一种光学元件在线检测装置制造方法及图纸

技术编号:19364022 阅读:40 留言:0更新日期:2018-11-07 23:43
本实用新型专利技术一种光学元件在线检测装置公开了一种通过三棱柱进行光的色散使得光学穿过光学元件,通过对色散光进行观察判断元件各处厚度的检测在线装置,能够提高光学元件检测效率,其特征在于透明罩一端套置于底板上,且和底板组合形成箱体,所述底板表面附有一层白色薄膜,承托板覆盖置于透明罩另一端上,支撑底座置于承托板中部位置,旋转套置于承托板上,且和承托板共轴,承托板上周向开有多个放置孔,滑动杆一端套置于旋转套内,所述滑动杆沿轴向开有滑动槽,滑动套套置于滑动杆上,滑动臂置于滑动套上,且对应置于滑动槽内,光源置于滑动臂上,调节杆一端置于滑动套一侧,固定悬臂一端铰接置于调节杆另一端上,三棱镜置于固定悬臂上。

【技术实现步骤摘要】
一种光学元件在线检测装置
本技术一种光学元件在线检测装置,涉及一种在进行光学元件加工时,对加工完成的光学元件进行厚度检测的装置,属于光学检测领域。特别涉及一种通过三棱柱进行光的色散使得光学穿过光学元件,通过对色散光进行观察判断元件各处厚度的检测在线装置。
技术介绍
目前,在进行光学元件制造时,需要对光学元件进行检测,光学元件的镜片厚度要求对光的传递影响较大,光学元件在加工抛磨时,厚度的控制要求较高,现有的对厚度的检测分为接触式和非接触式的,接触式的采用千分尺等工具进行多点测量,接触式的检测需要和光学元件表面贴合接触,会导致元件表面划伤,影响光学元件表面质量,且采点范围有限,不能进行全面的厚度检测,且检测速度慢,而非接触的测量方法,通过成像法和激光扫描法,系统结构比较复杂,造成误差来源较多,测量速度较慢,难以有效提高测量质量。公开号CN205561770U高公开了透镜厚度检测装置。透镜厚度检测装置,包括基座、探测头、待测台、检测器,探测头和待测台安装在基座上,待测台设于探测头正下方,探测头连接检测器,探测头包括光源,光源设于探测头上方,基座包括焦距调节装置,焦距调节装置连接探测头,光源本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种光学元件在线检测装置,其特征是:由滑动杆、支撑底座、透明罩、底板、承托板、元件放置孔、旋转套、固定悬臂、三棱镜、调节杆、光源、滑动臂、滑动套和滑动槽组成,透明罩一端套置于底板上,且和底板组合形成箱体,承托板覆盖置于透明罩另一端上,支撑底座置于承托板中部位置,旋转套置于承托板上,且和承托板共轴,承托板上周向开有多个放置孔,滑动杆一端套置于旋转套内,所述滑动杆沿轴向开有滑动槽,滑动套套置于滑动杆上,滑动臂置于滑动套上,且对应置于滑动槽内,光源置于滑动臂上,调节杆一端置于滑动套一侧,固定悬臂一端铰接置于调节杆另一端上,三棱镜置于固定悬臂上。

【技术特征摘要】
1.一种光学元件在线检测装置,其特征是:由滑动杆、支撑底座、透明罩、底板、承托板、元件放置孔、旋转套、固定悬臂、三棱镜、调节杆、光源、滑动臂、滑动套和滑动槽组成,透明罩一端套置于底板上,且和底板组合形成箱体,承托板覆盖置于透明罩另一端上,支撑底座置于承托板中部位置,旋转套置于承托板上,且和承托板共轴,承托板上周向开有...

【专利技术属性】
技术研发人员:王帅
申请(专利权)人:武汉美加壹投资咨询有限责任公司
类型:新型
国别省市:湖北,42

相关技术
    暂无相关专利
网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1