一种批量检测RAID卡健康状态的测试方法及系统技术方案

本发明专利技术提供了一种批量检测RAID卡健康状态的测试方法及系统，均基于预先设定的用于检测用于反映RAID卡各零组件的健康状态的参数的值的零组件检测工具，且均基于零组件检测工具检测到的各相应参数的值以及预先设定的该各相应参数的参考阈值范围，判定并得出各待测测试机内RAID卡的健康状态，整个测试过程只需一台主控测试机、其他通过软件实现，避免了串口工具及RAID卡通信的使用，既能降低测试成本，又能解放测试人力。

A test method and system for batch detection of RAID card health status

The invention provides a test method and system for batch detection of the health status of RAID cards, which are based on a pre-set component detection tool for detecting the values of the parameters used to reflect the health status of the components of RAID cards, and are based on the values of the corresponding parameters detected by the component detection tool and the pre-set ones. The reference threshold range of the corresponding parameters is used to determine and obtain the health status of RAID cards in each test machine. The whole test process only needs one master test machine and other software to realize. The use of serial port tools and RAID card communication is avoided, which can not only reduce the test cost, but also liberate the test manpower.

【技术实现步骤摘要】
一种批量检测RAID卡健康状态的测试方法及系统
本专利技术涉及RAID健康状态检测领域，具体是一种批量检测RAID卡健康状态的测试方法及系统。
技术介绍
RAID是英文RedundantArrayofIndependentDisks的缩写，翻译成中文即为独立磁盘冗余阵列，或简称磁盘阵列。RAID卡是用来实现RAID功能的板卡，其通常是由I/O处理器、硬盘控制器、硬盘连接器、缓存和内存颗粒等一系列零组件以及一系列相应的软件控制程序构成的，可以让很多磁盘驱动器同时传输数据，是存储子系统的心脏，其健康状态与存储子系统的性能和稳定性密切相关。然而现有技术中用于检测RAID卡健康状态的技术方案，基本都是需要串口工具和RAID卡通信来发布命令进行测试的，必须手动进行且无法批量测试，测试步骤繁琐此为现有技术的不足之处。本专利技术提供了一种批量检测RAID卡健康状态的测试方法，用于批量检测RAID卡的健康状态，并用于解放人力、简化测试以及降低测试成本。
技术实现思路
本专利技术所要解决的技术问题是，提供一种批量检测RAID卡健康状态的测试方法及系统，用于批量检测RAID卡的健康状态，并用于解放人力、简化测试以及降低测试成本。为解决上述技术问题，本专利技术提供了一种批量检测RAID卡健康状态的测试方法，该方法基于预先设定的用于检测用于反映RAID卡各零组件的健康状态的参数的值的零组件检测工具，该测试方法包括步骤：分别获取当前各待测测试机的IP地址；基于上述获取到的各IP地址，将所述的零组件检测工具和用于基于所述零组件检测工具的检测值测试RAID卡各零组件的健康状态的测试程序均发送至各相应的待测测试机；基于上述获取到的IP地址，对应获取各相应待测测试机的root权限，并对应控制各待测测试机内测试程序和零组件检测工具运行；各测试程序分别基于其对应零组件检测工具检测到的各相应参数的值以及预先设定的上述各相应参数的参考阈值范围，判定得出各待测测试机内RAID卡的健康状态。进一步地，所述RAID卡的零组件包括RAID卡的缓冲存储器和内存颗粒。进一步地，该方法在各测试程序分别基于其对应零组件检测工具检测到的各相应参数的值以及预先设定的上述各相应参数的参考阈值范围，判定得出各待测测试机内RAID卡的健康状态之前，还包括步骤：检测当前待测测试机内RAID卡的数量，并在检测到当前待测测试机内RAID卡的数量大于1时，遍历所述的RAID卡，并分别基于当前待测测试机内的零组件检测工具检测到的相应参数的值以及预先设定的该相应参数的参考阈值范围，判定并获取该当前待测测试机内RAID卡的健康状态。