定位上样系统技术方案

本实用新型专利技术提供了一种定位上样系统，该系统包括：定位装置、上样装置和放样装置；其中，定位装置的第一支撑面倾斜设置，以使毛坯试样沿倾斜的第一支撑面下滑并与设置于第一支撑面上的第一定位机构对齐；上样装置设置于靠近第一定位机构的位置，用于拾取与第一定位机构对齐的毛坯试样；放样装置设置于上样装置的侧方，用于存放毛坯试样。本实用新型专利技术中，在毛坯试样被加工之前，上样装置将毛坯试样放置在定位装置的第一支撑面上，毛坯试样可沿倾斜的第一支撑面下滑并与第一定位机构对齐，从而使每个毛坯试样被上样装置抓取并放置在操作台上的位置、形态是一致的，无需再对各毛坯试样进行精确定位摆放，节省了时间和人力，提高了工作效率。

Positioning sampling system

The utility model provides a positioning and sampling system, which comprises a positioning device, a sampling device and a lofting device, wherein the first supporting surface of the positioning device is inclined to make the blank sample slide along the inclined first supporting surface and align with the first positioning mechanism on the first supporting surface, and the sampling device is arranged. It is placed near the first positioning mechanism for picking up blank samples aligned with the first positioning mechanism, and the lofting device is set on the side of the sampling device for storing blank samples. In the utility model, before the blank sample is processed, the sampling device places the blank sample on the first supporting surface of the positioning device, and the blank sample can slide along the inclined first supporting surface and align with the first positioning mechanism, so that each blank sample can be grasped by the sampling device and placed on the position and shape of the operating table. It saves time and manpower, and improves work efficiency.

