图像中对应的区域内灰度值是否一致；若是，则判定所述可见光图像中所述区域内是一致性区域；若否，则判定所述可见光图像中所述区域不是一致性区域。优选地，在本专利技术实施例提供的上述受反射影响的红外测温修正装置中，所述数据修正模块，具体用于当所述区域内被判定一致时，判定所述红外图像中对应的区域内灰度值是否大于阈值；若是，则判定是所述区域内部分图像受到反射影响；在所述区域内通过形态学运算修复受反射影响的部分图像的实际灰度，得到修正反射影响后的测温数据。本专利技术实施例还提供了一种受反射影响的红外测温修正设备，包括处理器和存储器，其中，所述处理器执行所述存储器中保存的计算机程序时实现如本专利技术实施例提供的上述受反射影响的红外测温修正方法。本专利技术实施例还提供了一种计算机可读存储介质，用于存储计算机程序，其中，所述计算机程序被处理器执行时实现如本专利技术实施例提供的上述受反射影响的红外测温修正方法。本专利技术所提供的一种受反射影响的红外测温修正方法、装置、设备及存储介质，该方法包括：在相对固定的场景下进行测温时，采用双光融合法同时采集红外图像和可见光图像；在整个测温周期中记录基准红外图像；对采集到的所述可见光图像进行图像区域分割；将所述可见光图像中分割后的区域在所述基准红外图像中判定区域内的一致性；根据区域一致性的判定结果，对所述红外图像中对应的区域内受反射影响产生的灰度值变化进行修正。本专利技术使用普通摄像头采集可见光数据，通过算法层面进行了反射影响的修正，解决了因为被测物体表面反射其他物体的红外线造成测温偏差的问题，减少反射现象对测温的影响，方法简单快捷且准确率高。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据提供的附图获得其他的附图。图1为本专利技术实施例提供的受反射影响的红外测温修正方法的流程图；图2为本专利技术实施例提供的受反射影响的红外测温修正装置的结构示意图。具体实施方式下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。本专利技术提供一种受反射影响的红外测温修正方法，如图1所示，包括以下步骤：S101、在相对固定的场景下进行测温时，采用双光融合法同时采集红外图像和可见光图像；需要注意的是，本专利技术是在“相对固定的场景下”进行测温，因为那种手持测温场景一致在变化是没法进行修正的，本专利技术是针对一直对着一个位置的那种固定测温的场景；S102、在整个测温周期中记录基准红外图像；S103、对采集到的所述可见光图像进行图像区域分割；S104、将所述可见光图像中分割后的区域在所述基准红外图像中判定区域内的一致性；S105、根据区域一致性的判定结果，对所述红外图像中对应的区域内受反射影响产生的灰度值变化进行修正。在本专利技术实施例提供的上述受反射影响的红外测温修正方法中，首先采在相对本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种受反射影响的红外测温修正方法，其特征在于，包括：在相对固定的场景下进行测温时，采用双光融合法同时采集红外图像和可见光图像；在整个测温周期中记录基准红外图像；对采集到的所述可见光图像进行图像区域分割；将所述可见光图像中分割后的区域在所述基准红外图像中判定区域内的一致性；根据区域一致性的判定结果，对所述红外图像中对应的区域内受反射影响产生的灰度值变化进行修正。

【技术特征摘要】
1.一种受反射影响的红外测温修正方法，其特征在于，包括：在相对固定的场景下进行测温时，采用双光融合法同时采集红外图像和可见光图像；在整个测温周期中记录基准红外图像；对采集到的所述可见光图像进行图像区域分割；将所述可见光图像中分割后的区域在所述基准红外图像中判定区域内的一致性；根据区域一致性的判定结果，对所述红外图像中对应的区域内受反射影响产生的灰度值变化进行修正。2.根据权利要求1所述的受反射影响的红外测温修正方法，其特征在于，将所述可见光图像中分割后的区域在所述基准红外图像中判定区域内的一致性，具体包括：判断所述可见光图像中分割后的区域在所述基准红外图像中对应的区域内灰度值是否一致；若是，则判定所述可见光图像中所述区域是一致性区域；若否，则判定所述可见光图像中所述区域不是一致性区域。3.根据权利要求2所述的受反射影响的红外测温修正方法，其特征在于，根据区域一致性的判定结果，对所述红外图像中对应的区域内受反射影响产生的灰度值变化进行修正，具体包括：当所述区域内被判定一致时，判定所述红外图像中对应的区域内灰度值是否大于阈值；若是，则判定是所述区域内部分图像受到反射影响；在所述区域内通过形态学运算修复受反射影响的部分图像的实际灰度，得到修正反射影响后的测温数据。4.根据权利要求3所述的受反射影响的红外测温修正方法，其特征在于，所述阈值是对所述区域内的灰度值做直方图统计，根据大部分图像灰度值分布的数值区间而确定的。5.根据权利要求1所述的受反射影响的红外测温修正方法，其特征在于，在整个测温周期中记录基准红外图像，具体包括：在整个测温周期中自动记录环境温度最低或反射影响最小时刻的图像温度数据，或者人为设定某种...

【专利技术属性】
技术研发人员：张南，张勇，
申请(专利权)人：合肥英睿系统技术有限公司，
类型：发明
国别省市：安徽,34