该测试方法在各测试程序分别基于其对应零组件检测工具检测到的各相应参数的值以及预先设定的上述各相应参数的参考阈值范围，判定得出各待测测试机内RAID卡的健康状态时，还包括步骤：各测试程序分别抓取其所在待测测试机的系统日志和RAID卡日志，并分别通过关键字分析法，进一步判定各待测测试机内RAID卡的健康状态。另外，本专利技术还提供了一种批量检测RAID卡健康状态的测试系统，该系统基于预先设定的用于检测用于反映RAID卡各零组件的健康状态的参数的值的零组件检测工具，包括：IP地址采集单元，用于获取当前各待测测试机的IP地址；数据传输单元，用于基于上述IP地址采集单元获取到的各IP地址，将所述的零组件检测工具和用于基于所述零组件检测工具的检测值测试RAID卡各零组件的健康状态的测试程序均发送至各相应的待测测试机；启动单元，分别与所述的IP地址采集单元和数据传输单元相连，用于基于IP地址采集单元获取到的各IP地址，对应获取各相应待测测试机的root权限，并对应控制各待测测试机内测试程序和零组件检测工具运行；健康状态判定单元，应用于待测测试机，包括所述的测试程序，其用于基于该所述的测试程序，调取零组件检测工具检测到的各相应参数的值、依据调取到的参数的值以及预先设定的上述各相应参数的参考阈值范围、以及判定并得出各待测测试机内RAID卡的健康状态。其中，在该批量检测RAID卡健康状态的测试系统中，所述RAID卡的零组件包括RAID卡的缓冲存储器和内存颗粒。进一步地，所述的健康状态判定单元在其基于相应的零组件检测工具检测到的各相应参数的值以及预先设定的上述各相应参数的参考阈值范围，判定得出各待测测试机内RAID卡的健康状态之前，还用于检测当前待测测试机内RAID卡的数量，并用于在检测到当前待测测试机内RAID卡的数量大于1时，遍历所述的RAID卡，并分别基于当前待测测试机内的零组件检测工具检测到的相应参数的值以及预先设定的该相应参数的参考阈值范围，判定并获取该当前待测测试机内RAID卡的健康状态。所述的健康状态判定单元，基于其测试程序，还分别用于抓取其所在待测测试机的系统日志和RAID卡日志，并分别用于通过关键字分析法，进一步判定各待测测试机内RAID卡的健康状态。与现有技术相比，本专利技术的优点在于：（1）本专利技术所述的批量检测RAID卡健康状态的测试方法及系统，均基于预先设定的用于检测用于反映RAID卡各零组件的健康状态的参数的值的零组件检测工具，且均基于零组件检测工具检测到的各相应参数的值以及预先设定的该各相应参数的参考阈值范围，判定并得出各待测测试机内RAID卡的健康状态，整个测试过程只需一台主控测试机、其他通过软件实现，避免了串口工具及RAID卡通信的使用，可见降低了测试成本，便于推广使用。（2）本专利技术所述的批量检测RAID卡健康状态的测试方法及系统，均可批量进行测试机RAID卡健康状态的测试，解放了测试人力，适于大型机房定期检测维护等任务时使用，较为实用。由此可见，本专利技术与现有技术相比，具有突出的实质性特点和显著的进步，其实施的有益效果也是显而易见的。附图说明图1为本专利技术所述批量检测RAID卡健康状态的测试方法的方法流程示意图。具体实施方式为使本专利技术的技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图，对本专利技术的技术方案进行清楚、完整地描述。图1为本专利技术所述批量检测RAID卡健康状态的测试方法的一种具体实施方式。在本实施方式中，批量检测RAID卡健康状态的测试方法，该方法基于预先设定的用于检测用于反映RAID卡各零组件的健康状态的参数的值的零组件检测工具，该测试方法包括步骤s1-s4。在本实施方式中，所述的零组件检测工具，可以直接采用特定RAID卡生产厂家的程序代码工具包，用于向外界（本申请中为本专利技术所述的批量检测RAID卡健康状态的测试方法）提供用于反映RAID卡各零组件的健康状态的参数的获取接口。步骤s1、分别获取当前各待测测试机的IP地址。该步骤s1的执行主体是主控测试机。主控测试机用作测试主控，用于控制各待测测试机的RAID卡的健康状态测试。在获取当前各待测测试机的IP地址之前，预先建立主控测试机与各待测测试机的网络连接，用于主控测试机获取当前各待测测试机的IP地址。步骤s2、基于上述获取到的各IP地址，将所述的零组件检测工具和用于基于所述零组件检测工具的检测值测试RAID卡各零组件的健康状态的测试程序均发送至各相应的待测测试机。在主控测试机基于上述获取到的各IP地址，将所述的零组件检测工具和用于基于所述零组件检测工具的检测值测试RAID卡各零组件的健康状态的测试程序均发送至各相本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种批量检测RAID卡健康状态的测试方法，其特征在于，该方法基于预先设定的用于检测用于反映RAID卡各零组件的健康状态的参数的值的零组件检测工具，该测试方法包括步骤：分别获取当前各待测测试机的IP地址；基于上述获取到的各IP地址，将所述的零组件检测工具和用于基于所述零组件检测工具的检测值测试RAID卡各零组件的健康状态的测试程序均发送至各相应的待测测试机；基于上述获取到的IP地址，对应获取各相应待测测试机的root权限，并对应控制各待测测试机内测试程序和零组件检测工具运行；各测试程序分别基于其对应零组件检测工具检测到的各相应参数的值以及预先设定的上述各相应参数的参考阈值范围，判定得出各待测测试机内RAID卡的健康状态。