【技术实现步骤摘要】
定位上样系统
本技术涉及机械加工
，具体而言，涉及一种定位上样系统。
技术介绍
目前，在毛坯试样的加工过程中，为了节省时间和提高工作效率，通常使用机器对毛坯试样进行抓取。而毛坯试样在被抓取前通常是呈杂乱无序摆放的，这就导致机器可能会一次性抓取多个毛坯试样，且这些毛坯试样被放置在操作台上时呈现不同的位置形态，因此，还需要人工对这些毛坯试样进行摆放，以使毛坯试样的位置形态一致，以便后续的加工操作，这势必会降低工作效率，同时也会占用过多的人工资源
技术实现思路
鉴于此，本技术提出了一种定位上样系统，旨在解决目前采在机器抓取毛坯试样前毛坯试样杂乱无序的问题。本技术提出了一种定位上样系统，该系统包括：定位装置、上样装置和放样装置；其中，定位装置的第一支撑面倾斜设置，以使毛坯试样沿倾斜的第一支撑面下滑并与设置于第一支撑面上的第一定位机构对齐；上样装置设置于靠近第一定位机构的位置，用于拾取与第一定位机构对齐的毛坯试样；放样装置设置于上样装置的侧方，用于存放毛坯试样。进一步地，上述定位上样系统中，第一定位机构包括：第一定位边和第二定位边；其中，第一定位边和第二定位边分别设置于第一支撑面的相邻的两条边，并且，第一定位边与第二定位边呈第一夹角设置。进一步地，上述定位上样系统中，第一定位边的一端和第二定位边的一端均位于第一支撑面的最低点。进一步地，上述定位上样系统中，第一定位机构包括：第一减摩擦机构，其设置于第一支撑面，以在毛坯试样下滑时减小毛坯试样受到的摩擦力。进一步地，上述定位上样系统中，第一减摩擦机构包括：多个滚珠，第一支撑面开设有多个孔，每个孔内均放置有一个滚珠，并且，各滚珠均可在相对应的孔中滚动。进一步地，上述定位上样系统中，上样装置包括：机械臂和吸盘组件；其中，机械臂设置于定位装置的侧方，用于进行旋转；吸盘组件与机械臂的顶端相连接，用于吸取对齐后的毛坯试样。进一步地，上述定位上样系统中，放样装置包括：支撑机构和第二定位机构；其中，支撑机构的第二支撑面朝向第一方向倾斜，以使毛坯试样沿倾斜的第二支撑面下滑；第二定位机构与支撑机构相连接，并且，第二定位机构设置于第二支撑面的倾斜方向，以使下滑至第二支撑面的最低处的毛坯试样的边与第二定位机构对齐。进一步地，上述定位上样系统中，第二定位机构包括：第三定位边和第四定位边；其中，第三定位边和第四定位边分别设置于第二支撑面的相邻的两条边，并且，第三定位边与第四定位边呈第二夹角设置。进一步地，上述定位上样系统，放样装置还包括：第二减摩擦机构，其设置于第二支撑面，以在毛坯试样下滑时减小毛坯试样受到的摩擦力。进一步地，上述定位上样系统中，在支撑机构还设置有与第二支撑面并列设置的的第三支撑面，其朝向第二方向倾斜，并且，第二方向和第一方向为两个相反的方向。本技术中，在毛坯试样被加工之前，上样装置将毛坯试样放置在定位装置的第一支撑面上，毛坯试样可沿倾斜的第一支撑面下滑，并在下滑至第一支撑面的最低点时，毛坯试样的边与第一定位机构对齐，从而使每个毛坯试样在被上样装置上样加工前的位置、形态一致，则每个毛坯试样被上样装置抓取并放置在操作台上的位置、形态也是一致的，也就无需再对各毛坯试样进行精确定位摆放，节省了时间和人力，提高了工作效率；尤其是，放样装置设置有第二定位机构，毛坯试样首先经过第二定位机构的一次粗略定位，再经过第一定位机构的二次精确定位，可有效地在毛坯试样加工之前对毛坯试样进行精准的定位。附图说明通过阅读下文优选实施方式的详细描述，各种其他的优点和益处对于本领域普通技术人员将变得清楚明了。附图仅用于示出优选实施方式的目的，而并不认为是对本技术的限制。而且在整个附图中，用相同的参考符号表示相同的部件。在附图中：图1为本技术实施例提供的定位上样系统的结构示意图；图2为本技术实施例提供的定位上样系统中，定位装置的结构示意图；图3为本技术实施例提供定位上样系统中，吸盘组件的立体结构示意图；图4为本技术实施例提供定位上样系统中，吸盘组件的侧视图；图5为本技术实施例提供定位上样系统中，吸盘组件的主视图；图6为本技术实施例提供定位上样系统中，上样装置的结构示意图。具体实施方式下面将参照附图更详细地描述本公开的示例性实施例。虽然附图中显示了本公开的示例性实施例，然而应当理解，可以以各种形式实现本公开而不应被这里阐述的实施例所限制。相反，提供这些实施例是为了能够更透彻地理解本公开，并且能够将本公开的范围完整的传达给本领域的技术人员。需要说明的是，在不冲突的情况下，本技术中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。下面将参考附图并结合实施例来详细说明本技术。参见图1，图中示出了本实施例提供的定位上样系统的优选结构。如图所示，该系统包括：定位装置1、上样装置2和放样装置3。其中，定位装置1具有第一支撑面，该第一支撑面朝向上样装置2所在的方向倾斜，进而可以使位于第一支撑面上的毛坯试样沿着倾斜方向下滑。第一定位机构4设置于第一支撑面上，且设置于第一支撑面的倾斜的方向，从而使下滑至第一支撑面的最低点的毛坯试样的边与第一定位机构4对齐。上样装置2设置于靠近第一定位机构4的位置，以拾取与第一定位机构4对齐的毛坯试样。放样装置3设置于上样装置2的侧方，用于存放毛坯试样。工作时，上样装置2先从放样装置3上拾取毛坯试样，并将毛坯试样放置于定位装置1上，以使毛坯试样与第一定位机构4对齐，即对毛坯试样进行定位，然后上样装置2拾取与第一定位机构4对齐的毛坯试样，并将定位后的毛坯试样放置于下一工位。具体实施时，放样装置3可以为多个，分别设置于上样装置2的两侧，实际应用中可以预留一个放样装置3用于存放异常毛坯试样。本实施例中，在毛坯试样被加工之前，上样装置2将毛坯试样放置在定位装置1的第一支撑面上，毛坯试样可沿倾斜的第一支撑面下滑，并在下滑至第一支撑面的最低点时，毛坯试样的边与第一定位机构4对齐，从而使每个毛坯试样在被上样装置2上样加工前的位置、形态一致，则每个毛坯试样被上样装置2抓取并放置在操作台上的位置、形态也是一致的，也就无需再对各毛坯试样进行精确定位摆放，节省了时间和人力，提高了工作效率。参见图2，图中示出了本实施例提供的定位装置的优选结构。如图所示，第一定位机构4可以包括：第一定位边41和第二定位边42。其中，第一定位边41和第二定位边42分别连接于第一支撑面的相邻的两条边上，并且，第一定位边41与第二定位边42呈第一夹角α设置，具体实施时，第一夹角α的角度与毛坯试样的相邻的两条边所呈的夹角相适应，例如，毛坯试样通常为方形，即毛坯试样的相邻的两条边所呈的夹角为90°，则第一夹角α也为90°，以对毛坯试样进行精准的定位。第一定位边41的一端和第二定位边42的一端在第一支撑面的最低点处交汇，即第一定位边41和第二定位边42在第一支撑面的最低处围设起来，以防止毛坯试样从第一支撑面上掉落。定位装置1还可以包括：第一支撑架11和第一支撑板12。其中，第一支撑板12位于第一支撑架11的上方且与第一支撑架11相连接，进而形成第一支撑面。第一支撑架11的一个方向的高度低于其他方向的高度，以使第一支撑板12朝向一方向倾斜。具体实施时，第一支撑架11可以包括：多个支撑杆111，本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种定位上样系统，其特征在于，包括：定位装置(1)、上样装置(2)和放样装置(3)；其中，定位装置(1)的第一支撑面倾斜设置，以使毛坯试样沿倾斜的所述第一支撑面下滑并与设置于所述第一支撑面上的第一定位机构(4)对齐；所述上样装置(2)设置于靠近所述第一定位机构(4)的位置，用于拾取与所述第一定位机构(4)对齐的所述毛坯试样；所述放样装置(3)设置于所述上样装置(2)的侧方，用于存放毛坯试样。

