AP相似度确定方法、终端及计算机可读存储介质技术

本发明专利技术公开了一种AP相似度确定方法、终端及计算机可读存储介质，所述方法包括：确定相似度待确定的任意两个AP，分别获取所述任意两个AP的第一代表采样点集合和第二代表采样点集合；计算所述第一代表采样点集合中每个采样点与第二代表采样点集合中所有采样点之间的第一相似度，以获得所述第一代表采样点集合和第二代表采样点集合之间的第一相似度集合；获取所述第一相似度集合的算术平均值，将所述任意两个AP之间的第二相似度置为该算术平均值。本发明专利技术可实现任意两个AP之间的相似度计算，为实现楼宇AP网络分层提供依据。

【技术实现步骤摘要】
AP相似度确定方法、终端及计算机可读存储介质
本专利技术涉及无线通信
，尤其涉及一种AP相似度确定方法、终端及计算机可读存储介质。
技术介绍
现代城市无线WIFI网络应用越来越广泛，在建筑物室内都分布着数量不等的AP(Accesspoint无线接入点)网络设备，在室内定位
应用广泛。鉴于AP设备信号覆盖范围有限，且WIFI网络信号传播受环境影响较大，穿墙性能差，在钢筋混凝土楼面或墙体中信号衰减快，一栋楼宇的不同楼层往往都分布有数个AP设备，AP设备按楼层呈现出分层的特点。在进行室内定位时，需要获取待定位用户终端接入的AP设备，结合现有AP设备分组数据库中的室内AP设备安装位置及楼层，确定待定位用户的室内位置。在建立AP设备分组数据库时，需要对AP网络按楼层进行分层分析，此时，需要确定任意两个不同AP之间的相似度关系。
技术实现思路
本专利技术的主要目的在于提供一种AP相似度确定方法，旨在解决确定任意两个不同AP之间的相似度关系，以对AP网络进行分层分析的技术问题。为实现上述目的，本专利技术提供一种AP相似度确定方法，所述AP相似度确定方法包括：确定相似度待确定的任意两个AP，分别获取所述任意两个AP的第一代表采样点集合和第二代表采样点集合；计算所述第一代表采样点集合中每个采样点与第二代表采样点集合中所有采样点之间的第一相似度，以获得所述第一代表采样点集合和第二代表采样点集合之间的第一相似度集合；获取所述第一相似度集合的算术平均值，将所述任意两个AP之间的第二相似度置为该算术平均值。可选地，所述基于该AP列表分别获取任意两个AP的第一代表采样点集合和第二代表采样点集合的步骤包括：获取任一AP的所有采样点，以及该任一AP在其所有采样点处的对应信号强度；从所述任一AP所有采样点中确定对应信号强度满足预设场强范围的采样点集合，该采样点集合为所述任一AP的代表采样点集合。可选地，所述从所述任一AP所有采样点中确定对应信号强度满足预设场强范围的采样点集合，该采样点集合为所述任一AP的代表采样点集合的步骤包括：获取所述任一AP在其所有采样点处的所有信号强度值，获取其中信号强度值大于预设阈值的采样点集合，该采样点集合为所述任一AP的代表采样点集合；将所述预设阈值记为RSSI，所述任一AP记为APj，所述预设阈值的计算公式为：其中，α为采样点收到的AP连接的较强信号值门限，β为采样点收到的AP连接最强信号值的差值门限，为APj在所有采样点中的最强信号强度值。可选地，所述计算所述第一代表采样点集合中每个采样点与第二代表采样点集合中所有采样点之间的第一相似度的步骤包括：获取第一代表采样点集合中任意的第一采样点的第一信号面积和第二代表采样点集合中任意的第二采样点的第二信号面积；获取预设AP在所述第一采样点处的第一信号强度、在所述第二采样点处的第二信号强度，根据所述第一信号强度和第二信号强度确定第一采样点和第二采样点在预设AP处的信号重叠面积；根据所述第一信号面积、第二信号面积和信号重叠面积确定所述第一采样点与第二采样点之间的第一相似度。可选地，所述根据所述第一信号面积、第二信号面积和信号重叠面积确定所述第一采样点与第二采样点之间的第一相似度的步骤包括：将所述第一信号面积记为areax,第二信号面积记为areay，信号重叠面积记为Δareai，第一采样点记为Px，第二采样点记为Py，将第一采样点和第二采样点间的第一相似度记为r(Px,Py)；基于公式计算所述第一采样点与第二采样点之间的第一相似度。可选地，所述获取第一代表采样点集合中任意的第一采样点的第一信号面积和第二代表采样点集合中任意的第二采样点的第二信号面积的步骤包括：获取第一代表采样点集合中任意的第一采样点处可测得的所有第一AP网络及所述所有第一AP网络在第一采样点处的第一信号强度集合，将所述第一信号强度集合中所有第一信号强度之和作为第一信号面积；获取第二代表采样点集合中任意的第二采样点处可测得的所有第二AP网络及所述所有第二AP网络在第二采样点处的第二强度集合，将所述第二信号强度集合中所有第二信号强度之和作为第二信号面积。可选地，所述根据所述第一信号强度和第二信号强度确定第一采样点和第二采样点在预设AP处的信号重叠面积的步骤包括：将所述第一信号强度与第二信号强度相比较，确定其中信号强度较小的目标信号强度；获取所述目标信号强度与面积阈值的差值，将该差值置为第一采样点和第二采样点在预设AP处的信号重叠面积。可选地，所述确定相似度待确定的任意两个AP的步骤包括：获取相似度待确定的AP列表，基于该AP列表分别获取任意两个AP；所述获取相似度待确定的AP列表的步骤之前包括：获取目标采样点基础数据，所述目标采样点基础数据包括经纬度位置信息和采样点位置处检测到的AP网络及其信号强度；基于该目标采样点基础数据中的经纬度位置信息确定目标采样点所属目标楼宇；获取目标采样点基础数据中的目标AP网络及其信号强度，将所述目标AP网络添加至所述目标楼宇的AP列表。为实现上述目的，本专利技术还提供一种终端，所述终端包括：存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的AP相似度确定程序，所述AP相似度确定程序被所述处理器执行时实现如上述AP相似度确定方法所述的步骤。此外，为实现上述目的，本专利技术还提供一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有AP相似度确定程序，所述AP相似度确定程序被处理器执行时实现如上述AP相似度确定方法所述的步骤。本实施例通过提取代表相似度待确定的任意两个AP的采样点集合(即本实施例中的第一代表采样点集合/第二代表采样点集合)，以采样点集合之间(第一代表采样点集合和第二代表采样点集合之间)的采样点相似度的算术平均值来表示AP之间的相似度，实现任意两个AP之间相似度计算，进而为实现楼宇AP网络分层分组分析提供依据。附图说明图1是本专利技术实施例方案涉及的硬件运行环境的终端结构示意图；图2为本专利技术AP相似度确定方法第一实施例的流程示意图；图3为本专利技术AP相似度确定方法第一实施例中第一采样点的第一信号面积一实例示意图；图4为本专利技术AP相似度确定方法第一实施例中第一采样点和第二采样点在预设AP处的信号重叠面积一实例示意图；图5为本专利技术AP相似度确定方法中任一AP在各采样点处的信号强度分布一实例示意图。本专利技术目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。具体实施方式应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本专利技术，并不用于限定本专利技术。在后续的描述中，使用用于表示元件的诸如“模块”、“部件”或“单元”的后缀仅为了有利于本专利技术的说明，其本身没有特定的意义。因此，“模块”、“部件”或“单元”可以混合地使用。如图1所示，图1是本专利技术实施例方案涉及的硬件运行环境的终端结构示意图。如图1所示，该终端可以包括：处理器1001，例如CPU，网络接口1004，用户接口1003，存储器1005，通信总线1002。其中，通信总线1002用于实现这些组件之间的连接通信。用户接口1003可以包括显示屏(Display)、输入单元比如键盘(Keyboard)、触摸屏、摄像头(包括AR/VR设备)，可选用户接口1003还可以包括标准的有线接口、无线接口。网络接口1004可选的本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种AP相似度确定方法，其特征在于，所述AP相似度确定方法包括以下步骤：确定相似度待确定的任意两个AP，分别获取所述任意两个AP的第一代表采样点集合和第二代表采样点集合；计算所述第一代表采样点集合中每个采样点与第二代表采样点集合中所有采样点之间的第一相似度，以获得所述第一代表采样点集合和第二代表采样点集合之间的第一相似度集合；获取所述第一相似度集合的算术平均值，将所述任意两个AP之间的第二相似度置为该算术平均值。