【技术特征摘要】
1.一种批量检测RAID卡健康状态的测试方法，其特征在于，该方法基于预先设定的用于检测用于反映RAID卡各零组件的健康状态的参数的值的零组件检测工具，该测试方法包括步骤：分别获取当前各待测测试机的IP地址；基于上述获取到的各IP地址，将所述的零组件检测工具和用于基于所述零组件检测工具的检测值测试RAID卡各零组件的健康状态的测试程序均发送至各相应的待测测试机；基于上述获取到的IP地址，对应获取各相应待测测试机的root权限，并对应控制各待测测试机内测试程序和零组件检测工具运行；各测试程序分别基于其对应零组件检测工具检测到的各相应参数的值以及预先设定的上述各相应参数的参考阈值范围，判定得出各待测测试机内RAID卡的健康状态。2.根据权利要求1所述的批量检测RAID卡健康状态的测试方法，其特征在于，进一步地，所述RAID卡的零组件包括RAID卡的缓冲存储器和内存颗粒。3.根据权利要求1或2所述的批量检测RAID卡健康状态的测试方法，其特征在于，进一步地，该方法在各测试程序分别基于其对应零组件检测工具检测到的各相应参数的值以及预先设定的上述各相应参数的参考阈值范围，判定得出各待测测试机内RAID卡的健康状态之前，还包括步骤：检测当前待测测试机内RAID卡的数量，并在检测到当前待测测试机内RAID卡的数量大于1时，遍历所述的RAID卡，并分别基于当前待测测试机内的零组件检测工具检测到的相应参数的值以及预先设定的该相应参数的参考阈值范围，判定并获取该当前待测测试机内RAID卡的健康状态。4.根据权利要求1或2所述的批量检测RAID卡健康状态的测试方法，其特征在于，该方法在各测试程序分别基于其对应零组件检测工具检测到的各相应参数的值以及预先设定的上述各相应参数的参考阈值范围，判定得出各待测测试机内RAID卡的健康状态时，还包括步骤：各测试程序分别抓取其所在待测测试机的系统日志和RAID卡日志，并分别通过关键字分析法，进一步判定各待测测试机内RAID卡的健康状态。5.一种批量检测RAID卡健康状态的测...

【专利技术属性】
技术研发人员：李超，
申请(专利权)人：郑州云海信息技术有限公司，
类型：发明
国别省市：河南,41