【技术特征摘要】
1.一种定位上样系统，其特征在于，包括：定位装置(1)、上样装置(2)和放样装置(3)；其中，定位装置(1)的第一支撑面倾斜设置，以使毛坯试样沿倾斜的所述第一支撑面下滑并与设置于所述第一支撑面上的第一定位机构(4)对齐；所述上样装置(2)设置于靠近所述第一定位机构(4)的位置，用于拾取与所述第一定位机构(4)对齐的所述毛坯试样；所述放样装置(3)设置于所述上样装置(2)的侧方，用于存放毛坯试样。2.根据权利要求1所述的定位上样系统，其特征在于，所述第一定位机构(4)包括：第一定位边(41)和第二定位边(42)；其中，所述第一定位边(41)和所述第二定位边(42)分别设置于所述第一支撑面的相邻的两条边，并且，所述第一定位边(41)与所述第二定位边(42)呈第一夹角设置。3.根据权利要求2所述的定位上样系统，其特征在于，所述第一定位边(41)的一端和所述第二定位边(42)的一端均位于所述第一支撑面的最低点。4.根据权利要求1所述的定位上样系统，其特征在于，所述第一定位机构(4)包括：第一减摩擦机构(43)，其设置于所述第一支撑面，以在所述毛坯试样下滑时减小所述毛坯试样受到的摩擦力。5.根据权利要求4所述的定位上样系统，其特征在于，所述第一减摩擦机构(43)包括：多个滚珠(431)，所述第一支撑面开设有多个孔，每个所述孔内均放置有一个所述滚珠(431)，并且，各所述滚珠(431)均可在相对应的所述孔中滚动。6.根据权利要求1所述的定位上样系统，其特征在于，所述上样装置...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘波，王秀旗，谷峰，董强，魏建辉，石建锐，董永强，刘俊峰，黄建超，陈涛，张玉俏，
申请(专利权)人：天津泰格瑞祥仪器设备有限公司，
类型：新型
国别省市：天津,12