【技术特征摘要】
1.一种AP相似度确定方法，其特征在于，所述AP相似度确定方法包括以下步骤：确定相似度待确定的任意两个AP，分别获取所述任意两个AP的第一代表采样点集合和第二代表采样点集合；计算所述第一代表采样点集合中每个采样点与第二代表采样点集合中所有采样点之间的第一相似度，以获得所述第一代表采样点集合和第二代表采样点集合之间的第一相似度集合；获取所述第一相似度集合的算术平均值，将所述任意两个AP之间的第二相似度置为该算术平均值。2.如权利要求1所述的AP相似度确定方法，其特征在于，所述基于该AP列表分别获取任意两个AP的第一代表采样点集合和第二代表采样点集合的步骤包括：获取任一AP的所有采样点，以及该任一AP在其所有采样点处的对应信号强度；从所述任一AP所有采样点中确定对应信号强度满足预设场强范围的采样点集合，该采样点集合为所述任一AP的代表采样点集合。3.如权利要求2所述的AP相似度确定方法，其特征在于，所述从所述任一AP所有采样点中确定对应信号强度满足预设场强范围的采样点集合，该采样点集合为所述任一AP的代表采样点集合的步骤包括：获取所述任一AP在其所有采样点处的所有信号强度值，获取其中信号强度值大于预设阈值的采样点集合，该采样点集合为所述任一AP的代表采样点集合；将所述预设阈值记为RSSI，所述任一AP记为APj，所述预设阈值的计算公式为：RSSI＝Max(α,max(rssi(APj)pi)-β)，其中，α为采样点收到的AP连接的较强信号值门限，β为采样点收到的AP连接最强信号值的差值门限，max(rssi(APj)pi)为APj在所有采样点中的最强信号强度值。4.如权利要求1所述的AP相似度确定方法，其特征在于，所述计算所述第一代表采样点集合中每个采样点与第二代表采样点集合中所有采样点之间的第一相似度的步骤包括：获取第一代表采样点集合中任意的第一采样点的第一信号面积和第二代表采样点集合中任意的第二采样点的第二信号面积；获取预设AP在所述第一采样点处的第一信号强度、在所述第二采样点处的第二信号强度，根据所述第一信号强度和第二信号强度确定第一采样点和第二采样点在预设AP处的信号重叠面积；根据所述第一信号面积、第二信号面积和信号重叠面积确定所述第一采样点与第二采样点之间的第一相似度。5.如权利要求4所述的AP相似度确定方法，其特征在于，所述根据所述第一信号面积、第二信号面积和信号重叠面积确定所述第一采样点与第二采样点之间...

【专利技术属性】
技术研发人员：张晨，
申请(专利权)人：深圳市名通科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：广东,44